近代自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)-在線瀏覽
2025-08-01 23:49本頁(yè)面
【正文】 Council 3 2 , 9 3 93 1 , 4 7 605 , 0 0 01 0 , 0 0 01 5 , 0 0 02 0 , 0 0 02 5 , 0 0 03 0 , 0 0 03 5 , 0 0 0市場(chǎng)規(guī)模:百萬(wàn)臺(tái)幣1997 1999 20xx 20xx 2 0 0 5 ( E )美國(guó)4 5 . 3 %日本3 2 . 2 %以色列7 . 7 %其他5 . 8 %德國(guó)5 . 5 %臺(tái)灣3 . 2 %韓國(guó)0 . 3 %美國(guó)3 9 . 2 %日本3 3 . 5 %以色列9 . 0 %德國(guó)7 . 0 %其他5 . 8 %韓國(guó)4 . 7 %臺(tái)灣0 . 7 %20xx年 20xx年 我國(guó)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模 預(yù)估 20xx年我國(guó)由韓國(guó)進(jìn)口設(shè)備將超過(guò) 20億臺(tái)幣佔(zhàn) % 資料來(lái)源：海關(guān)進(jìn)出口資料庫(kù)；工研院 IEK 我國(guó)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模 ?預(yù)估 20xx年我國(guó)由韓國(guó)進(jìn)口設(shè)備將超過(guò)新臺(tái)幣 20億， 佔(zhàn)總市場(chǎng)之 % 6 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 20xx年 AOI需求產(chǎn)業(yè)別 資料來(lái)源 : 工研院 IEK IT IS 主要產(chǎn)業(yè)為 : IC, LCD, PCB, 光通訊 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 半導(dǎo)體4 1 . 9 %光電3 9 . 0 %印刷電路板5 . 4 %電子組裝1 . 5 %光碟5 . 3 %電子零組件3 . 0 % 其他產(chǎn)業(yè)3 . 9 %資料來(lái)源：海關(guān)進(jìn)出口資料庫(kù)；工研院 IEK 我國(guó)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)業(yè)別市場(chǎng) ? 在 20xx年，我國(guó)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備中，光電和半導(dǎo)體市場(chǎng)合計(jì)約佔(zhàn)整體光學(xué)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)之 80% ? 在 20xx年，我國(guó)半導(dǎo)體之光學(xué)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)值約為新臺(tái)幣 138億元，我國(guó)光電業(yè)（ FPD）之光學(xué)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)值約為新臺(tái)幣 20xx年 7 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 國(guó)內(nèi)外廠商差異比較分析 （ 2） 資料來(lái)源：工研院 IEK 34 國(guó)外主要廠商 我國(guó)主要廠商 員工人數(shù) ◎ ○ 財(cái)務(wù) ◎ △ 行銷 ◎ ○ 研發(fā) ◎ △ 技術(shù) –整機(jī) ◎ ○ 照明系統(tǒng) ◎ △ 取像系統(tǒng) ◎ △ 機(jī)電控制系統(tǒng) ◎ ◎ 影像處理與分析 ◎ ◎ 優(yōu)： ◎ 良： ○ 較差： △ 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI產(chǎn)業(yè)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì) 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI技術(shù)魚骨圖 (2D) 取像硬體光源投光技術(shù)外在環(huán)境因素控制影像自動(dòng)聚焦技術(shù)C C D 及影像卡選擇影像系統(tǒng)及座標(biāo)參數(shù)校正影像點(diǎn)處理影像信號(hào)轉(zhuǎn)換技術(shù)二值化閥值處理技術(shù)影像強(qiáng)化技術(shù)影像濾波技術(shù)邏輯運(yùn)算法影像輪廓處理型態(tài)學(xué)運(yùn)算法細(xì)線化技術(shù)影像邊界搜尋影像邊界、輪廓強(qiáng)化影像幾何運(yùn)算形狀尺寸運(yùn)算平移、旋轉(zhuǎn)、縮放影像三維資料運(yùn)算次像素運(yùn)算法則影像分析影像分割、縫合技術(shù)影像特徵抽取影像特徵辨識(shí)圖像比對(duì)技術(shù)影像特徵轉(zhuǎn)換技術(shù)影像群聚分析瑕疵檢測(cè)瑕疵分類與統(tǒng)計(jì)法則尺寸瑕疵演算法幾何瑕疵演算法表面瑕疵演算法色彩變異演算法自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI技術(shù)魚骨圖 (3D) 其他 :光譜法、螢光法、紅外光法、 Xray、 OCT、橢偏法、頻閃法等可做材質(zhì)、斷層掃描及動(dòng)態(tài)量測(cè) 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 國(guó)內(nèi) AOI論壇推動(dòng)里程碑 ? 89年 11月 儀器產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇 (光電 /微機(jī)電，約 50 人 ) ? 90年 12月 AOI論壇 I + 通訊測(cè)試論壇 (共約 100人 ) ? 91年 05月 AOI論壇 II(2D/3D/光通訊三組，共約 150人 ) ? 92年 10月 AOI論壇 III(共約 180人 ) ? 93年 3月 AOI聯(lián)盟正式成立 , 會(huì)長(zhǎng) :徐章 副會(huì)長(zhǎng) : 范光照 ? 93年 10月 AOI論壇 IV(共約 280人 , 發(fā)表論文 36篇 ,十?dāng)?shù)家參展 ) ? 94年 4月 AOI聯(lián)盟年度大會(huì) ? 94年 10月 AOI論壇 V(共約 350人 , 發(fā)表論文 55篇 ,十?dāng)?shù)家參展 ) AOI聯(lián)盟加入的會(huì)員已逾 1000人 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI聯(lián)盟 ( ) 論壇組織 → 產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟 → 業(yè)界科專 → 政府輔導(dǎo) → 新產(chǎn)品開發(fā) 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council 採(cǎi)用國(guó)產(chǎn) AOI設(shè)備的優(yōu)點(diǎn) 1. 系統(tǒng)軟體自行發(fā)展，容易更新或要求加入特別功能 2. 不是 Inline設(shè)備 ，廠商易於接受試用並與國(guó)外設(shè)備比較 3. 維修處理快速 ，語(yǔ)言溝通容易 4. 容易系統(tǒng)整合整廠連線 5. 容易做精度校正及誤差補(bǔ)償以提高系統(tǒng)精度 6. 價(jià)格低 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI儀器系統(tǒng)組成 ? 照明系統(tǒng) 光源選擇 ? 取像系統(tǒng) 鏡頭、 CCD(Lineamp。如 (Wafer Level\Wire Bond\BGA\Laser Mark) FPD瑕疵檢測(cè) , 如 : 玻璃基板、薄膜電晶體面板、彩色率光片、配向膜（ PI）、 Photo spacer (PS) PCB 檢測(cè) ,如 : 孔位、瑕疵、 Solder paste，其中缺陷檢查具龐大商機(jī) 20xx 國(guó)科會(huì)自動(dòng)化學(xué)門研究發(fā)展規(guī)劃書 Automation Division National Science Council AOI設(shè)備需增強(qiáng)功能 (調(diào)查整理 ) IC ?對(duì)準(zhǔn)度量測(cè)儀精度提升 ● 晶圓厚度及粗超度量測(cè) ● 晶圓 Back side AOI ?晶圓 Macro 缺陷檢視機(jī)靈敏度提昇 ● 晶圓 Outgoing inspection ? 植球檢查機(jī) ● Bump 檢測(cè)能力 , BGA 基板翹曲檢測(cè) PCB/BGA ?內(nèi)外層線路檢查解析度到 5/ (未來(lái)要 1/4μm) ?綠漆上的瑕疵檢測(cè) , 彩色 AVI, 3D 影像 ?靶孔校正 , XY 偏位 , 線路距離 , 內(nèi)外層檢驗(yàn) , 快速 !快速 !
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