【正文】 器人視覺(jué)中的精確定位等技術(shù)領(lǐng)域。從結(jié)構(gòu)上， CCD可分為線(xiàn)陣CCD和面陣 CCD兩種，后者主要用于攝取圖像，而前者作為一種高靈敏光電傳感器在生產(chǎn)線(xiàn)上大量應(yīng)用于產(chǎn)品外形尺寸非接觸測(cè)量、分類(lèi)、表面質(zhì)量評(píng)定和精確定位等。 CCD是一種以電荷量表示光量大小，用禍合方式傳輸電荷量的器件，具 有自動(dòng)掃描、動(dòng)態(tài)范圍大、光譜響應(yīng)范圍寬、體積小、功耗低、壽命長(zhǎng)和可靠性高等一系列優(yōu)點(diǎn)。它的發(fā)展將向著高速、高分辨率、立體化、能化和標(biāo)準(zhǔn)化的方向發(fā)展。因此，本研究課題具有學(xué)術(shù)研究意義、技術(shù)開(kāi)發(fā)價(jià)值和產(chǎn)品應(yīng)用前景。掃描能將真實(shí)世界的彩色信息數(shù)字化，其對(duì)于數(shù)字化時(shí)代的重要性是不言而喻的。其基本組成部分為 :光源 (投光器 )、被檢測(cè)對(duì)象及光信號(hào)的形成、光信號(hào)的匹配處理、光電轉(zhuǎn)換、電信號(hào)的放大與處理、微機(jī)、控制系統(tǒng)和顯示等部分 ,如圖 11所示： 圖 11 光電檢測(cè)系統(tǒng)框圖 課題研究的背景和意義 研究基于 CCD的掃描技術(shù)的意義在于，它能快速方便地將真實(shí)世界的彩色 信息轉(zhuǎn)換為計(jì)算機(jī)能直接處 理的數(shù)字信號(hào)，為將實(shí)物數(shù)字化提供了一種手段。光電傳感器技術(shù)是未來(lái)探測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。它可以大大地解放勞動(dòng)力，達(dá)到提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量、降低成本地目的。根據(jù)我們的調(diào)查，還沒(méi)有發(fā)現(xiàn)國(guó)內(nèi)關(guān)于如何測(cè)試和評(píng)價(jià) CCD 性能方面的研究結(jié)果 。當(dāng)前我們的 CCD生產(chǎn)技術(shù)相對(duì) 較弱，也缺乏一種完善的測(cè)試、評(píng)價(jià) CCD性能的系統(tǒng)。信息時(shí)代離不開(kāi)語(yǔ)言、文字、圖像的實(shí)時(shí)獲取與交流。 和同樣功能的電真空器件相比， CCD作為一種自?huà)呙枋焦怆娊邮掌骷?，它有體積小、重量輕、分辨率高、靈敏度高、動(dòng)態(tài)范圍寬、工作電壓低、功耗小、壽命長(zhǎng)、抗震性和抗沖擊性好、不受電磁場(chǎng)干擾和可靠性高等一系列優(yōu)點(diǎn)。 CCD在影像傳感、信號(hào)處理和數(shù)字存儲(chǔ)等三大領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用，充分顯示出它的巨大潛力，在微電子學(xué)技術(shù)中獨(dú)樹(shù)一幟。立了以一維空阱模型為基礎(chǔ)的 CCD基本理論，這個(gè)理論與實(shí)驗(yàn)結(jié)果大致相符，滿(mǎn)足了指導(dǎo)器件進(jìn)一步發(fā)展的需要。 關(guān)鍵詞：聲光效應(yīng)，線(xiàn)陣 CCD，光電檢測(cè) , 半導(dǎo)體激光發(fā)生器 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 II Abstract This thesis focuses on the photoelectric testing technology, especially the technology on the characteristic symbol of linear CCD on the base of deep discussing on the structure and principle of CCD、 the signal processing and the application of the photoelectric sensor. This design which is the application of modern photoelectric testing technology is the measuring instrument on synthesizing of the acoustooptic effect and the image sensor. The fundamental and applied research on the characteristic symbol photoelectric testing technology is certainly on the leading edge of the discipline because that it is hard for traditional photoelectric testing technology to satisfy the testing request. Simultaneously， it also has the important and widespread practical application prospect. This measuring instrument mainly includes several parts: Semiconductor laser generator， ultrasonic generator, linear CCD, electric circuit parts, data acquisition system , puter system. The laser which produced by the Semiconductor laser generator creates diffraction after receiving the supersonic wave disturbance in the medium. The diffraction light transforms to the electrical signal by entering the linear CCD. The electrical signal enters in the monolithic integrated circuit after enlargement processing and transforming by the A/D transformation ponent. Finally, the signal inputs to the puter system through USB100 for data processing. Key words: acoustooptic effect, linear CCD, photoelectric testing technology, Semiconductor laser generator 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 III 目錄 摘 要 ..........................................................................................................................I ABSTRACT..................................................................................................................II 目錄 ..............................................................................................................................III 第一章 緒論 .................................................................................................................1 引言 ..........................................................1 課題研究的背景和意義 ..........................................2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢(shì) ......................................2 本設(shè)計(jì)的目的及內(nèi)容 ...........................................3 第二章 測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì) .............................................................................................5 測(cè)試系統(tǒng)總體描述 ..............................................5 測(cè)試系統(tǒng)基本原理 ..........................................5 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 CCD 測(cè)試儀 ....................................5 光源的選擇 ....................................................6 聲光效應(yīng)與聲光調(diào)制 ............................................7 聲光效應(yīng)原理 ..............................................7 聲光效應(yīng)分類(lèi) ..............................................9 聲光調(diào)制器 ...............................................10 CCD 檢測(cè)技術(shù) .................................................11 CCD 的組成部分 ...........................................11 CCD 的工作原理 ...........................................12 CCD 的基本特性參數(shù) .......................................15 CCD 器件的選擇 ...........................................16 第三章 測(cè)試硬件電路系統(tǒng) .......................................................................................25 信號(hào)處理電路 ................................................25 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) .................................................28 TLC2543 串行 A/D 轉(zhuǎn)換器 ......................................28 TLC2543C 簡(jiǎn)介 ............................................28 TLC2543C 的主要性能 ......................................29 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 IV TLC2543C 的轉(zhuǎn)換過(guò)程 ......................................29 USB 通訊模塊 ...............................................30 第四章 測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) .....................................................................................32 第五章 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)記錄及處理 .................................................................................34 總結(jié)和展望 .................................................................................................................38 參考文獻(xiàn) .....................................................................................................................39 致 謝 .........................................................................................................................40 附錄 .............................................................................................................................41 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 1 第一章 緒論 引言 電荷禍合器件 (CCD， Char羅 CoupledDeviee)是一種以電荷 包的形式存儲(chǔ)和傳遞信息的半導(dǎo)體器件，它是由美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室的 1970年前后發(fā)明的。本測(cè)試儀包括以下幾個(gè)部分： 半導(dǎo)體激光發(fā)生器， 超聲波發(fā)生器 ， 線(xiàn)陣 CCD器件， 電路部分， 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)， 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。 傳統(tǒng)光電檢測(cè)技術(shù)己難以滿(mǎn)足檢測(cè)要求。聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 I 聲光效應(yīng)線(xiàn)陣 ccd 測(cè)試儀畢業(yè)論文 摘 要 本論文在探討 CCD的基本結(jié)構(gòu)、工作原理、信號(hào)處理及其在光電傳感器中的應(yīng)用的基礎(chǔ)上，對(duì)光電檢測(cè)技術(shù)，特別是基于線(xiàn)陣 CCD的特征標(biāo)志光電檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了較為廣泛和深入的理論研究。 本設(shè)計(jì)是現(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)中光電檢測(cè)的應(yīng)用，