奧氏體晶粒度測定實(shí)驗(yàn)報(bào)告精選合集-展示頁
2024-10-27 03:48本頁面
【正文】 以證明，當(dāng)時(shí)，具有最小值。其中與、依次相關(guān)，因此實(shí)際上是的函數(shù)，偏向角也就僅隨而變化。假設(shè)某一波長的光線?ld?入射到棱鏡的?ab?面上，經(jīng)過兩次折射后沿?er?方向射出，則入射線?ld?與出射線?er?的夾角稱為偏向角。第二篇：無機(jī)化學(xué)測定實(shí)驗(yàn)報(bào)告無機(jī)化學(xué)測定實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)名稱：室溫：氣壓：年級(jí)組姓名實(shí)驗(yàn)室指導(dǎo)教師日期 基本原理（簡述）：數(shù)據(jù)記錄和結(jié)果處理：問題和討論附注：指導(dǎo)教師簽名第三篇：物理實(shí)驗(yàn)報(bào)告《測定三棱鏡折射率》【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹坷梅止庥?jì)測定玻璃三棱鏡的折射率；【實(shí)驗(yàn)儀器】分光計(jì)，玻璃三棱鏡，鈉光燈。四、對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求描述試驗(yàn)過程。然后在 100 倍的顯微鏡下觀察，如晶界不清楚，試樣可經(jīng)二次或三次腐蝕、拋光重復(fù)操作。三、實(shí)驗(yàn)步驟(1)將已熱處理好的試樣進(jìn)行磨光制成金相試樣。(3)從晶粒大小的觀點(diǎn)出發(fā)確定合理的熱處理加熱規(guī)程。第一篇：奧氏體晶粒度測定實(shí)驗(yàn)報(bào)告奧氏體晶粒度的測定 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1)熟悉測定鋼的奧氏體晶粒度的方法。(2)研究加熱溫度保溫時(shí)間及循環(huán)熱處理對(duì)奧氏體晶粒大小的影響。二、.實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 用直接腐蝕法利用比較的方法對(duì)奧氏體晶粒進(jìn)行測定。(2)將制成的金相試樣，用相應(yīng)的腐蝕劑將晶界腐蝕出來。(3)用比較法或弦計(jì)算法測定晶粒的大小，最后確定級(jí)別。試驗(yàn)所得數(shù)據(jù)的討論和分析?！緦?shí)驗(yàn)原理】最小偏向角法是測定三棱鏡折射率的基本方法之一，如圖10所示，三角形?abc?表示玻璃三棱鏡的橫截面，ab和ac是透光的光學(xué)表面，又稱折射面，其夾角a稱為三棱鏡的頂角；bc?為毛玻璃面，稱為三棱鏡的底面。圖10三棱鏡的折射由圖10中的幾何關(guān)系，可得偏向角(3)因?yàn)轫斀莂滿足，則(4)
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