亞科德電子公司外殼檢驗規(guī)范書-展示頁
2025-06-29 09:06本頁面
【正文】 ≤ 4 AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗規(guī)范手冊 外殼檢驗規(guī)范書 文件編號 版本號 修改號 生效日期 WIQE004 0 ②二條 (mm) 缺陷位置 重缺陷 輕缺陷 接受 前面 /頂面 ≥ 2 2≥ R≥ 1 ≤ 1 側(cè)面 ≥ 4 4≥ R≥ 2 ≤ 2 底面 ≥ 5 5≥ R≥ 3 ≤ 3 兩劃痕間最小距離 50 ⑵重劃痕：明顯易見的傷及材料本體之劃痕。 （輕缺陷） 7．卡位、燈孔、轉(zhuǎn)軸、線孔、透光孔、按鍵、螺絲等裝配不良。 （重缺陷）
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