【正文】 Rev 測量系統(tǒng)分析 7 ? 準確度變動的原因 ? 偏移 (Bias) 偏移指基準值和測值的平均間的差異，偏移越少越準確。 ? 為了正確地理解作為決策基本的 數(shù)據(jù)的測量系統(tǒng) ， 測量系統(tǒng)的評價是改善 活動中最根本的也是最重要的 。 什么是測量系統(tǒng)分析？ Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 3 ? 測量系統(tǒng)分析的必要性 ? 在通過數(shù)據(jù)進行改善時 ， 如果數(shù)據(jù)的可信度 無法保證的話 ， 那么這種分析和改善將沒有 實質(zhì)性意義 。測量系統(tǒng)分析 (Measurement System Analysis) ?計量型數(shù)據(jù)測量系統(tǒng)的分析 ?計數(shù)型數(shù)據(jù)測量系統(tǒng)的分析 ? 學(xué)習(xí)目標 ● 理解測量誤差 ● 理解計量型數(shù)據(jù)測量系統(tǒng)的分析方法 ● 理解計數(shù)型數(shù)據(jù)測量系統(tǒng)的分析方法 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 2 ? 測量系統(tǒng)分析的定義 MSA(Measurement System Analysis) 為了確保數(shù)據(jù)的可信度 而評價或檢測測量系統(tǒng)的水準 為了把握改善對象流程的現(xiàn)在能力要采集數(shù)據(jù)并 確認采集數(shù)據(jù)的可信度 ? 用語的定義 ? 測量 為了描述研究對象的某特定性質(zhì)而對該 性 質(zhì)賦予數(shù)值 。 Eisenhart, C.(1963) ? 測量系統(tǒng) 包括所有為了獲得測量設(shè)備或測量方法及其他設(shè)備、軟件、測量環(huán)境、 測量程序、測量者等的集合。 ? 測量數(shù)據(jù)是用作決策的基礎(chǔ)資料 。 這石頭的重量是多少？ 正確的測量是正確決策的 基礎(chǔ)資料。 基準值 Reference value 觀測平均 Observed Average 偏移 (bias) ?total ? ?product ? ?MS 原因 基準值的誤差 測量設(shè)備的老化 刻度不佳的測量設(shè)備 錯誤特性值的測量 沒有良好的校正 測量者不能正確使用測量設(shè)備 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 8 ? 穩(wěn)定性 (Stability) 穩(wěn)定性指對于相同基準樣品或者相同樣品的特性，長時間測量時得出的 測量值的總變動。 如果在測量設(shè)備測量范圍內(nèi)的整個區(qū)域里偏移值呈一定值出現(xiàn)，可以說 線度性良好。 基準值 平均 平均 基準值 良好的反復(fù)性 不好的反復(fù)性 原因 ? 使用了落后的計測儀 ? 實際錯誤造成的計測儀內(nèi)在工具或內(nèi)部發(fā)生散布 ? 隨工具位置變化的散布 ? 環(huán)境因素 (照明 , 噪音 ) ? 身體因素 (視力 ) Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 11 ? 再現(xiàn)性 (Reproducibility) 再現(xiàn)性是指對相同樣本的相同特性用不同的測量系統(tǒng)進行 測 量而求出的變動。 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 14 ? 計量型數(shù)據(jù) Gage RR ? 注意事項 隨機順序測量 盲測： 測試 者需在事先不知道測量具體的樣品條件下進行，防止霍索恩效應(yīng)(Hawthorne) 讀取測量設(shè)備數(shù)值應(yīng)為最接近的數(shù)值 ,可能的話以最小刻度的一半為準 例如最小刻度為 ,讀取推測值為 各 測量 者為了求得測量值需使用相同的步驟 (包含所有階段 ) 霍索恩效應(yīng)： (Hawthorne effect) 19241926年進行照明實驗總結(jié)出， (指工人、學(xué)生等因受到研究人員的關(guān)注而增加產(chǎn)量或提高成績 )， 受人關(guān)注帶來的提高 (或進步 )。他們首先要對測量產(chǎn)品的測量設(shè)備的可信賴性做評估以求數(shù)據(jù)的正確。 (） [參考 ]前期已經(jīng)確認識別能力、 準確度及穩(wěn)定性方面沒有問題。 反復(fù) : 2次 測量 : 3人 [參考 ] 標本的選定 樣品采樣從流程開始并且應(yīng)能夠代表整個過程的 變化 范圍 樣品范圍 流程分散 樣品范圍 = 流程分散 樣品范圍 流程分散 測量系統(tǒng)的評價指標要 測量系統(tǒng)的評價指標 比實際要好 比實際要差 Good !! “ Bad” “ Bad” Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 17 階段 2 樣品測量 盡可能地對測量者或產(chǎn)品進行隨機測量 事先讓測量者不知道要參與實驗，進行盲測 整個測量反復(fù) 2次 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 18 階段 3 Minitab分析 – Gage RR Study ? 數(shù)據(jù)輸入 (文件名 : Gage R) 以 Stack形式 輸入數(shù)據(jù) 部品 測量者 測定值 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 19 3 Gage 名稱 ,日期等 信息輸入 2 6 1 ? Minitab分析 Stat Quality Tools Gage Study Gage RR Study (Crossed)... Minitab上的分析方法有 ANOVA法和 Xbar and R法 , ANOVA法更為優(yōu)越一些。 4 如果知道 Process Tolerance,請輸入 5 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測量系統(tǒng)分析 20 Gage RR %Contribution Source VarComp (of VarComp) Total Gage RR Repeatability Reproducibility ??? ??? *?? PartToPart Total Variation Process tolerance = Study Var %Study Var %Tolerance Source StdDev (SD) ( * SD) (%SV) (SV/Toler) Total Gage RR Repeatability Reproducibility ???