msa量測(cè)系統(tǒng)分析(ppt20頁)-展示頁
2025-02-18 11:54本頁面
【正文】 的變異是否有偏高的誤差是因量測(cè)系統(tǒng)所引起的 . 制程開發(fā)中的每一個(gè)流程都是依據(jù)制程所量測(cè)到的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì) /圖形分析所得到的結(jié)果 ,以研判制程能力是否符合工程規(guī)格 ,然后進(jìn)行機(jī)臺(tái)調(diào)整與制程改善的依據(jù) ,但是大部份的數(shù)據(jù)都是經(jīng)由量測(cè)儀器設(shè)備得到 ,量測(cè)數(shù)據(jù)品質(zhì)的好壞和量測(cè)系統(tǒng)是否處在一個(gè)穩(wěn)定的獎(jiǎng)狀態(tài)下有關(guān) . 例如一個(gè)量測(cè)系統(tǒng)是在穩(wěn)定的情況下 ,則使用同一標(biāo)準(zhǔn)片來量測(cè)某一品質(zhì)特性 ,取得幾個(gè)量測(cè)值 ,如果這些量測(cè)數(shù)值都非常 “接近 ”此一 標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)準(zhǔn)值 ,那么我們說這些數(shù)據(jù)的品質(zhì)是 “好的 ”,同樣的如果量測(cè)結(jié)果 “偏離 ”此一標(biāo)準(zhǔn)值達(dá)一程度 ,那麼我們這些數(shù)據(jù)的品質(zhì)是 “差 ”的 ,量測(cè)數(shù)據(jù)品質(zhì)的好與壞以量測(cè)系統(tǒng)在一個(gè)穩(wěn)定的情況下取得多個(gè)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)性質(zhì)進(jìn)行判定 . 量測(cè)數(shù)值品質(zhì)的 衡量 指標(biāo)主要有 [偏差 =Bias]和 [變異 =Variation],偏差是指偏離標(biāo)準(zhǔn)值的程度 ,而變異則是指數(shù)據(jù)的分佈擴(kuò)散的程度 .如果量測(cè)儀器或人員的誤差 (Error)很大 ,容易造成量測(cè)數(shù)據(jù)的平均值偏離真值 (True Value),也就是造成偏差或變異大於制程實(shí)際的變異 ,以誤差的制程數(shù)據(jù)來判讀制程進(jìn)行調(diào)整或管制 ,影響是很難 衡量 的 .2制作 : Jackson 2023年 6月 1日 311 量測(cè)變異 總變異是經(jīng)由量測(cè)系統(tǒng)得到又稱為觀測(cè)變異 ,其與量測(cè)系統(tǒng)所造成的量測(cè)變異及真實(shí)制程所造成的產(chǎn)品變異關(guān)系如下 : 總變異 =量測(cè)變異 (人與機(jī)臺(tái) )+產(chǎn)品 (制程 )變異 因此量測(cè)變異太大時(shí) ,會(huì)影響我們對(duì)真實(shí)制程變異的判斷 ,總而言之 ,量測(cè)系統(tǒng)分析就是檢查量測(cè)系統(tǒng)變異 /偏差的大小與決定影響此變異 /偏差的因素 .3制作 : Jackson 2023年 6月 1日 312 量測(cè)系統(tǒng)分析目的量測(cè)系統(tǒng)的潛在影響因子如下圖 : 因此在制程開發(fā)流程的第一步驟需先進(jìn)行量測(cè)系統(tǒng)分析(MSA:Measurement system analysis),因?yàn)槲覀冃枰卮鸬膯栴}有四點(diǎn) :4制作 : Jackson 2023年 6月 1日 接上頁 : (四點(diǎn)如下 )216。儀器設(shè)備是否需要校驗(yàn) .216。儀器設(shè)備的解析度是否可供使用 .216。確認(rèn)量測(cè)系統(tǒng)能滿足制程使用需求 對(duì)於新購及經(jīng)維護(hù)校驗(yàn)合格后的量具設(shè)備 ,確認(rèn)是否能提供客觀及正確的分析評(píng)價(jià) ,以評(píng)估量測(cè)設(shè)備的適用性 ,確保制程數(shù)據(jù)的可用性 .216。一個(gè)穩(wěn)定的量測(cè)系統(tǒng) ,對(duì)其同一個(gè)樣本可標(biāo)準(zhǔn)片的量測(cè)值不會(huì)隨著時(shí)間而有趨勢(shì)的變化或異常值的出現(xiàn) .4. 5. 若要檢查量測(cè)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性 ,請(qǐng)參考 311節(jié)的說明 .7制作 : Jackson 2023年 6月 1日 322 精確度 Precision精確度或指量測(cè)的變異可以分解為兩部份 : (Repeatability)因量測(cè)儀器所產(chǎn)生的變異 。當(dāng)不同操作人員以同一部?jī)x器重複測(cè)量同一個(gè)零件時(shí) ,所得的觀測(cè)變異 . 若要檢查量測(cè)系統(tǒng)的精確度 ,請(qǐng)參考第 39節(jié)的說明 . 檢視由所有操作員 /零件組合所產(chǎn)生的量測(cè)圖表 ,以 辨 別量測(cè)變異中的再現(xiàn)性與生性 ,請(qǐng)參考 3536節(jié)的說明 . : 量具被使用於測(cè)量零件而產(chǎn)生數(shù)據(jù) ,利用統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù) ,我們可惟了解數(shù)據(jù)間的變異有多少是由量具所產(chǎn)生 ,有多少由使用量具的操用員所產(chǎn)生等等問題 ,再利用數(shù)據(jù)的總變異或允差變異的比例可以判定此量具是否在良好的情況下運(yùn)行 ,其分析與判定的方式可以透過全距法 (XbarR)ANOVA分析法 . (Discrimination): 量測(cè)系統(tǒng)對(duì)不同量測(cè)尺寸的樣本或標(biāo)準(zhǔn)片 ,可區(qū)分其差異性的能力 .8制作 : Jackson 2023年 6月 1日 33 MINITAB量測(cè)系統(tǒng)分析方法 MIN
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