微波測試設(shè)備培訓(xùn)課件-展示頁
2025-01-12 20:03本頁面
【正文】 耦合指示機(jī)構(gòu)c. 它由探針 ,調(diào)諧腔體 ,晶體檢波器和指示設(shè)備構(gòu)成 .探針通過波導(dǎo)的槽縫伸進(jìn)波導(dǎo)內(nèi) ,與所在位置的電場發(fā)生耦合 ,在探針上產(chǎn)生與該處電場強(qiáng)度成比例的感應(yīng)電動勢 ,并經(jīng)過探針的調(diào)諧腔體送至晶體檢波器 ,從而轉(zhuǎn)換成直流電流 ,用微安計(jì)等來指示 .69矩形波導(dǎo)測量線示意圖7071:調(diào)制器許多微波測試應(yīng)用中經(jīng)常需要調(diào)制信號 ,特別是通信方面 ,比如幅度調(diào)制 ,脈沖調(diào)制等72:校準(zhǔn)件 為了獲得準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù) ,測試前必須校掉系統(tǒng)誤差 ,這樣的測試結(jié)果才是可信的 .矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)件 7374第四節(jié) :系統(tǒng)75Agilent 8363B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀7677戰(zhàn)區(qū)電磁綜合環(huán)境測試系統(tǒng)78T/R組件測試系統(tǒng)79雷達(dá)罩插入相位延遲測試系統(tǒng)80天線測試系統(tǒng)81RCS測試系統(tǒng)82雷達(dá)吸波材料反射系數(shù)測試系統(tǒng)83l 靜夜四無鄰，荒居舊業(yè)貧。 37頻譜分析儀上顯示的信號源相位噪聲 38單邊帶相位噪聲的定義 信號源中，由于相位噪聲的存在，在頻域中，輸出信號的譜線是以調(diào)制邊帶的形式連續(xù)地分布在載波的兩邊，是雙邊帶的，并以載波頻率 f0為中心對稱。另外一種呈隨機(jī)分布的相位噪聲通常是由振蕩器本身內(nèi)各器件所產(chǎn)生的各種隨機(jī)噪聲 (如電阻產(chǎn)生的熱噪聲、半導(dǎo)體器件所產(chǎn)生的散彈噪聲和閃爍噪聲等 )引起的。其中，信號邊帶中的離散分布的信號稱作雜散分量，另外一種為連續(xù)分布的隨機(jī)信號，稱作相位噪聲。頻域表示的相位噪聲可以簡單地看作是無限數(shù)目的相位調(diào)制邊帶，每一個(gè)相位調(diào)制邊帶又是由一個(gè)低頻信號對載波進(jìn)行相位調(diào)制而產(chǎn)生。由于頻率是相位對時(shí)間的導(dǎo)數(shù)，因此研究瞬時(shí)頻率穩(wěn)定度問題歸結(jié)為研究瞬時(shí)相位起伏的問題。 34理想情況下，信號源輸出的信號是純的正弦波信號，可用式表示如下：這樣的信號在頻域中表現(xiàn)為一根信號譜線 純正弦信號的譜線 35 但是，在實(shí)際應(yīng)用中，所有信號源的輸出都存在著不穩(wěn)定性，即存在著幅度、頻率或相位的起伏，這樣的不純信號可表示為 通常情況下，信號源的輸出中都有 A(t) ，它不直接造成頻率起伏或相位起伏，在這里可以忽略不計(jì)。第一章 微波測試設(shè)備1微波測試設(shè)備第一節(jié) :信號源第二節(jié) :信號檢測和顯示設(shè)備 第三節(jié) :輔助元件 第四節(jié) :系統(tǒng) (簡單說明 )2第一節(jié) :信號源3最基本的波形 :正弦波4周期性矩形脈沖885一些調(diào)制波形6 (或合成信號源 )78微波振蕩信號源 9主要性能指標(biāo)
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