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亞科德電子公司晶振檢驗規(guī)范書-展示頁

2025-06-18 18:53本頁面
  

【正文】 晶振外觀殘缺、污物。AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗規(guī)范手冊 晶振檢驗規(guī)范書 文件編號 版本號 修改號 生效日期 WIQE004 0 適用范圍: 適用于我司各種晶振來料的檢驗。 缺陷判定的詳細標(biāo)準(zhǔn): 重缺陷: 晶振外觀上出現(xiàn)氧化、生銹、鍍層脫落。 晶振絲印與封樣不符。 晶振跌落實驗后, 晶振無功能,頻率異常。
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