【正文】 電壓|≤。 附有供應(yīng)商的出廠檢驗報告，報告內(nèi)容必須與實物一致。 對應(yīng)的三個腳正確.216。且應(yīng)符合確認書要求；216。 盤式結(jié)構(gòu)的支架應(yīng)完好無破損，器件保護帶整潔完好；216。u 取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，對照相應(yīng)產(chǎn)品制造標準書，參照樣板或規(guī)格承認書，以IQC檢驗標準為依據(jù)，按AQL：。檢驗時要重點檢查來料標示是否與確認書一致。將PASS好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。u 特性曲線測試：設(shè)定正確后，取待檢三極管對應(yīng)插座‘EBC’按正確腳位插入，觀察熒光屏波形有無失真，波形間距是否均勻，調(diào)節(jié)峰值電壓%，使波形向右延伸至合適長度，（如圖所示）最高一級縱坐標Y相交點在（0，2）與（0，4）之間為OK。B．用半導體圖示儀測試：u 按下峰值鍵10V鍵測試選擇左鍵，調(diào)節(jié)圓點坐標在（3）位置。如是紅（黑）表筆搭住“B”極該三極管為NPN(PNP)型。材質(zhì)驗證：參照樣板對來料材質(zhì)進行相關(guān)驗證是否與樣板有無不符。 外包裝及最小包裝要求貼有RoHS標記，并提供合格RoHS報告。 要求用防靜電包裝，|靜電電壓|≤。 附有供應(yīng)商的出廠檢驗報告，報告內(nèi)容必須與實物一致。 引腳牢固，光亮筆直，無機械傷痕，變形等缺陷。 封體光潔，無影響裝配或成形的毛刺及缺損。 核對樣品，表面字符要與樣品相符，且用酒精擦洗15S絲印完好。 。 內(nèi)外包裝標示明確（）。u 取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，對照相應(yīng)產(chǎn)品制造標準書，參照樣板或規(guī)格承認書，以IQC檢驗標準為依據(jù)，按AQL：。測試前應(yīng)將晶振由5070CM高處自由跌落木版上面，在進行電性能測試。晶振應(yīng)根據(jù)所用機型的負載電容和等效電阻的大小對應(yīng)插座孔插入進行測試。測試架第一次測試前由領(lǐng)班或技術(shù)員校正后才能進行測試。將PASS好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。設(shè)置正確后，LED將顯示頻率計所測試到的正確頻率（如須長時間保留測試數(shù)據(jù)，將HOLD鍵按入）。u 測試點電壓在50mV～5V范圍將VOLTAGE鍵按出。材質(zhì)驗證：參照樣板對來料材質(zhì)進行相關(guān)驗證是否與樣板不符，如：外殼分銅質(zhì)金屬外殼和陶瓷等。包裝/外觀檢查：檢查包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則），標示內(nèi)容是否與確認書一致，本體有無破損、外殼、引腳有無氧化發(fā)黑、中振極性標識位置與樣板是否相同等。A類不合格AQL= B類不合格 AQL= 替代法測試的物料必須全部滿足指標要求： A類不合格：指對本公司產(chǎn)品性能、安全、利益有嚴重影響不合格項目 B類不合格：指對本公司產(chǎn)品性能影響輕微可限度接受的不合格項目、儀表、量具的要求 所有的檢驗儀器、儀表、量具必須在校正計量器內(nèi)“IQC來料檢驗報告”中目錄序號材料名稱材料類型備注頁數(shù)1晶振元器件類SMD部品12三極管元器件類SMD部品23貼片三極管元器件類SMD部品44鋁電解電容元器件類安全部品65高壓陶瓷電容元器件類EMC部品76片狀電容（SMD）元器件類SMD部品、EMC部品87電阻（插件與貼片）元器件類SMD部品98貼片電感元器件類SMD部品、EMC部品109色環(huán)電感元器件類SMD部品、EMC部品1110貼片二極管元器件類SMD部品1211穩(wěn)壓二極管元器件類安全部品1312整流二極管元器件類安全部品1413三端穩(wěn)壓器元器件類安全部品1514開關(guān)二極管元器件類安全部品1415瞬態(tài)抑制二極管元器件類安全部品1616壓敏電阻元器件類EMC部品1717TVS管元器件類EMC部品1818濾波器元器件類EMC部品12019扼流圈元器件類EMC部品2120三端穩(wěn)壓器元器件類安全部品2221整流橋堆元器件類安全部品2322保險管元器件類安全部品2423繼電器元器件類關(guān)鍵部品2524變壓器元器件類關(guān)鍵部品2625可控硅元器件類關(guān)鍵部品27/2826光電耦合器元器件類關(guān)鍵部品2927發(fā)光數(shù)碼管元器件類常用部品3028LED燈元器件類常用部品3129紅外發(fā)射管元器件類常用部品3230紅外接收頭元器件類常用部品3331蜂鳴器元器件類常用部品3432電源適配器模塊類常用部品35/36/37/3833IC芯片元器件類常用部品3934CMOS攝像頭模塊類關(guān)鍵部品4035CCD攝像頭模塊類關(guān)鍵部品4136RF433發(fā)射模塊模塊類關(guān)鍵部品4237RF433接收模塊模塊類關(guān)鍵部品4338WIFI模塊模塊類關(guān)鍵部品4439電源模塊模塊類關(guān)鍵部品4540觸摸屏模塊類關(guān)鍵部品4641液晶屏模塊類關(guān)鍵部品4742MX27核心板模塊類關(guān)鍵部品4843窗簾馬達模塊類關(guān)鍵部品4944玻璃非元器件類關(guān)鍵部品5045按鍵、撥碼開關(guān)非元器件類常用部品5146裝飾條非元器件類常用部品5247線座、插件、插座非元器件類常用部品5348天線非元器件類常用部品5449塑膠機殼非元器件類常用部品5550常規(guī)物料非元器件類常用部品5651包材類非元器件類常用部品5752電子料類非元器件類常用部品5853輔料類非元器件類常用部品5954說明書非元器件類常用部品6055通用檢查項目6167　檢驗指導書機型適用于通用產(chǎn)品工序時間無工序名稱晶振、中振檢驗工序編號無測試工具/儀器： 頻率計、晶振測試架檢驗員IQC頻率計晶振測試架晶 振 測 試 示 意 圖 晶振頻率計 圖示： PPM值的計算：如27MHZ晶振，+/30PPM轉(zhuǎn)化為百分比為百萬分之30 =30/106X（27X106） ==810MHZ即27MHZ+/30PPM=檢驗步驟及內(nèi)容對單、抽樣：u 根據(jù)貨倉開出的IQC品檢報告單或上料單，核對上料供方是否為合格供方,再查找相應(yīng)訂單和產(chǎn)品制造標準書，核實相應(yīng)機型和數(shù)量。 非元器件類：按照GN 282887 正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平Ⅲ進行。 本檢驗指導書由品管部QE負責編制和維護，品管部主管負責審核批準執(zhí)行。 三、責任:IQC在檢驗過程中按照檢驗指導書所示檢驗項目，參照供應(yīng)商器件確認書對來料進行檢驗。適用對元件檢驗方法和范圍的指導。 IQC來料檢驗指導書客 戶： 產(chǎn)品名稱： 版 本： 制定日期： 生效日期：制 作 人： 審 核 人：批 準 人：受控印章：檢驗說明：一、目的：對本公司的進貨原材料按規(guī)定進行檢驗和試驗，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。二、范圍:適用于IQC對通用產(chǎn)品的來料檢驗。適用于IPQC、QA對產(chǎn)品在制程和終檢時，對元件進行復核查證。檢驗標準參照我司制定的IQC《進料檢驗規(guī)范》執(zhí)行。四、檢驗：抽樣檢驗：元器件類：按照GB 282887正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平Ⅱ進行。 盤帶包裝物料按每盤取3只進行測試 替代法檢驗的物料其替代數(shù)量根據(jù)本公司產(chǎn)品用量的2～3倍進行替代測試：AQL為acceptable quality level驗收合格標準的縮寫。u 取待檢物料準備檢驗工具/儀器，對照相應(yīng)產(chǎn)品制造標準書，參照樣板或規(guī)格承認書，以IQC檢驗標準為依據(jù)，按AQL：。規(guī)格測量：試裝觀察各部位大小形狀與樣板（或確認書）有無不同，封裝形式有無不同（如：U和S封裝）用相應(yīng)測量工具再進行測量，需要試裝才能確認的應(yīng)進行相應(yīng)試裝。性能測試：按正確方式連接頻率計和晶振測試架（如右圖所示），打開電源開關(guān)按被測晶振所配負載電容大小，將晶振引腳插入相應(yīng)的插座位置，根據(jù)測試點電壓、頻率范圍不同將頻率計進行正確設(shè)置：u 試點電壓在3～42V范圍將VOLTAGE鍵按入。u 測試點在80MHZ～ B位LED燈亮.u 測試點在1HZ～`100MHZ頻率范圍時將FUNC設(shè)置鍵設(shè)置到FREQ A位LED燈亮.(10MHZ100MHZ頻率范圍時將PRESCALE鍵按入, 1HZ～`10MHZ頻率范圍時將PRESCALE鍵按出.u 為了讀出精確的測試頻率將GATE鍵按入進行倍數(shù)設(shè)置,可分別設(shè)置為XI、XX1000。判定/標識將：不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。注意事項物料送檢時要及時檢驗。所照參樣板必須為合格樣板。當引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。修訂記錄修改次數(shù)日期內(nèi)容參考文件供應(yīng)商器件確認書、檢驗規(guī)范文件編號編制：日期：版本審核：日期：受控印章批準：日期：　檢驗指導書機型適用于通用產(chǎn)品工序時間無工序名稱三極管檢驗工序編號無測試工具/儀器：萬用表/半導體特性圖示儀檢驗員IQC 圖示： B EC檢驗步驟及內(nèi)容對單、抽樣：u 根據(jù)貨倉開出的IQC品檢報告單或上料單，核對上料供方是否為合格供方,再查找相應(yīng)訂單和產(chǎn)品制造標準書，核實相應(yīng)機型和數(shù)量。包裝/外觀檢查：216。216。216。216。216。216。216。216。規(guī)格測量：用相應(yīng)測量工具測量物料各部位大?。ㄗ⒁夥庋b形式與要求是否相同），與要求是否相符，需要試裝才能確認的應(yīng)進行相應(yīng)試裝。性能測試：A．數(shù)字萬用表測試： 將萬用表打到二極管檔用紅（黑）表筆搭三極管假設(shè)為“B”極的其中任意1腳，再用黑（紅）表筆分別搭另外2腳，如萬用表顯示讀數(shù)為“0”時，再假設(shè)另外2腳的其中1 腳為“B”極或?qū)φ{(diào)表筆顏色直到萬用表顯示有數(shù)字為止（）,其中表筆不動的公共腳為B極,表筆分別搭住三極管的另外的2個引腳為E、C極。再將萬用表檔位打到“HFE”檔，將三極管插入萬用表上相應(yīng)的NPN或PNP插座，如LCD顯示放大倍數(shù)為“0”對換三極管C/E極再插入一次，LCD將顯示該三極管的放大倍數(shù)數(shù)值，觀察是否在三極管絲印標識的放大倍數(shù)等級范圍內(nèi)（如右圖所示）。X選擇1V檔，Y選擇2MA檔，功耗250Ω，階梯信號為10級，電壓電流級5UA。（具體波形圖示參照相應(yīng)規(guī)格承認書或樣板）．u 集電極和發(fā)射極擊穿電壓V（BR）CEO測試:將電壓/電流級旋鈕調(diào)節(jié)到最小電流值,打到相應(yīng)電壓檔,調(diào)節(jié)峰值電壓,觀察擊穿電壓有無在相應(yīng)的電壓范圍內(nèi). 判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。注意事項物料送檢時要及時檢驗。修訂記錄修改次數(shù)日期內(nèi)容參考文件供應(yīng)商器件確認書、檢驗規(guī)范文件編號編制：日期：版本審核：日期：受控印章批準：日期：　檢驗指導書機型適用于通用產(chǎn)品工序時間無工序名稱貼片三極管檢驗工序編號無測試工具/儀器：萬用表/半導體特性圖示儀檢驗員IQC 圖示： B EC檢驗步驟及內(nèi)容對單、抽樣：u 根據(jù)貨倉開出的IQC品檢報告單或上料單，核對上料供方是否為合格供方,再查找相應(yīng)訂單和產(chǎn)品制造標準書，核實相應(yīng)機型和數(shù)量。包裝/外觀檢查：216。 支架上應(yīng)有(）。 元器件無損傷，引出端鍍層無氧化、無銹跡、無污物.216。 元器件上絲印應(yīng)與樣品一致.216。216。216。規(guī)格測量：外形尺寸、引出端鍍層尺寸應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書要求。性能測試： 集電極基極截止電流IcboICBO應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書要求（見附表）輸入測試條件Vcb,Ie=0后，用耐壓測試儀測出截止電流Icbo.耐壓測試儀晶體管測試儀萬用表放大倍數(shù)Cpk值放大倍數(shù)Cpk值≥1按其規(guī)格書要求取其放大倍數(shù)范圍，取25個數(shù)據(jù)并計算Cpk值飽和電壓VcesIces 應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書要求（見附表）輸入條件Ie,Ic后，用萬用表測出Vces.放大倍數(shù)hFEhFE應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書要求（見附表）輸入條件Vce,Ic后，用晶體管測試儀測出hFE，★集電極發(fā)射極擊穿電壓VCEOVCEO符合產(chǎn)品規(guī)格書要求（見附表）輸入測試條件Ic，Ib=0后，用耐壓測試儀測出VCEO耐壓測試儀注意事項物料送檢時要及時檢驗。修訂記錄修改次