【正文】
少,但仍將其舍棄。 2) 發(fā)揮部分:第(3)、(4)項KCMR的測量:仍然在AVD=500的條件下,按前述方法進行。直流穩(wěn)壓電源的測量:交流電壓變化+10%和-15%時,AVD和KCMR應(yīng)保持不變。e. 通頻帶的測量:用信號變換放大器取代橋式測量電路,信號變換電路的輸入信號由函數(shù)發(fā)生器或低頻信號發(fā)生器給出。c. KCMR的測量:在AVD=500、VI=0的條件下,分別測出VA=+15V、VB=0和VA=0、VB=-15V時的共模電壓放大倍數(shù),取較大的一個計算KCMR。 75mV、177。 25mV、177。 1)測量放大器a. 差模電壓放大倍數(shù)的測量:通過改變R2的阻值產(chǎn)生差模輸入電壓信號。(5)其它(例如改善放大器性能的其它措施等)。(3)提高電路的共模抑制比。 發(fā)揮部分(1)提高差模電壓放大倍數(shù)至AVD=1000,同時減小輸出端噪聲電壓。 3) 設(shè)計并制作一個信號變換放大器,參見圖2。交流電壓變化范圍為+10%~-15%。 2)電源設(shè)計并制作上述放大器所用的直流穩(wěn)壓電源。 10V,非線性誤差 % ;c. 在輸入共模電壓+~-,共模抑制比 KCMR 105 ;d. 在AVD=500時,輸出端噪聲電壓的峰-峰值小于1V;e. 通頻帶0~10Hz ;f. 直流電壓放大器的差模輸入電阻≥2MW (可不測試,由電路設(shè)計予以保證)。測量電路與放大器之間有1米長的連接線。當R1=R2=R3=R4時,VI=0。參見圖1。本次課程設(shè)計就是圍繞測量放大器展開的,同時還設(shè)計了放大器的一些外圍電路,如電源電路和信號變換電路,測量放大器主要是通過運用集成運放將所測量的信號進行不失真的放大,并不對所測量的電路產(chǎn)生影響,這就需要測量放大器有較高的輸入電阻和較高的共模抑制比。穩(wěn)壓電源電路主要用于為運放及電橋供電,包括測量放大電路及信號變換器中的運放?!赌M電子技術(shù)基礎(chǔ)》課程設(shè)計說明書測量放大器_課程設(shè)計目 錄摘 要 2 Abstact 3 1. 引言 3 2測量放大器 4 4 發(fā)揮部分 5 : 6 3方案設(shè)計與論證: 7 : 11 : 12 : 12 : 12 : 13 : 14 : 14 4主要的電路參數(shù)計算 15 : 17 5電路調(diào)試: 17 : 18 : 18 : 18 : 19 6元器件清單: 20 7設(shè)計感想及總結(jié): 21 8參考文獻: 23 摘 要本設(shè)計主要由測量放大器、信號變換器、穩(wěn)壓電源三部分組成,測量放大器主要是實現(xiàn)對微信號的測量,主要通過運用集成運放組成測量放大電路實現(xiàn)對微弱電壓信號的放大,要求有較高的共模抑制能力及較高的輸入電阻,從而減少測量的誤差及對被測電路的影響,并要求放大器的放大倍數(shù)可調(diào)以實現(xiàn)對比較大的范圍的被測信號的測量,因而測量放大器的前級主要采用差分輸入的方式,然后經(jīng)過雙端信號到單端信號的轉(zhuǎn)換,最終經(jīng)比例放大器進行放大,比例放大器的反饋電阻可以由D/A組成的電阻網(wǎng)絡(luò)代替,通過單片機對其阻值進行控制,從而實現(xiàn)對放大倍數(shù)的控制,放大倍數(shù)可以由單片機控制鍵盤進行輸入,控制液晶或數(shù)碼管進行顯示。信號變換電路主要實現(xiàn)一端信號輸出到兩端輸出的轉(zhuǎn)變,主要采用的是經(jīng)過改進的差分式放大電路,信號變換在本設(shè)計中的用途主要是用于對測量放大電路的頻率響應(yīng)進行測試。AbstactThe design is mainly maded of three parts of measuring amplifiers, signal converters, power supply. Measuring amplifier is mainly to achieve microsignal measurements, primarily through the use of integrated operational amplifier circuit to enlarge the position of measurement of weak voltage signal amplification, requiring a higher mon mode rejection capability and high input resistance, thereby reducing error of measurement and the impact of the circuit under test and it requires magnification adjustable amplifier in order to achieve greater contrast to the scope of the measured signal measurement. So diff