【正文】 he hour meter consists of a solenoid cell with a shield to concentrate the electrical charge which pulses at regular intervals .The pulse triggers a solenoid pin , which in turn causes a verge arm , or bell crank , to trip the counter , advancing it by one unit .The counter is attached to a numeral shaft containing numeral wheels .These numeral wheels are separated from each other by idler gears , which rotate on an idler gear shaft .Both the idler gear shaft and the numeral shaft are attached to the mainframe , made of hard white plastic .The pulsing rhythm is provided by an electronics board .High(Good)AssemblyLow(Bad）AssemblyInitial results(H1):－40。s test for two independent 採用平均，SHAININ採用中位數(shù)，較方便計(jì)算，判斷值在5%下，可能是為方便記憶。SHAININ使用Lord test 之步驟步驟BetterCurrent(1)實(shí)驗(yàn)Bamp。被的成對比較結(jié)果,當(dāng)在掃描的電子之下檢查的時(shí)候仔細(xì)檢查,是依下列各項(xiàng):雙號碼觀察不同號碼分對觀察差異1良品壞品良品沒有缺點(diǎn)壞品Chipped die,oxide defects,copper migration2良品壞品良品沒有缺點(diǎn)壞品Alloying irregularities,oxide defects3良品壞品良品沒有缺點(diǎn)壞品Oxide defects,contamination4良品壞品良品沒有缺點(diǎn)壞品Oxide defects,chipped die結(jié)論:1. Four repeats in oxide defects, probable Red X family 2. Two repeats in chipped die, probable Pink X familySolution: Working with the semiconductor supplier (who, up to this analysis, had resisted responsibility), the following corrective actions were instituted: 1. For oxide defects: * Thicker photo resist * Mask inspection * Increased separation between mask and die 2. For chipped die: * Reduced oxide thickness in scribe grid B VS. CB表示Better，C表示Current，就是比較好條件與現(xiàn)有條件是否有差異。成對比較個(gè)案研究:不良兩極管DO35兩極管,汽車裡的在那之下頭巾電子學(xué)組件用,有無法接受的失敗率。通常,到第五或第六對,一致性的差異將降至少數(shù)幾個(gè)要因。如同第2步驟，.觀察且記錄此對差異,4. 重複此搜尋步驟，第三,第四,第五,和第六對,直到觀察的差異顯現(xiàn)出有重覆的模式。差異可能來自外觀的﹐尺寸﹐電性﹐機(jī)械性質(zhì),化學(xué)性質(zhì)等，觀察技術(shù)包括眼睛，X光,掃描電子顯微鏡，破壞測試等。成對比較製作步驟:1. 選出一良品單位和一壞品單位(盡可能的,接近相同的製造時(shí)間)。使用時(shí)機(jī):l 單位元件或子裝置不能夠分解或重新組裝(不像組件搜尋)l 有多數(shù)良品和少數(shù)的壞品成對單位出現(xiàn)l 有適當(dāng)?shù)膮?shù)來發(fā)現(xiàn)與區(qū)別良品與從壞品此技術(shù)可適用在組裝站、製程、測試儀器,等具有類似的單位，組裝,或工具。變異要因檢討解析例某家瓷磚製造商磁磚褙紙之褙紙黏度品質(zhì)不易控制，搜集數(shù)據(jù)如下表(1)橫條之內(nèi)(每條5片瓷磚)(2)橫條之間(3)時(shí)間，另外，將以上數(shù)據(jù)繪製成 multivari charts(包括每條中最高黏度每時(shí)段平均黏度、每條平均黏度)，如圖 ( 問題) 1那一方面的變因有最大的變異? 2你可以找到什麼端倪? 包括非隨機(jī)的趨勢。領(lǐng)班準(zhǔn)備廢棄此老式的生產(chǎn)轉(zhuǎn)子軸的六角車床設(shè)備(TURRET LATHE)，買一個(gè)新的價(jià)格為$70，000，” 的車床，即 Cpk＝，然而，顧問說服工廠經(jīng)理先行MultiVari 研究，即使在買進(jìn)新車床前，它的回收只是九個(gè)月圖表６２顯示MultiVari圖的結(jié)果．l 空間面變動(Position Variation)軸四個(gè)位置的（軸內(nèi)）變動，顯示如方格內(nèi)，每個(gè)軸的左邊到右邊，上下為軸的最大的直徑和最小的直徑l 重覆面變動(Cyclic Variation)循環(huán)性的變動，一方格到這下一個(gè)方格l 時(shí)間面變動(Temporal Variation)從周期到這下一個(gè)，以小時(shí)顯示．l 結(jié)論:圖中顯示，最大的變化似乎是時(shí)間到時(shí)間，變化發(fā)生於10上午和11上午，這提供這領(lǐng)班一個(gè)強(qiáng)的線索，上午10什麼呢？休息時(shí)間！。討論:請舉出在LCD之製程中，重覆之變異有哪些。討論:請舉出在LCD之製程中，時(shí)間之變異有哪些。這種隨機(jī)性要因是會再度出現(xiàn)的，所以它們有反覆性。l 不同的作業(yè)手、生產(chǎn)機(jī)臺、或生產(chǎn)工廠投入相同的生產(chǎn)要素，但產(chǎn)品之間也有品質(zhì)差異。l 同?；蛲紊a(chǎn)，各件產(chǎn)品之間的品質(zhì)差異。l 組品內(nèi)各單件之間的差異，譬如一塊含千、百只零組件電路機(jī)板，各點(diǎn)之問銲錫品質(zhì)有差異。經(jīng)過恰當(dāng)對策後，空間面要因所產(chǎn)生的品質(zhì)變異可望消除大半。SHAININ DOE 七工具介紹l MultiVari Chart(多層圖)l B vs .C (B與C比較)l Paired Comparisons(成對比較)l Components Search(組件尋找)l Variables Search(變數(shù)尋找)l Full Factorials(全因子效果)l Realistic Tolerance Parallelogram (scatter plots)(散佈圖定公差)目的:降低變異MUTIVARI CHART多層圖:變異之掌握時(shí)間面變動(Temporal Variation)在不同的時(shí)段、生產(chǎn)班次、生產(chǎn)日期、生產(chǎn)週別等等，由於時(shí)間不同製程會發(fā)生的品質(zhì)變異，是一種非隨機(jī)性的要因，只要能掌握到它們的存在，伴生的品質(zhì)變異就可望全數(shù)消除?？臻g面變動(Position Variation)在相同時(shí)間裡，在不同的部位、機(jī)臺、人手或工廠所發(fā)生的品質(zhì)變異，就是所謂的空間要因所產(chǎn)生的。以下列舉了各類的空間面要因:l 單品的內(nèi)變異，如一件鑄品因不同部位孔隙度有差異。l 全品之內(nèi)相同各件之間的差異，譬如一片晶圓上數(shù)百粒晶體之間品質(zhì)出入很大。譬如在IC的封膠製程，乙付模具上通常有數(shù)十處相同的穴位，但產(chǎn)出的各個(gè)膠體之間也有所差異。重覆面變動(Cyclic Variation)在同一機(jī)臺，用同批材料、由同一作業(yè)手、按相同程序生產(chǎn)，產(chǎn)品之間仍有品質(zhì)差異。只有在技術(shù)上、材料上或設(shè)備上等等有所突坡，此類反覆性品質(zhì)變異才可以減少。討論:請舉出在LCD之製程中，空間之變異有哪些。MultiVari個(gè)案研究：轉(zhuǎn)子軸某製造廠生產(chǎn)圓柱的轉(zhuǎn)子軸，””，”的(標(biāo)準(zhǔn)差)散佈，CPK＝。而在下一個(gè)三軸樣本是取在11上午，這些讀數(shù)是類似於最初８上午生產(chǎn)。MultiVari Chart 之製作ABCDEFGHIJ112321234567893X16659546057473822564X25658525037601243395X35866594446485418606X46548485044496060587X56763725952565738608最大6766726057606060609最小56484844374712183910平均575211組平均454545計(jì)算各組最大，最小，小平均，大組平均B8格 =MAX()複製B8，B9格 =MIN()複製B9，B10格 =AVERAGE()複製B10，B11格 =AVERAGE()複製B11，選擇貼上(值)複製B11，至E11複製E11，選擇貼上(值)複製E11，至H11複製H11，選擇貼上(值)畫圖分隔之做法　ABCD　EFG　HIJ1　1　2　32　123　456　7893X1665954　605747　3822564X2565852　503760　1243395X3586659　444648　5418606X4654848　504449　6060587X5676372　595256　5738608最大676672　605760　6060609最小564848　443747　12183910平均57　52　11組平均　　454545練習(xí)為瞭解0402印刷寬度之變異，取3個(gè)MASK，每MASK作4JIG，每JIG取上下兩PACK，每PACK，X方向與Y方向等距離取3點(diǎn)共9點(diǎn)，量測印刷寬度，如下資料，應(yīng)如何解析?1. 若規(guī)格在24010，製程能力CPK=，顯然不足， = ，s = WIDTHY1Y3Y5平均X1X3X5平均WIDTHY1Y3Y5標(biāo)準(zhǔn)差X1X3X5成對比較成對比較類似組件搜尋方法,藉由成對良品和壞品單位的比較，找出兩者之間差異，進(jìn)而根據(jù)其差異分析重要要因。同時(shí)，它也是失敗故障分析的有力工具。2. 稱此為一對，詳細(xì)地觀察記錄在二單位之間的差異。3. 選擇第二對良品和壞品單位。5. 去掉每對中有矛盾方向的差異。為差異的要因分析提供強(qiáng)列的線索。一些被失敗的兩極管被從領(lǐng)域向後地帶來和反對沒有有缺點(diǎn)的好的單位比較。在過去常用的方法為兩組母平均差之檢定，但計(jì)算較為複雜，再過去統(tǒng)計(jì)方法中有很多簡易之計(jì)算方法，其中SHAININ提出兩種容易之方式(1)Lord Test及(2)Tukey Quick Test。C各實(shí)驗(yàn)3次