超聲檢測方法ppt課件(2)-展示頁
2025-05-16 13:53本頁面
【正文】 探頭選擇 目前應(yīng)用最廣 、 數(shù)量最多的超聲換能器是以壓電效應(yīng)為原理的超聲換能器 ， 它將來自發(fā)射電路的電脈沖加到壓電晶片上 ， 變成同頻率的機械振動 ， 從而向被檢測對象輻射出超聲波 。 例如 ， 鑄件應(yīng)選用低頻率 。 當(dāng)然在獲得 B型顯示和 C型顯示的基礎(chǔ)上 ， 通過計算機信號處理技術(shù) ， 可以獲得缺陷圖象的準(zhǔn)三維顯示 ， 具有立體形象 。 C型顯示是很直觀的顯示方法 ， 同時采用高分辨力探頭 ， 主要用于要求高的工件的探傷 。 C型顯示利用探頭在探傷面上的位移與熒光屏上亮點的位移同步 ， 工件如有缺陷 ， 則在熒光屏上相應(yīng)位置就顯示出亮點 。 在 B型顯示中所用示波管的熒光屏是由長余輝熒光物質(zhì)組成 ， 當(dāng)聲束照射大缺陷時 ， 其后面小缺陷和底面反射就無法記錄 。 為了更好地進行定量 、 定位探傷 ， 設(shè)計了可對缺陷幾何形狀作出判斷的儀器 ， 如 B型顯示 、C型顯示 、 準(zhǔn)三維顯示和超聲透視等 。 這種儀器具有結(jié)構(gòu)簡單 、 使用方便和適用面廣等許多優(yōu)點 ， 因此在目前應(yīng)用最為廣泛 ， 在我國已形成系列產(chǎn)品 。 按照超聲波在兩個不同聲阻抗介質(zhì)的界面上將發(fā)生反射 ， 反射能量將取決于界面兩種介質(zhì)聲阻抗的差異大小以及界面的取向和大小 。 在考慮探傷操作要求的同時 ， 還要考慮儀器的自動化程度 ， 同時考慮選擇試塊 、 輔助工具以及耦合介質(zhì)等 。22 超聲檢測方法 221 超聲檢測用儀器與探頭的選擇 (1) 儀器選擇 探傷儀器的選擇 ， 應(yīng)從探傷對象的材料和缺陷的狀況考慮 ， 如果儀器選得不正確 ， 不但導(dǎo)致不可靠的探傷結(jié)果 ， 而且在經(jīng)濟上也帶來損失 。 儀器的選擇應(yīng)從選擇最合適的探頭開始 ， 因為探頭的性能是檢測缺陷的關(guān)鍵 ， 而探傷裝置本身則應(yīng)使探頭的性能獲得最充分地發(fā)揮 。 探頭耦合劑工件缺陷 超聲波探傷儀是根據(jù)超聲波傳播原理 、 電聲轉(zhuǎn)換原理和無線電測量原理設(shè)計的 ， 其中應(yīng)用最廣泛的是脈沖式超聲波探傷儀 。 探頭耦合劑工件缺陷超聲波脈沖式超聲波探傷儀主要分為 A型顯示和平面顯示兩大類，其中 A型顯示超聲波探傷儀如圖 熒光屏上縱坐標(biāo)代表反射波幅度 ， 橫坐標(biāo)代表聲波傳播時間 ， 以缺陷波的幅度和位置來確定缺陷的大小和在工件中的位置 。 A型顯示超聲探傷儀的缺點 ， 是難以判斷缺陷的幾何形狀和缺乏直觀性 。 B型顯示是一種可以顯示出工件的某一縱斷面的顯示方法 ， 探頭移動距離作為橫軸 ， 探傷距離 (深度 )作為縱軸 若對應(yīng)于探頭各個位置的縱向掃查有反射 ， 把它作為輝度變化顯示 ， 以固定速度移動探頭 ， 即完成探傷圖形 。 C型顯示是使探頭工件上縱 、 橫交替掃查 ， 把在探傷距離特定范圍內(nèi)的反射作為輝度變化的顯示方式 ， 能得到平面的橫截面圖 。 早期 C型顯示的缺點是只能檢測出缺陷的長度和寬度 ， 不能測出缺陷埋藏深度 ， 現(xiàn)改用彩色熒光屏顯示 ， 以不同顏色來表示埋藏深度 。 若把接收探頭放在發(fā)射探頭的對面 ， 也就是說把探頭放在被檢工件的兩側(cè) ， 則所得圖象已不是顯示的某斷面 ， 而是超聲投影面 ， 稱為超聲透視 。 選擇探傷裝置時 ， 首先要考慮所要求的探傷條件如頻率高低 。 要探傷裝置能否配合采用高分辨率探頭 ， 能否滿足高靈敏度探傷的高信噪比要求等 。 探頭耦合劑工件缺陷超聲波同時 ， 它又將從聲場中反射回來的聲信號轉(zhuǎn)換成電信號 ， 送入接收 、 放大電路 ， 變?yōu)榭晒┰跓晒馄辽嫌^察和判斷的檢 測信號 。 探頭的迅速發(fā)展給人們留下了深刻的印象 ， 使人們充分認(rèn)識到探頭雖小 ， 但它集中了大量聲
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