電介質(zhì)電導(dǎo)和損耗ppt課件-展示頁
2025-05-10 18:00本頁面
【正文】 導(dǎo)過程。 ai g測量介質(zhì)中電流的電路圖 固體介質(zhì)中的電流與時間的關(guān)系 漏導(dǎo)電流密度 : 可由遷移中的載流子密度 n及其遷移速 度 Vd獲得 式中 E為施加電場強(qiáng)度， e為載流子的電荷量， μ 為載流子的遷移率 Eene n vj d ???Ev d ??Eene n vj d ???Ev d ?? 漏導(dǎo)電導(dǎo)率和電阻率分別為 電導(dǎo)率 σ ： 電阻率 ρ ： ?? enEj ???? 1? 電介質(zhì)中電導(dǎo)特性劃分 以載流子的性質(zhì)劃分，電導(dǎo) （這里指漏導(dǎo)，以下無特別說明均指漏導(dǎo)） 可以分為 電子性電導(dǎo) 和 離子性電導(dǎo) 。 tI0i ci 39。電介質(zhì) 的電導(dǎo)和損耗 電介質(zhì)中的傳導(dǎo)電流 電氣傳導(dǎo)電流概念： 是表征單位時間內(nèi)通過某一 截面的電量 傳導(dǎo)電流的組成： 電介質(zhì)中的傳導(dǎo)電流含漏導(dǎo)電 流和位移電流兩個分量 漏導(dǎo)電流： 由介質(zhì)中自由的或聯(lián)系弱的帶電質(zhì)點(diǎn) 在電場作用下運(yùn)動造成的 位移電流： 由電介質(zhì)極化造成的吸收電流 電介質(zhì)電導(dǎo) ciaigi— 充電電流 — 吸收電流（數(shù)分鐘以上） — 泄漏電流 電介質(zhì)中的電導(dǎo)是由于電介質(zhì)的基本物質(zhì)及其中所含雜質(zhì)分子的化學(xué)分解或熱離解形成帶電質(zhì)點(diǎn) (電子、正離子、負(fù)離子 )，沿電場方向移動而造成的。它是離子式的電導(dǎo)，也就是電解式的電導(dǎo)。 ci 39。 無論是何種電導(dǎo)類型，在低場強(qiáng)下電壓 電流的關(guān)系遵循歐姆定律。 其主要形式為能帶模型、跳躍模型、空間電荷制約電流模型、電子雪崩電流、光傳導(dǎo)電流、場致發(fā)射電流等 電子性電導(dǎo)例一： Shottky Effect 當(dāng)施加電場時，阻礙電子飛出金屬的位壘高度因電場的作用而使實(shí)際的位壘高度下降，導(dǎo)致由電極發(fā)射到介質(zhì)導(dǎo)帶的電子的增加，其結(jié)果是 Ej ?ln 電子性電導(dǎo)例二： PooleFrenkel Effect 肖特基效應(yīng)是電場的作用下實(shí)際位壘高度下降引起的電流的增加，而 PooleFrenkel效應(yīng)是電介質(zhì)內(nèi)部因電場的作用引起實(shí)際位壘高度下降，進(jìn)而使得介質(zhì)內(nèi)部發(fā)射到導(dǎo)帶上的電子增加，也即電流的增加，結(jié)果表現(xiàn)為 E??ln 電子性電導(dǎo)例三： Tunnel Effect 在電子獲得的能量遠(yuǎn)大于位壘高度，而且薄膜厚度小于數(shù)百 197。和其他電導(dǎo)過程不同，隧道效應(yīng)電流與溫度無關(guān) EEj 1:ln2 Shottky和 Tunnel Effect是電極發(fā)射控制電導(dǎo)的過程 而 PooleFrenkel Effect則是體積發(fā)射控制電導(dǎo)的過程 聚乙烯的電流 時間特性例： 在溫度高于室溫附近要達(dá)到穩(wěn)定的漏導(dǎo)電流需要幾個小時的時間，在更低的溫度下，即
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