【正文】 為（ d）： 60或銥 192 用于無(wú)損檢測(cè)是利用其所發(fā)出的（ c） （α）粒子 ？（ b）： 60 137 192 170 ，通過(guò)物質(zhì)時(shí)射線被吸收的程度取決于（ c） 、密度和厚度 192一般對(duì)鋼鐵材料的檢測(cè)范圍為（ c） 192 的半衰期為 75天， 100 居里的射源在 天后大約剩下多少居里？（ c） 192的半衰期為 75 天，當(dāng)其強(qiáng)度為 50Ci 衰減到 30Ci要經(jīng)過(guò)多少天？（ b） 192出廠時(shí)的放射性強(qiáng)度 為 100居里，經(jīng)過(guò) 450 天后其放射性強(qiáng)度為多少居里？ (d) 192 的半衰期為 75天， 10 居里的射源在 天后大約剩下多少居里？（ c） 192γ源的強(qiáng)度為 40Ci，經(jīng)過(guò) 100天后，其強(qiáng)度約為多少？（ b） 192的半衰期為（ c）： 年 192的平均能量為 ，若出廠 5 個(gè)月后，其平均能量為（ a） 192對(duì)鉛的半價(jià)層為（ d）： ，某時(shí)在離射源 2 米處測(cè)得其γ射線照射率， 14天后同一時(shí)刻，再在離該源 米處測(cè)出其照射率與前同，則該源的半衰期為（ a） X 的物質(zhì)后，射線強(qiáng)度的衰減規(guī)律是：（ b） =I0eμ x =I0eμ x =Ieμ x =I0e2μ x （式中：μ 線吸收系數(shù) [衰減系數(shù) ]； e自然對(duì)數(shù)的底； I0射線原有的強(qiáng)度； I射線通過(guò)物質(zhì)后的強(qiáng)度） ，如果被穿透物質(zhì)的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù)μ也越大，試指出下列哪種物質(zhì)的μ最大？（ c）： ，如果被穿透物質(zhì)的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù)μ也越大，試指出下列哪種物質(zhì)的μ最大？（ c）： ，如果被穿透物質(zhì) 的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù)μ也越大，試指出下列哪種物質(zhì)的μ最大？（ c）： ，如果被穿透物質(zhì)的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù)μ也越大，試指出下列哪種物質(zhì)的μ最大？（ c）： ，通過(guò)物質(zhì)時(shí)引起的吸收取決于（ a） ，密度和厚度 80Ci，平均能量為 的同位素源，經(jīng)過(guò) 3 個(gè)半衰期后 ，其平均能量為（ d） 10 （ b）： （ c） （ a） ，但質(zhì)量數(shù)不同 ，但質(zhì)量數(shù)相同 X 射線的強(qiáng)度用可見(jiàn)光的照度來(lái)度量時(shí)，即 用單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)單位截面的什么數(shù)來(lái)度量？（ c） X 射線譜的最短波長(zhǎng)，一般用下列哪一計(jì)算式？（ c） 0=V/ 0=V/1240 0=（式中：λ 0最短波長(zhǎng) [ ]； VKV） X 射線的波長(zhǎng)與（ c） 有關(guān) : X 射線的波長(zhǎng)與（ a）有關(guān) : ，這種作用可用于（ c） ？（ b） 、反射和折射效應(yīng)以及光子對(duì)生成 、散射和干涉效應(yīng)以及電子對(duì)生成 、聚焦和游離效應(yīng)以及偶極子對(duì)生成 ？（ d） ？（ d） ，其數(shù)學(xué)表達(dá)式是：（ b） =h/v=hλ /c =hv=hc/λ =(hv)1=λ /hc =hv2=hc2/λ （式中： E能量 [eV]； h普朗克常數(shù)；λ 波長(zhǎng) [cm]； c光速 [3x1010cm/s]； v頻率 [Hz]） 的機(jī)理主要是和（ a）相互作用 ，光子的波長(zhǎng)增大，運(yùn)動(dòng)方向改變，這是由于哪一效應(yīng)的結(jié)果。假如照射率與到焦點(diǎn)距離平方成反比，則加上（ b） mm厚鋼板后離焦點(diǎn) 4 米處的照射率將變?yōu)?50mR/h： X 射線管焦點(diǎn) 2 米處測(cè)出透過(guò)衰減系數(shù)（吸收系數(shù)）為 X 射線照射率為 ，鋼板對(duì)此射線的半值層為（ a）： 10 毫米，焊冠 3 毫米的鋼焊縫，已知 X 射線對(duì)該試件的半值層為 ，其吸收系數(shù)應(yīng)為（ a） 10 毫米，焊冠 3 毫米的鋼焊縫， 已知 X 射線對(duì)該試件的半值層為 ，其吸收系數(shù)約為（ a） X射線的半值層為 ，如其線質(zhì)在透過(guò)物質(zhì)時(shí)不變，則其（ 1/20）值層應(yīng)為（ a） X射線的（ 1/20）值層計(jì)算值是以其線質(zhì)在透過(guò)物質(zhì)時(shí)不變?yōu)榍疤岬模趯?shí)際情況下的真實(shí)值要比計(jì)算值（ b）： X射線 的半值層計(jì)算值是以其線質(zhì)在透過(guò)物質(zhì)時(shí)不變?yōu)榍疤岬?，在?shí)際情況下的真實(shí)值要比計(jì)算值（ b）： X射線的半值層為 ，如其線質(zhì)在透過(guò)物質(zhì)時(shí)不變，則其（ 1/20）值層應(yīng)為（ a） X 射線的吸收決定于（ d） （約 100KeV～ 10MeV）內(nèi)射線穿過(guò)鋼鐵強(qiáng)度衰減的最主要原因是（ c） I的單色射線通過(guò)厚度為△Χ的材料后，強(qiáng)度減弱△ I，其關(guān)系式為：△ I=μ I△Χ，此式表示下列哪種現(xiàn)象？（ c） （ c）有關(guān) : （ e）有關(guān) : d ？（ d） 方成正比 （ d） ，有（ a） ，射線能量較高，其半值層厚度（ c）： 12 關(guān) X 射線束是（ c）： X 射線束 X 射線束 X 射 線束 X 射線束 X 射線束是（ d）： X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束是（ a） X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束 （ a） ，符號(hào)相反 ，符號(hào)相同 ，符號(hào)相反 ，符號(hào)相同 （ a）： =N0eλ t =N0eλ t =N0eλ t =N0eλ t （式中 N 為經(jīng)過(guò)時(shí)間 t 后尚未衰變的原子數(shù)目， N0為 t=o時(shí)的原子數(shù)目，λ為衰變常數(shù)） ，亦即是該元素原子（ a） （ a）的數(shù)目： ，亦即是該元素原子（ d） c 都對(duì) （ c）： 、中子與電子數(shù)的總和 （ c）： （ a）： 數(shù) (b): （ d）相等： 子、中子、電子的一個(gè)重要不同是（ d） （ a） （ a） （ b） （ d） X 射線穿透厚工件時(shí)，有何特征？（ c） ； （ b） ,寬束是指只有未散射的射線到達(dá)檢測(cè)器。 ； 于膠片和屏的配合不同 X 射線的主要作用是 (c): 13 X 射線束是 (d) X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束 ，下列敘述中正確的是（ b） ， X 射線光譜也是連續(xù)的 ，而 X 射線光譜是連續(xù)的 ， X 射線光譜也是不連續(xù)的 ，而 X 射線光譜是不連續(xù)的 （ d） ，伽瑪射線波長(zhǎng)較長(zhǎng) ，伽瑪射線波長(zhǎng)較短 ，在某些部分兩者的波長(zhǎng)會(huì)有重疊 ，下列哪一種曝光方法是正確的？（ b） X 射線膠片曝光 X 射線膠片曝光 X 射線膠片曝光 X 射線膠片曝光 （吸收），以下哪種材料為最大？（ d）： （吸收），以下哪種材 料為最大？（ d）： （ a）并放出電子： （ d）： （ a）數(shù)目表示的 （ a）有關(guān) （ b）相互作用： 外電子 （ b）： ，主要是和（ a）發(fā)生作用 （ e） （ g） 以上的中子叫做（ a） 1KeV 以下的中子叫做（ b） 102eV左右的中子叫做（ e） （ c）： ，也可能帶負(fù)電 ，由于什么原因增加了底片密度？（ d） ，有助于膠片的曝光 ，不使底片產(chǎn)生灰霧 X 射線或γ射線激發(fā)下發(fā)射出電子 ，在射線照相時(shí)采用熒光增感屏，這是因?yàn)樗谏渚€激發(fā)下產(chǎn)生（ a） ，在射線照相時(shí)采用熒光增感屏，這是因?yàn)樗谏渚€激發(fā)下產(chǎn)生（ d） ，鉛箔被射線激發(fā)出什么粒子使膠片加速感光？（ c） 14 ，鉛箔被射線激發(fā)出什么粒子使膠片加速感光？（ c） X射線而發(fā)出可見(jiàn)光的特點(diǎn)，從而達(dá)到增感的目的，這稱(chēng)之為（ c） X 射線下，會(huì)產(chǎn)生什么情況？（ c） 接觸 （ d） ，下面哪種敘述是正確的？（ b） ，與焦點(diǎn)大小成反比 ，與焦點(diǎn)大小成正比 ，與射源至物體的距離成正比 （ c）時(shí)能夠產(chǎn) 生自由電子，能夠引起固有的不清晰度 D 的定義，其數(shù)學(xué)表達(dá)式是（ a） =lg(L0/L) =lg(L/L0) =lg(L0178。（ b） (b) ，主要由于射線對(duì)物質(zhì)產(chǎn)生的（ b） 16 頓效應(yīng) ，散射射線的波長(zhǎng)較入射射線的波長(zhǎng)（ a）： ，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（ a） ，能量較小的射線 ，能量較大的射線 ，能量較大的射線 ，能量較小的射線 （ c） ，而與時(shí)間成正 比的量 、射線源到被檢件的距離、被檢件到膠片距離等原因，在顯示缺陷的邊緣輪廓時(shí)可能發(fā)生缺乏完整的清晰度，這個(gè)由于幾何原因引起的不清晰度稱(chēng)為（ b）： 、射線源到被檢件的距離、被檢件到膠片距離等原因，在顯示缺陷的邊緣輪廓時(shí)可能發(fā)生缺乏完整的清晰度，這個(gè)由于幾何原因引起的不清晰度稱(chēng)為（ b）： （ a）： =db/f1 =f1b/d =f1d/b =f1/db （式中： Ug幾何模糊度； f1物體表面到射線源的距離； b物體表面到膠片的距離； d焦點(diǎn)大?。? ？（ d） Ug與射源至物件表面的距離（ b）： 與工件間的厚度差成（ a）： d0為射源至試件距離， T為試件厚度， F 為射源大小，則射線照相底片的幾何不清晰度 Ug為（ a） =FT/d0 =Fd0/T =Td0/F =d0/FT （ b）的過(guò)程 （ a） （ c） =h/v =λ /hc = hv = h/v2 （ c）： ，在空氣中電離效應(yīng)最高的是（ a）： X 射線產(chǎn)生于（ a）過(guò)程： ，入射射線光量子的能量既被吸收又被散射的過(guò)程是（ b） X 射線由于與物質(zhì)的相互 作用，使它將被（ c），從而導(dǎo)致透射射線強(qiáng)度發(fā)生衰減 ，其發(fā)生的變化之一是（ c） （ d） ； （ b） （ b） （ b） 17 （ c）相互作用后，產(chǎn)生光電子的現(xiàn)象 （ b） :ε j ε j 》ε j （ c）相互作用后，除波長(zhǎng)不 變的光子外，還出現(xiàn)了波長(zhǎng)變長(zhǎng)的光子的現(xiàn)象 （ c） : ε j ε j 》ε j （ d） : ε j ε j 》ε j （ c）阻止而產(chǎn)生連續(xù) X 射線 （ b）作用，產(chǎn)生靶材的標(biāo)識(shí) X 射線 電子 (a): 、β、γ三種射線的穿透力大小次序?yàn)椋?d） ＞β＞γ ＞α＞γ ＞γ＞α ＞β＞α (a): (c): c.≥ ,光子的一 部分能量用于將電子逐出軌道 ,剩余能量變?yōu)樵撾娮拥膭?dòng)能 :(a) ，使物質(zhì)發(fā)出電子，而射線能量衰減、方向改變，這種現(xiàn)象稱(chēng)為（ b） （ a） 、方向改變 物質(zhì)產(chǎn)生一個(gè)質(zhì)子而光子本身消失 f、速度 c、波長(zhǎng)λ三者之間的關(guān)系是（ c） :=λ c =fλ =fc d.λ =f/c （ a）： 以上 I，穿過(guò)一個(gè)厚度為△ X 的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為△ I，可用△I=181。 為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象？（ d） （ b）： 以上 ？（ a） （ c） （ d） RT