【正文】 λ0 =（ ／ V） (nm) (6－ 4) 一般來說，帶電粒子并非碰撞一次就喪失全部能量，而是碰撞多次才逐步喪失能量，每碰撞一次，帶電粒子僅釋放部分能量；所以實(shí)際過程中產(chǎn)生的 X射線光子能量比hνmax小，也就是波長要比 λ0長。 短波限波長跟靶物質(zhì)的種類無關(guān)，僅取決于電子加速電壓（ V）的大小。因此，它也稱為 軔致輻射、白色 X射線或多色 X射線。 I λ 0 產(chǎn)生的機(jī)理： 連續(xù)光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受到靶原子核的庫侖力作用，突然改變速度而產(chǎn)生的電磁輻射。 X射線光譜分為 連續(xù)光譜和特征光譜 兩類。 在 X射線光譜分析中 X射線的強(qiáng)度定義為單位時間內(nèi)探測器接收到的光子數(shù)，單位用 cps(Count Particle／ Second)或 Kcps表示。 能量： 就是一個光子所具有的能量，用符號 E表示，它的單位用電子伏特 (eV)或千電子伏特 (KeV)。如果用其它長度單位，一定要有腳標(biāo)，如 λnm、 λmm。 X射線度量單位： 在 X射線測量中常用到三個參數(shù)：波長、能量和強(qiáng)度。)X射線。) 軟 (1～ 1 0 197。 X射線可分為： 超硬 ( 197。 = = 1010m，是一種非系統(tǒng)單位，在 X射線光譜分析中 X射線的波長都用 197。 對于 X射線熒光光譜分析者來說，最感興趣的是：波長在 — 24nm之間的 X射線。 通常能量范圍在 ～ 100kev的光子。 第一節(jié) X射線的物理性質(zhì) X射線與 X射線光譜 1) X射線： 1895年德國物理學(xué)家倫琴 （ ）研究陰極射線管時，發(fā)現(xiàn)管的陰極能放出一種有穿透力的，肉眼看不見的射線；由于它的本質(zhì)在當(dāng)時是一個 未知數(shù) ，所以取名 X射線。 譜線的強(qiáng)度和元素含量 的多少有關(guān) , 所以測定譜線的波長 , 就可知道試樣中包含什么元素 , 測定譜線的強(qiáng)度 , 就可知道該元素的含量。 ? 巴西 R C Barroso , 研究人骨 (健康者與患病者 )中元素組成的變動 。 3. 儀器的小型化： 全反射型，多晶高分辨型 ? XRF分析在更多的領(lǐng)域得到應(yīng)用 、生命及環(huán)境領(lǐng)域 、檢測中的應(yīng)用 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 9 環(huán)境、生物、醫(yī)藥 ? 大氣顆粒物樣品中主量和痕量元素的測定 ? 貧血患者頭發(fā)與末稍血中鐵 國內(nèi)的應(yīng)用 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 10 材料及生產(chǎn)流程分析 ? 鋁硅質(zhì)耐火材料中 MgNaFeMnTiSiCaKPAl等元素分析 ? 鋁硅酸鉛鉍玻璃中 Al、 Bi、 Cd、 Mg、 Na、 Nb、 Ni、Pb、 W和 Si的氧化物分析 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 11 地質(zhì)和礦產(chǎn) ? 阿西金礦床流體成礦的元素地球化學(xué)界面及 X熒光測量識別 ? 地質(zhì)物料中 30多個主次痕量元素快速測定 考古和首飾 ? 古青銅錢幣中鉛銅錫的測定 ? 珍貴郵票的快速鑒定 ? 銀首飾 Ag的分析 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 12 國外的應(yīng)用： ? 德國 U Ehrke , 評估旋壓成形的晶片的沾污情況 ? 意大利 L Bonnizzoni ,以粉末懸浮液的全反射 X射線熒光譜分析為基礎(chǔ)、鑒定古代陶瓷 ? 匈牙利 A Auita ,應(yīng)用同步輻射－全反射 X射線熒光譜技術(shù)、分析與航空港有關(guān)的氣溶膠中的痕量元素 ? 巴西 S Moreira , 研究樹木物種作為環(huán)境污染的生物指示劑 ? 德國 M Mages ,斑馬魚 (一種有似斑馬條紋的胎生觀賞魚 )的魚蛋受 V、 Zn與 Cd污 ?日本 T Hirari ,分析具有硅酸鉿沉積物的硅晶片上的痕量金屬 。 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 8 ? XRF新技術(shù)的發(fā)展如： 1. 新型探測器： Si－ PIN和硅漂移探測器、電耦合陣列探測器（ CCD）、及四葉花瓣型（低能量 Ge）探測器。 ② 原子序數(shù)低的元素，其檢出限及測定誤差一般都比原子序數(shù)高的元素差；對于超輕元素 (H、Li 、 Be)，目前還不能直接進(jìn)行分析。 ⑨ 能在 250μ m或 3mm范圍內(nèi)進(jìn)行 定位分析，面掃描成像分析 ；具有在低倍率定性、定量分析（帶標(biāo)樣）物質(zhì)成分。 ⑧ X射線熒光分析也能表面分析，測定部位是 深以上的表面層，可以用于表面層狀態(tài)、鍍層、薄膜成分或膜厚的測定。 ⑥ X射線光譜比其他發(fā)射光譜簡單，易于解析，尤其是定性分析。 ⑤ 分析精度高。 分析元素種類為元素周期表中 5B～ 92U，分析的濃度范圍為 106～ 100%； 一般檢出限達(dá) , 全反射 X射線熒光光（ TXRF）譜的監(jiān)測限可達(dá) 103 ～ 106 。晶體或非晶體的塊狀固體、粉末及封閉在容器內(nèi)的液體或氣體均可直接測定。用多道光譜儀，能在 20至 100秒內(nèi)測定完樣品中全部的待測元素（能同時分析多達(dá) 48種元素）。2021/6/15 物質(zhì)成分的光譜分析 第六章 X射線熒光光譜分析 X射線學(xué) X射線透視學(xué) X射線衍射學(xué) X射線光譜學(xué) X射線熒光光譜分析 ? 1929 年施賴伯 (Schreiber) 首次應(yīng)用 X射線熒光光譜分析 ? 1948 年制造了第一臺用 X光管的商品型 X射線熒光譜儀 目前 X射線熒光光譜分析已經(jīng)成為高效率的現(xiàn)代化元素分析技術(shù)；被定為國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn) (ISO)分析方法之一 2021/6/15 4 X射線熒光光譜分析法的特點(diǎn) 1) 優(yōu)點(diǎn)： ① 由于儀器穩(wěn)定，分析速度快，自動化程度高。用單道 X射線熒光光譜儀測定樣品中的一個元素只需要 5～20秒。 ② X射線熒光光譜分析與元素的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。 2021/6/15 5 ③ X射線熒光光譜分析是一種物理分析方法。 ④ 非破壞分析、測量的重現(xiàn)性好。分析精度 ％ ～ 2％。 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 6 ⑦ 制樣簡單，試樣形式多樣化，塊狀、粉末、糊狀、液體都可以，氣體密封在容器內(nèi)也可分析。 能有效地用于測定膜的厚度 (10層 )和組成（幾十種元素）。 2021/6/15 －－－－－－－－－－－－－ 7