dem數(shù)據(jù)質(zhì)量分析與控制-展示頁
2025-05-22 12:47本頁面
【正文】 們發(fā)現(xiàn)以前 DEM精度模型并不能給出可靠的精度預(yù)測(cè)和評(píng)價(jià)，這也表明在 DEM生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域中對(duì)誤差元素的理論分析和精度模型研究，仍然是一個(gè)比較緊迫的問題。 ? 數(shù)字高程模型精度研究以 1988年為界可分為兩個(gè)階段。數(shù)字高程模型精度的數(shù)學(xué)模型與質(zhì)量控制 數(shù)據(jù)質(zhì)量分析與控制 質(zhì)量控制是 DEM生產(chǎn)中最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)之一，DEM精度的好壞事實(shí)上取決于 DEM的質(zhì)量控制好壞。 影響 DEM精度的因素是多種多樣的，其中 DEM原始數(shù)據(jù)的質(zhì)量是最主要的因素 . 不管采用何種測(cè)量方法，測(cè)量數(shù)據(jù)總會(huì)包含各種各樣的誤差， DEM數(shù)據(jù)也不例外，這些誤差從不同方面影響了 DEM原始數(shù)據(jù)的質(zhì)量，而 DEM原始數(shù)據(jù)的質(zhì)量又將嚴(yán)重影響最終 DEM產(chǎn)品及其派生產(chǎn)品的精度或保真度，因此必須予以專門的處理。 ? 從 1958年數(shù)字高程模型概念提出到 1988年，這個(gè)階段對(duì)DEM精度研究的基本特征是內(nèi)插技術(shù)和數(shù)據(jù)采樣策略研究。對(duì) DEM的誤差分析和精度研究也遍及DEM的各個(gè)環(huán)節(jié)，如 DEM粗差探測(cè)、 DEM質(zhì)量控制、 DEM地形描述精度、 DEM誤差空間分布模式、原始數(shù)據(jù)誤差和地形復(fù)雜度與 DEM精度關(guān)系、 DEM誤差可視化等，提出了各中 DEM精度預(yù)測(cè)公式和誤差修正方法，詳細(xì)研究了 DEM的誤差來源和誤差類型。 高程內(nèi)插誤差 不管采用哪種內(nèi)插算法，內(nèi)插點(diǎn)的計(jì)算高程與實(shí)際 量測(cè)高程之間總存在差值。 誤差表示 DEM的誤差 高程內(nèi)插誤差 原始資料的高程誤差 誤差分類 系統(tǒng)誤差 跟物理方面的因素有關(guān)，也即它們可能源于攝影膠片 的溫度變化或測(cè)量?jī)x器本身。
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