電腦電玩廠檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書-膠袋、進(jìn)貨、晶片、晶振(4個文件)電子行業(yè)檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(舊dram-文庫吧資料
2025-07-21 18:48本頁面
【正文】 本 號 標(biāo) 題 舊 DRAM 檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo) 生 效 日 期 年 月 日 頁 次 第 頁 共 頁 附表 擬制 審核 批準(zhǔn) 序 號 檢驗(yàn)項(xiàng)目 缺 陷 內(nèi) 容 判 定 1 外觀 封裝形式錯，表面破損、破裂，標(biāo)識模糊（無法辯認(rèn)），混料 B 表面嚴(yán)重臟污（影響裝配和上錫） B 引線腳氧化、發(fā)黑（上錫困難）、斷腳、腳短（影響裝配） B 引線腳腳
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