【正文】 記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，搭接標(biāo)記放置的部位還應(yīng)符合附錄 G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測時的透照分段標(biāo)記，可用符號記是連續(xù)檢測時的透照分段標(biāo)記，可用符號 “↑”或其他能顯示搭接情況的方法表示。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向號的方向 ,一般用十字箭頭一般用十字箭頭 “↑→ ” 表示。 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記還應(yīng)有返修標(biāo)記 ,擴大檢測比例的透照應(yīng)有擴大擴大檢測比例的透照應(yīng)有擴大檢測標(biāo)記。 識別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號、對接焊接識別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。（ 5）當(dāng)象）當(dāng)象質(zhì)計放在膠片測時，應(yīng)在檢驗報告像質(zhì)計靈敏度一欄質(zhì)計放在膠片測時，應(yīng)在檢驗報告像質(zhì)計靈敏度一欄中注明中注明注意：（ 1）雙壁雙影最大透照厚度上限； A級為 54mm、 AB為 54mm、 B級為 56mm（表 6）（ 2）小徑管使用專用像質(zhì)計時要看到 2根 標(biāo)記標(biāo)記 透照部位的標(biāo)記由識別標(biāo)記和定位標(biāo)記組透照部位的標(biāo)記由識別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。（ 4）當(dāng)焊縫寬度較大時應(yīng)加長金）當(dāng)焊縫寬度較大時應(yīng)加長金屬絲的長度，或適當(dāng)移動像質(zhì)計的位置。（ 2）像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)僅限于?。┫褓|(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)僅限于小徑管雙壁雙影時使用（徑管雙壁雙影時使用（ 3）） “F”標(biāo)記一般應(yīng)放置在像質(zhì)標(biāo)記一般應(yīng)放置在像質(zhì)計標(biāo)識的右上角。（考慮深槽焊）（ 5）） “ F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的 標(biāo)記標(biāo)記 同時出現(xiàn)在底片上（同時出現(xiàn)在底片上（像質(zhì)計的標(biāo)記是指像質(zhì)計上的標(biāo)準(zhǔn)號）像質(zhì)計的標(biāo)記是指像質(zhì)計上的標(biāo)準(zhǔn)號）應(yīng)用：（、應(yīng)用：（ 1）只有在單壁透照，象質(zhì)計放在膠片測時）只有在單壁透照，象質(zhì)計放在膠片測時才進行對比試驗，其他方式均不用做對比試驗。理解：（、理解：（ 1）在像質(zhì)計擺放原則中對）在像質(zhì)計擺放原則中對 1/4處是一個相處是一個相對概念（對概念（ 2）根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計應(yīng)的）根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計應(yīng)的擺放位置（擺放位置（ 3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光：縫周向曝光： ≥≥ 3；連續(xù)多張一次曝光：；連續(xù)多張一次曝光： ≥≥ 3；球：；球：≥≥ 33 ＋＋ 2）（）（ 4）） 小徑管即可以選用通用線型像質(zhì)計小徑管即可以選用通用線型像質(zhì)計也可以選用專用線型像質(zhì)計（也可以選用專用線型像質(zhì)計（ 4）像質(zhì)計的觀察）像質(zhì)計的觀察 一般一般在母材上而不是在焊縫上。 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。 c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質(zhì)計數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求 : a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置 3個像質(zhì)計 。d) 當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字 “F”作為標(biāo)記， F標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報告中注明。c) 單壁透照中像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)進行對比試驗。雙壁雙影透照像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。 像質(zhì)計放置原則像質(zhì)計放置原則a) 單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。理解：（ 1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準(zhǔn)直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件（ 2）屏蔽和控制散射線與檢測技術(shù)級別無關(guān)（ 3）背散射檢查的前提條件（初次制定的檢測工藝或當(dāng)在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變）應(yīng)用：對不是初次制定的檢測工藝或在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時，不用每次都進行背散射檢查注意：在薄工件或不用增感屏?xí)r，有時會出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的 “B”字影像 像質(zhì)計的使用像質(zhì)計的使用 像質(zhì)計一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長度的 1/4左右位置） ,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細絲置于外側(cè)。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的 “B”字影像，則說明背散射防護不夠 ,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚度。 對初次制定的檢測工藝或當(dāng)在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時 ,應(yīng)進行背散射防護檢查。理解：（ 1）曝光曲線是針對 X射線機（ 2）每臺 X射線機必須有曝光曲線且不能混用（ 3）射線設(shè)備重要部件是指 X射線管和高壓包應(yīng)用：（ 1）曝光曲線橫坐標(biāo)上的厚度應(yīng)是穿透厚度（ 2）當(dāng)實際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時，必須對曝光曲線作相應(yīng)的修正。 對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗一次。注意：對小口徑薄壁管采用 γ射線源透照時，強度不宜太大 曝光曲線曝光曲線 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。min、當(dāng)焦距小于 700mm時，曝光量可小于或等于 15mA理解：（ 1）曝光量的大小與焦距有關(guān)（ 2） X射線的曝光量的選擇與檢測技術(shù)級別有關(guān)（ 3）采用 γ射線源透照時，在某一時段焦距是在不斷變化，為保證底片質(zhì)量，從而確定了總的曝光時間應(yīng)用：以 AB級為例：當(dāng)焦距 700mm時，曝光量應(yīng)大于或等于 15mA當(dāng)焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。min； B級射線檢測技術(shù)不小于 20mA應(yīng)用：（ 1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（ 2）工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定，同時應(yīng)考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度注意：由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距離。 體現(xiàn)了采用單壁透照的原則。減小值與檢測技術(shù)級別無關(guān)，與透照方式有關(guān)。 采用源在內(nèi)單壁透照方式時，只要得到的底片質(zhì)量符合 ， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。 有效焦點尺寸 d 按附錄 E（規(guī)范性附錄）的規(guī)定計算。b 2/3 － B 級射線檢測技術(shù)： f ≥ 15d 射線源至工件表面的最小距離射線源至工件表面的最小距離 所選用的射線源至工件表面的距離 f應(yīng)滿足下式的要求： － A 級射線檢測技術(shù)： f ≥ 注意：（ 1）最小透照厚度以公稱厚度計算。如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。如最小透照厚度小于 10mm時，即使合同各方同意也不能實施。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達到 ，經(jīng)合同各方同意， A 級 ,AB級技術(shù)的 Ir192源的最小透照厚度可降至 10mm， Se75源的最小透照厚度可降至 5mm。 Ｘ 射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表 4的規(guī)定。理解：（ 1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術(shù)級別無關(guān)（ 2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避免影響小缺陷的檢出率。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖 1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。在采用較高管電壓時，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊?05mm）（ 2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的 100%檢測，此時應(yīng)采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。透照 3次。垂直透照重疊成像時，一般應(yīng)相隔120176。或60176。透照 2次。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。 （在用設(shè)備）注意：其他方式透照環(huán)向?qū)咏宇^時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。 （ 3）一次透照長度與檢測技術(shù)級別有關(guān)。理解：（ 1）單壁透照最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷，但并不是最便捷的透照方法。 不同級別射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表 3的規(guī)定。 透照方向 透照時射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。注意：盡管兩個標(biāo)準(zhǔn)的某些條款內(nèi)容相同或相近，但在使用中不能相互代替。（ 2）在兩個標(biāo)準(zhǔn)都提出了輻射照射量的新名詞 《 比釋動能 》 和 《 空氣比釋動能率 》 ，比釋動能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。返修焊縫應(yīng)采用 AB級或達到 AB級靈敏度 輻射防護輻射防護 放射衛(wèi)生防護應(yīng)符合 GB 1887 GB 16357和 GB 18465的有關(guān)規(guī)定。注意：底片靈敏度必須達到相應(yīng)技術(shù)級別的規(guī)定。理解：（ 1）承壓類設(shè)備的制造、安裝、在用的檢測技術(shù)級別一般不應(yīng)低于 AB級 （ 2）承壓設(shè)備在用檢測特殊情況下可以采用 A級檢測技術(shù) （ 3）檢測方技術(shù)負責(zé)人系指無損檢測單位的技術(shù)負責(zé)人，如是制造、安裝單位或檢驗單位，檢測方技術(shù)負責(zé)人是指該單位的總工程師或分管技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo) （ 4）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。 承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制制 ,檢測的某些條件不能滿足檢測的某些條件不能滿足 AB級射線檢測技術(shù)的要求時級射線檢測技術(shù)的要求時 , 經(jīng)檢經(jīng)檢測方技術(shù)負責(zé)人批準(zhǔn)測方技術(shù)負責(zé)人批準(zhǔn) ,在采取有效補償措施（例如選用更