grr目視系統(tǒng)與cpk制程能力指數(shù)-文庫吧資料
2025-02-22 07:43本頁面
【正文】 nd5 (used in putations) NAME: Study CoOrdinator1 pass ITEM: Name and Number (Identification) All operators2 fail LOCATION: Where Study took place agree within and All Operatorsbetween each agree withOther standardKnown Population Y/N Y/NSample Attribute Try 1 Try 2 Try 1 Try 2 Try 1 Try 2 Agree Agree1 pass pass pass pass pass fail fail N N2 pass pass pass pass pass fail fail N N3 fail fail fail fail pass fail fail N N4 fail fail fail fail fail fail fail Y YOperator 1 Operator 2 Operator 3所有的檢查者對樣品的判定與標準是否一致 . ? 靜夜四無鄰，荒居舊業(yè)貧。 Cp:製程能力 ?Cp(製程能力 ):Cp=TOL/6σ ?設(shè)計公差與制程整個變異的比值 ,它反映的是設(shè)計的極限指數(shù) .是對制程潛在能力的測定 ,一個高的 Cp指數(shù)表明制程具有好的潛在的再制能力 ?反映數(shù)據(jù) (尺寸 )的波動范圍大小 ,Cp數(shù)值越大 ,尺寸波動越小 ,製程能力越充足 . Cpk:製程能力指數(shù) ? Cpk(製程能力指數(shù) ):反映製程滿足實際尺寸要求的能力 ,Cpk數(shù)值越大 ,製程越能保證實際尺寸的加工要求 , ?規(guī)格確定的中心值與制程變異相關(guān)聯(lián)的狀況 ,它是反映制程實際能力的指數(shù) .一個較高的 Cpk指數(shù)表明制程實際的生產(chǎn)再制能力在要求的范圍內(nèi) . Cpu=(USLAVERAGE)/3σ Cpl=(AVERAGELSL)/3σ Cpk=MIN(Cpu,Cpl) (對形位公差 ,尺寸不可能小于設(shè)計下限值 ,因而 Cpk=Cpu) Cp=Cpk (僅在實際加工尺寸平均值與設(shè)計中值相等時 Cp=Cpu=Cpl=Cpk) 樣本選擇與結(jié)果判定 用作量測分析的產(chǎn)品尺寸和樣本大小的選取由供應商與客戶協(xié)商確定 . 樣本應有足夠大小 ,以減少抽樣誤差 ?對製程的判定 : Cpk 製程能力不足 =Cpk= 製程能力滿足 Cpk 製程能力過足 GRR 精密量測實驗室 : 肖貴喜 2023/4/1 Gauge Repeatability and Reproducibility 華南檢測中心 目錄 ? 量測系統(tǒng)構(gòu)成 ? 量測系統(tǒng)變異 ? 系統(tǒng)分析概述 ? DELL GRR實驗設(shè)計 ? NOKIA GRR實驗設(shè)計 ?什麼叫 GRR? ?為 何要研究 GRR? ?如何進行 GRR設(shè)計與分析 量測系統(tǒng)構(gòu)成 量測系統(tǒng) 環(huán)境 標準件 操作者 量具 Measurement Error True Value Measurement System Observed Data 量測系統(tǒng)之變異 v量測值 = v真值 + v誤差 量測系統(tǒng)之統(tǒng)計特性 ?進行制程能力分析的先決條件 : 量測系統(tǒng)有足夠的能力 ?量測系統(tǒng)均頇在統(tǒng)計管制下而其所產(chǎn)生之變異應根源于共同原因 ,而非特殊原因 ?量測系統(tǒng)之變異頇相對小于生產(chǎn)製程之變異 ?量測系統(tǒng)之變異頇相對小于規(guī)格界限 ?量測系統(tǒng)之最小刻度頇相對小于製程變異或規(guī)格界限之較小者 量測系統(tǒng)分析術(shù)語 ?準確度 (Accuracy) ?重複性 (Repeatability) ?再生性 (Reproducibility) ?穩(wěn)定性 (Stability) ?線性 (
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