【正文】 nitab屬性控制圖 變量控制圖 屬性控制圖 數(shù)據(jù)收集較難 數(shù)據(jù)收集更簡(jiǎn)單必須具有精確的測(cè)量值 可以使用現(xiàn)有的檢 查報(bào)告或其他記錄需要的樣本大小較小 需要的樣本大小較大提供有關(guān)過(guò)程的信息 只提供有關(guān)瑕疵或缺更多 陷比率變化的信息Minitab屬性控制圖變量控制圖和屬性控制圖的功能。在此情況下，要使用變量數(shù)據(jù)。? 可以通過(guò)按產(chǎn)品是否滿足規(guī)格來(lái)分類，從而將變量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為屬性數(shù)據(jù)。這是 瑕疵 數(shù)據(jù)，它采取Poisson 分布的形式。 ? 數(shù)據(jù)是計(jì)數(shù)值，例如表面劃痕數(shù)、事故數(shù)或印刷錯(cuò)誤數(shù)。Minitab? 何時(shí)使用屬性與變量控制圖? 在以下情況下具有屬性數(shù)據(jù)：? 數(shù)據(jù)只能取兩個(gè)值中的一個(gè)值，例如通過(guò) /失敗、去 /不去或出席 /缺席；在服務(wù)呼叫中心中，來(lái)電不是被應(yīng)答（成功）就是未被應(yīng)答（失?。?。? 使用 IMR 控制圖繪制合并的控制圖，以評(píng)估當(dāng)數(shù)據(jù)為單個(gè)觀測(cè)值時(shí)，過(guò)程中心和變異是否受控。ZMR控制圖 MinitabIMR 控制圖? IMR 控制圖是合并的控制圖，包括：? 單值 I 控制圖，它圖示了每個(gè)單個(gè)觀測(cè)值，并提供了評(píng)估過(guò)程中心的方法。? 短期控制圖 合并來(lái)自同一過(guò)程 的不同運(yùn)行的數(shù)據(jù)并加以 標(biāo)準(zhǔn)化 ，以便能夠在一個(gè)控制圖中標(biāo)繪這些數(shù)據(jù)。MinitabZ控制圖（標(biāo)準(zhǔn)化的 I圖）ZMR控制圖? 使用 ZMR 控制圖評(píng)估 短期過(guò)程 是否受控制?？刂葡孪藓涂刂粕舷奘冀K分別是 3 和 +3。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)來(lái)自 m = 0 且 sigma = 1 的總體。? 中心線（綠色），它是所有運(yùn)行的過(guò)程平均值的估計(jì)值。Minitab? 使用 Z 控制圖可評(píng)估 過(guò)程中心 是否受控制。? R 控制圖或 S 控制圖： 使用變異的樣本內(nèi)分量繪制過(guò)程變異的控制圖。這消除了控制限制中變異的樣本內(nèi)分量。此控制圖使用連續(xù)平均值之間的移動(dòng)極差來(lái)確定控制限制。? 隨著時(shí)間的推移，過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)偏移或漂移，因此接下來(lái)的五個(gè)部件樣本可能會(huì)與以前的樣本不同。Minitab? 在子組中收集數(shù)據(jù)時(shí)，總體過(guò)程變異的來(lái)源可能有三類：隨機(jī)誤差 +樣本間變異 +樣本內(nèi)變異。? 移動(dòng)極差 (MR) 控制圖。? 控制限制（紅色），位于中心線的上方和下方，這些限制可提供移動(dòng)極差中預(yù)期變異量的直觀顯示。 移動(dòng)極差 MR控制圖 MinitabMinitab? MR 控制圖包括下列各項(xiàng)：? 移動(dòng)極差的標(biāo)繪點(diǎn)，即兩個(gè) 連續(xù)點(diǎn)之間差的絕對(duì)值 。? 每個(gè)標(biāo)繪點(diǎn)或移動(dòng)極差都只是 兩個(gè)連續(xù)測(cè)量值之間差的絕對(duì)值 。? 控制限制（紅色），位于中心線的上方和下方 3 s 的距離處，這些限制可提供單個(gè)樣本值中預(yù)期變異量的直觀顯示。Minitab單值的變量控制圖? Minitab 最多可對(duì)單值控制圖執(zhí)行 8 種特殊原因檢驗(yàn)單值的變量控制圖 MinitabI 控制圖包括下列各項(xiàng)：? 每個(gè) 單個(gè)觀測(cè)值的標(biāo)繪點(diǎn) 。? 如果過(guò)程變異不受控制，則 I 控制圖的控制限制將不準(zhǔn)確，可能無(wú)法準(zhǔn)確地確定過(guò)程的受控制情況。? 當(dāng)某個(gè)觀測(cè)值通不過(guò)檢驗(yàn)時(shí)， Minitab 將在會(huì)話窗口中對(duì)其進(jìn)行報(bào)告，并在 I 控制圖中對(duì)其進(jìn)行標(biāo)記。? 使用 I 控制圖確定 過(guò)程中心 是否受控制。XbarS控制圖 Minitab單值的變量控制圖I控制圖Z控制圖MR控制圖ZMR控制圖IMRR/S控制圖XbarS控制圖 Minitab? 前面所述的控制圖都是子組容量大于 1? 如果子組只有一個(gè)樣本時(shí)，需要采用個(gè)體值控制圖（ individual sample size）? 此時(shí)的控制線需用移動(dòng)極差 MR來(lái)估計(jì)Minitab單值的變量控制圖? 單值 I 控制圖允許您監(jiān)控當(dāng)數(shù)據(jù)是 單獨(dú)的測(cè)量值時(shí) 的質(zhì)量特征。在這種情況下，缺乏控制的原因?qū)⑹沁^(guò)程中心中的不穩(wěn)定變異，而不是實(shí)際更改。 ? S 控制圖必須受控制，才能解釋 Xbar 控制圖。MinitabXbar –R控制圖Xbar –R控制圖 MinitabXbarS控制圖? 使用 Xbar 和 S 控制圖可在一個(gè)頁(yè)面中繪制子組平均值的控制圖和子組標(biāo)準(zhǔn)差的控制圖（ S 控制圖）。? 在這種情況下，缺乏控制將歸因于過(guò)程中心中的不穩(wěn)定變異，而不是其中的實(shí)際變化。將這兩個(gè)控制圖放在一起解釋，可以 同時(shí)跟蹤 過(guò)程中心和過(guò)程變異，并檢測(cè)是否存在特殊原因。R 控制圖對(duì)較小的子組很有效。? S 控制圖能夠更準(zhǔn)確地指示過(guò)程變異，并且生成一個(gè)對(duì)過(guò)程平均值中較小更改非常敏感的控制圖。? 這兩個(gè)控制圖都能為 Xbar 控制圖生成相似的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)和相似的控制限制。S控制圖 Minitab? Minitab 最多可對(duì) S 控制圖執(zhí)行 4 種特殊原因檢驗(yàn)S控制圖 MinitabS控制圖 Minitab? S 控制圖和 R 控制圖都可測(cè)量 子組變異性 。 ? 中心線（綠色），該線表示 過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差 （所有子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值）的估計(jì)值。? S 控制圖通過(guò)監(jiān)控 子組內(nèi) 的差異可以檢測(cè) 過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差 中的變化。但是，注意到中心線在 處，幾乎是供應(yīng)商 1 的 R () 的三倍。從該控制圖中，可以看到有兩個(gè)點(diǎn)在控制上限以上。供應(yīng)商 1 的平均極差為 毫米。例題Minitab例題? 根據(jù) X 和 R 控制圖，供應(yīng)商 1 的平均值和極差似乎都受控。每個(gè)供應(yīng)商的數(shù)據(jù)分別存儲(chǔ)在工作表的 “供應(yīng)商 1”和 “供應(yīng)商 2”列中。這種情況發(fā)生在峰值 59599 和 601 處，因此可能要處理多種獨(dú)立的不同分布。?創(chuàng)建直方圖。 例題Minitab?一般情況下，我們期望變量（如 “ 長(zhǎng)度 ” ）服從正態(tài)分布。利用 Minitab 的八個(gè)特殊原因的檢驗(yàn)指出變異模式。希望繪制的點(diǎn)隨機(jī)地落在控制限制內(nèi)。?凸輪軸長(zhǎng)度超出規(guī)格會(huì)導(dǎo)致從生產(chǎn)線下線的裝配件配合得很差，產(chǎn)生大量廢料并大幅提高了返工率?一個(gè)月中，對(duì)每個(gè)班次收集五個(gè)凸輪軸的長(zhǎng)度數(shù)據(jù)（每個(gè)班次 1 個(gè)大小為 5 的樣本），以評(píng)估該部件的產(chǎn)品質(zhì)量，數(shù)據(jù)在 “凸輪軸 .MTW” 。? 在會(huì)話窗口中可顯示完整結(jié)果。R控制圖 Minitab? Minitab 最多可對(duì) R 控制圖執(zhí)行 4 種特殊原因檢驗(yàn)。? 中心線（綠色），該中心線是過(guò)程變異（所有子組極差的平均值 ）的估計(jì)值。? 不受控制的極差控制圖說(shuō)明在 相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)生產(chǎn)的兩個(gè)部件之間存在顯著的差異。混合模式的發(fā)生條件是：這些點(diǎn)具有避開(kāi)中心線的趨勢(shì)，但在控制限制附近繪制。 Minitab特殊原因檢驗(yàn)? 檢驗(yàn) 8 連續(xù) 8 個(gè)點(diǎn)距離中心線超過(guò) 1sigma（任一側(cè)）。? 檢驗(yàn) 7 識(shí)別出一種變異模式，有時(shí)會(huì)將該模式誤認(rèn)為是良好的控制顯示 。? 檢驗(yàn) 6 評(píng)估過(guò)程中較小偏移的變異模式 。? 檢驗(yàn) 5 評(píng)估過(guò)程中較小偏移的變異模式 。? 變異模式應(yīng)當(dāng)為隨機(jī)，但是當(dāng)某個(gè)點(diǎn)通不過(guò)檢驗(yàn) 4 時(shí)，這說(shuō)明變異模式可預(yù)測(cè)。 Minitab特殊原因檢驗(yàn)? 檢驗(yàn) 4 連續(xù) 14 個(gè)點(diǎn)上下交錯(cuò)。? 檢測(cè)到一種趨勢(shì) ，或持續(xù)上移或下移。? 檢驗(yàn) 2 評(píng)估變異模式是否穩(wěn)定 。? 檢驗(yàn) 1 提供出最強(qiáng)有力的缺乏控制證據(jù)。Minitab特殊原因檢驗(yàn)? 檢驗(yàn) 1 一個(gè)點(diǎn)距離中心線超過(guò) 3sigma。? 如果數(shù)據(jù)