生產(chǎn)測井資料的解釋及應用-文庫吧資料
2025-01-19 08:39本頁面
【正文】 層產(chǎn)水量 ，以下各點以此類推 。Yw2（ m3/d） 第三點合層產(chǎn)水量： Qw3=Q3 產(chǎn)出剖面測井資料的解釋方法及應用 1． 計算合層產(chǎn)水量 第一層合層產(chǎn)水量 Qw1=Q1 即取得各個產(chǎn)液層之間的夾層位置解釋點資料 ， 綜合處理得出各解釋點合層產(chǎn)出結果 （ 合層產(chǎn)液量 、 合層產(chǎn)油量 、 合層產(chǎn)水量及合層產(chǎn)氣量 ） ，然后逐層遞減 ， 即可得出分層的油 、氣 、 水產(chǎn)出狀況 。 依據(jù)流體力學的基本原理 ，井內(nèi)流體流動分析離不開對流速 、流體密度 、 溫度 、 壓力以及各相介質(zhì)分布型態(tài)等相對關系的研究 。若想獲得可靠的反映油井變化的產(chǎn)出剖面結果 ， 除了選擇適當測井儀器錄取真實資料外 ， 還必須建立起適應各種測井儀器的處理井下不同流動特性的解釋方法 。 放射性同位素示蹤法測井 （ 三 ） 應用 1． 定量測出分層水量 2． 定性判斷套管漏失點如：文檢 2井 （ 吸水剖面 ） 3． 可發(fā)現(xiàn)套管竄槽 ( 如文側(cè) 1540井 ) 4． 利用水井注入剖面定性推測產(chǎn)出剖面 （ 1） 吸水剖面基本反映了連通油井同期的產(chǎn)液剖面 （ 2） 油井水淹層明顯地對應著主力吸水層 （ 3） 隨著吸水剖面的變化 ， 連通油井產(chǎn)出剖面也相應地變化 。 放射性同位素示蹤法測井 2． 現(xiàn)場施工的影響 目前應廣泛使用井口防噴測井工藝 ，但有些井井口壓力過高造成儀器下井困難 ， 部分單位在井口放溢流 ， 降低井口壓力 ， 雖然可以加快施工速度 ， 但破壞了正常注水情況下各層吸水的啟動壓力 ，造成層間干擾 ， 不能真實反映真實的吸水剖面情況 。 目前還沒有針對同位素微球進入地層而造成的散失進行解釋中的校正模型研究 。 而地層在長期注水沖刷以及不斷地改造中 （ 如酸化 、 壓裂 ） ， 使地層的原生孔隙及裂縫增大 ， 使得測井時微球不能可靠地吸附在井壁上 ，特別是當注水量大 、 注水速度高時 ， 微球被推進地層的深部 ， 造成了滲透性好 、 吸水能力強的層位 ， 所測得的放射性同位素曲線幅度變小或無顯示 。 放射性同位素示蹤法測井 常見放射性同位素物理特征表 放射性同位素示蹤法測井 名稱 分子式 半衰期（ d） 伽瑪射線能量MeV 59Fe FeCl3 45 ～ 65Zn ZnCl2 250 110Ag AgNO3 260 ～ 131I NaI ～ 131Ba Ba(NO3)2 ～ 131BaGTP微球 BaCl3 ～ 三 、 放射性同位素示蹤法測吸水剖面的解釋及應用 放射性同位素示蹤法測井 （ 一 ） 解釋步驟： 繪圖 → 測井曲線深度校正 → 繪制疊合基線 → 繪制疊合曲線 → 繪制施工管柱 → 吸水層位的劃分 （ 異常值若過泥巖段基線值 ， 定為吸水層 ） → 相對吸水量解釋 放射性同位素示蹤法測井 相對吸水量計算公式： Bi= 100% Bi—— 某層相對吸水量 ， %； Si—— 某層吸水面積 ， cm2； —— 全井吸水面積之和 ， cm2。 通過對比同位素載體在地層濾積前 、 后所測得的伽瑪測井曲線 ， 計算對應射孔層位上曲線疊合異常面積的大小 ， 反映了該層的吸水能力 ， 采用面積法解釋各層的相對吸水量 ， 從而可確定注入井的分層吸水剖面 。 放射性同位素示蹤法測井 一 、 工作原理 是使用一次下井同位素釋放器攜帶固相載體（ GTP塑性微球混凝 ） 的放射性同位素離子 ， 在規(guī)定深度上釋放 ， 用井內(nèi)注水形成活化懸浮液 ， 吸水層同時也吸收活化懸浮液 。用以判斷巖層特性 、 井身技術狀況或油層動態(tài) 。 井下溫度測試 井下溫度測試 測定地層壓裂裂縫 第二節(jié) 放射性同位素示蹤法測井 放射性同位素示蹤法測井是一種利用放射性物質(zhì)人為提高地層的伽瑪射線強度 ， 用來研究井的注入剖面和井身技術狀況的方法 。如文 1068井（井溫找水曲線） 2．用井溫剖面曲線判斷油井出水層位 井下溫度測試 3． 確定壓裂裂縫形成部位 油水井壓裂后 ， 通常是壓開層進入壓裂液最多 ， 壓裂液擠入油層后 ， 將引起壓開層低溫異常 。這樣 ， 水就使吸水層偏離了正常溫度變化規(guī)律 ， 其偏離的程度與吸水層的注水量及注水強度度有關 。 若注熱水 ， 熱水加熱了吸水層 ， 使其溫度升高 。若注入冷水 ， 水溫在吸水層處溫度顯低值 。 （二）檢查井底熱洗措施效果 井下溫度測試
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