第三章電氣設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)-文庫(kù)吧資料
2025-01-02 06:32本頁(yè)面
【正文】 A BGRx當(dāng)電橋平衡時(shí)，檢流計(jì)中無電流流過，各臂阻抗?jié)M足關(guān)系式： v當(dāng)電橋平衡時(shí)， C4的微法數(shù)就等于被試品的 tgδ值。套管、電力變壓器、互感器和某些電容器。如果絕緣缺陷是集中性的（非貫穿性的），或缺陷部分在整個(gè)絕緣中占很小的體積，則該方法不很有效。?通過測(cè)量 tgδ值可以發(fā)現(xiàn)絕緣的分布性缺陷。高壓引線引起的雜散電流帶來的測(cè)量誤差R1外加直流電壓的穩(wěn)定性216。絕緣表面狀況216。脈動(dòng)系數(shù)＝ [（最高值－最低值）/2]100%測(cè)量泄漏電流的影響因素v與絕緣電阻測(cè)量相同的影響因素216。采用（多級(jí)）串級(jí)倍壓整流電路 （實(shí)驗(yàn)講義）v要求216。 Time?1min直流高壓的產(chǎn)生方式與要求 v產(chǎn)生216。因試驗(yàn)電壓提高，試驗(yàn) 靈敏度和準(zhǔn)確性較高試驗(yàn)設(shè)備要求提高發(fā)電機(jī)的泄漏電流變化曲線 曲線 1：絕緣良好的發(fā)電機(jī)；曲線 2：絕緣受潮；曲線 3：絕緣中已有集中性缺陷；曲線 4：有危險(xiǎn)的集中性缺陷。測(cè)量簡(jiǎn)單易行，有時(shí)很有效：整體受潮等試驗(yàn)電壓相對(duì)較低，靈敏度和準(zhǔn)確性較低5000/（ 1101000 ）v直流泄漏電流試驗(yàn) 提高試驗(yàn)電壓216。27186。測(cè)量時(shí)必須記錄設(shè)備溫度實(shí)例：同步電機(jī)干燥前后絕緣電阻的變化 干燥前（受潮）， 15186。造成吸收現(xiàn)象不明顯216。被試品接在端子 “E”和“L”之間216。絕緣普遍受潮時(shí)， K接近 1v極化指數(shù)216。K=R60“ ／ R15”216。在設(shè)備絕緣上施加確定的直流電壓，經(jīng)過一定時(shí)間（通常為 60秒）后呈現(xiàn)的電阻值。C， 、 r支路反映有損極化216。? 固體介質(zhì)的損耗 ? 分子式? 離子式? 不均勻結(jié)構(gòu)? 強(qiáng)極性? 損耗情況比較復(fù)雜 ? 損耗與溫度密切相關(guān)干紙的損耗與溫度的關(guān)系1－ 1kHz2－ 10kHz3－ 100kHz四、電介質(zhì)的一般等值電路 216。? 極性： 電導(dǎo)和極化損耗。 ? 預(yù)防性試驗(yàn)時(shí)要注意絕緣表面的影響！水滴在兩類介質(zhì)上的分布狀態(tài)(a)親水介質(zhì) (b)疏水介質(zhì) 三、電介質(zhì)的能量損耗 ? 介質(zhì)損耗：電導(dǎo)損耗、有損極化W=P+jQ=U(Ir+jIC)=UIr+j UIC介質(zhì)損失角的正切 tgδ ：衡量介質(zhì)的損耗特性 液體介質(zhì)損耗與溫度的關(guān)系? 氣體介質(zhì)的損耗 ? 無碰撞電離時(shí)，損耗由電導(dǎo)引起，損耗極?。? 發(fā)生放電時(shí)，損耗劇增（如電線上的電暈損耗 ）。? 電子電導(dǎo)：? 電導(dǎo)與外施場(chǎng)強(qiáng) E關(guān)系密切。? 極性和強(qiáng)極性液體電介質(zhì)電導(dǎo)率大，故不宜作為絕緣材料（水）。 ? 電泳電導(dǎo)： ? 較大的膠體吸附電荷后，變成帶電質(zhì)點(diǎn)。AdIsISIV?（ 2）表面電阻率： 單位長(zhǎng)度的 正方形 表面積上，相對(duì)兩邊之間測(cè)得的電阻。? 固體電介質(zhì)的電阻率（ 1）體積電阻率： 單位長(zhǎng)度的 正方體 的電介質(zhì)中，所測(cè)得的其兩相對(duì)面上的電阻。? 電介質(zhì)的電導(dǎo)一般是指離子性電導(dǎo)。? 電子電導(dǎo)：? 以自由電子為載流子。固體介質(zhì)中性或弱極性石蠟聚苯乙烯聚四氟乙烯松香～ ～ ～ ～ 極性纖維素膠木聚氯乙烯～ 離子性 云母電瓷5～ 7～ 工程意義：1）選擇絕緣材料2）多層介質(zhì)合理配合
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