降低光纖接頭熔接損耗的方法-文庫吧資料
2024-08-31 19:45本頁面
【正文】 需制作光纜牽引端頭，施工中光纜的彎曲半徑應大于光纜直徑的20倍，光纜必須從統(tǒng)盤上方放出并保持松馳弧形且無扭轉、嚴禁打小圈彎折扭曲等，從而盡可能地降低光纜中光纖受損傷的幾率，避免因光纜端部的光纖受損傷而使接頭熔接損耗增大。根據(jù)筆者實踐及有關資料介紹，建議可采取如下措施來降低光纖接頭的熔接損耗。非本征因素則是指各種人為因素及儀器設備等因素對熔接損耗的影響，如：熔接時光纖未對準，使兩根光纖纖芯的軸線徑向偏移；兩根光纖軸向傾斜在傾斜角達1度時熔接損 dB；dB；接續(xù)者的操作水平也影響熔接損耗，有資料介紹同樣的儀器設備由不同的人操作，；此外，接線包中光纖的盤繞、預留光纜的盤繞、熔接機的熔接參數(shù)設置和放電電極的清潔狀況，以及接續(xù)工作環(huán)境是否潔凈等對光纖熔接損耗均有不同程度的影響。3影響光纖接頭熔接損耗的主要因素 光纖熔接損耗的影響因素可分為本征因素和非本征因素。下面以江蘇廣播電視光纜傳輸省干線網(wǎng)所用的8芯層絞式永鼎光纜為例簡介遠端環(huán)回雙向監(jiān)測法。遠端環(huán)回雙向監(jiān)測法即是將光線內的光纖臨時作環(huán)接構成回路，從而可對光纖接頭進行雙向測量，避免了單向測量不能及時獲得熔接損耗值的缺點，這種測量方法要求OTDR的儀器測量距離范圍要大，但因測量方法過于復雜因而只適用于12芯以下的光纜。近端監(jiān)測法即OTDR始終在接續(xù)點前邊距接續(xù)處一個光纜盤長，缺點是OTDR需不斷向前移動，影響儀器的使用，優(yōu)點是OTDR的測量范圍不要求太大。由于光纖的折射率、芯徑、模場直徑及瑞利散射系數(shù)的不同，所以從光纖接頭兩端分別測量熔接損耗得到的兩個方向的熔接損耗測量值是不同的且相差較大，故GB／T15972－1995《光纖技術規(guī)范》附錄A《光纖后向散射功率曲線分析》規(guī)定，熔接損耗的測量應分別從光纖接頭的兩端進行測量，亦即雙向測量，取兩個方向測量值代數(shù)和的平均值作為該接頭處熔接損耗值；由于被接續(xù)的兩根光纖散射性能的差異，OTDR測得光纖接頭的熔接損耗值可能為正值也可能為負值，對熔接損耗為負值的光纖接頭可認為熔接合格，一般不重新熔接；熔接時每個接頭的熔接損耗的OTDR測量值一般應小于熔接損耗所要求的指標值的1／2－2／3，
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