模電課程設(shè)計(jì)：紙張厚度檢測電路設(shè)計(jì)-文庫吧資料
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【正文】 參考文獻(xiàn) Reference維庫電子市場網(wǎng)電子元器件資料查詢網(wǎng)百度知道源來儀器采購網(wǎng)X射線熒光法檢測紙張厚度___郭偉 賴萬昌 程鋒___成都理工大學(xué)核技術(shù)與自動(dòng)化工程學(xué)院___紙和造紙2007 26(6)___文章編號(hào)：1001—6309(2007)06—0077—03 附 件 Accessories1. 電路原理圖2. 元器件清單R1～R6選用1／4W碳膜電阻器或金屬膜電阻器。限于篇幅不再贅述。重復(fù)測量8次。這說明兩種方法對(duì)于紙張厚度測量都具有較高的準(zhǔn)確性。m1銅版紙相對(duì)偏差則分別小于4．6％和1．3％；測量銅版紙時(shí)的平均相對(duì)誤差僅為1．o％，顯然測量的準(zhǔn)確性好于前兩種紙張。3測量的準(zhǔn)確性和精密度測量結(jié)果如下表所示，采用特征熒光吸收法,對(duì)于709通過測量標(biāo)準(zhǔn)樣品，擬合求出系數(shù)C，然后根據(jù)(4)式則可測量待測紙張的厚度。通過測量標(biāo)準(zhǔn)樣品，擬合求出系數(shù)a，b，然后根據(jù)(3)式則可測量待測紙張的厚度。采用相對(duì)分析方法，通過測量作為標(biāo)準(zhǔn)樣品的紙張來標(biāo)定X射線熒光分析儀。2．3樣品制備與儀器標(biāo)定利用厚度儀(儀器符合IS053GB／T451．QB／T1055標(biāo)準(zhǔn))測量所有紙張樣品的厚度，作為實(shí)驗(yàn)的參考值，每一類型的紙張任意選取5張作為標(biāo)準(zhǔn)樣品。當(dāng)源樣距為8～9mm時(shí)，散射射線計(jì)數(shù)最大，測量時(shí)選擇源樣距為9mm；0：為65。所有測量均在同—條件下進(jìn)行，室內(nèi)溫度保持在25℃；對(duì)入射射線采用書11rIuIl的準(zhǔn)直器進(jìn)行準(zhǔn)直；調(diào)整源土虧探測器的l立置，使0。實(shí)驗(yàn)表明：源樣距為9～10mm時(shí)，ZnK。在放射源和探測器的相對(duì)位置不變的情況下，實(shí)際測量合金板位置改變與ZmK。2．2最佳測量條件的選擇2．2．1特征熒光吸收法的最佳測量條件試驗(yàn)選擇zrⅨ。儀器：IED2000P型手提式多元素x射線熒光分析儀；SiPIN電致冷半導(dǎo)體探測器(FWHM為186eV5．9keY)；同位素源采用。m。m2靜電復(fù)印紙(規(guī)格：182257re．m)；809IC1的5腳、6腳的電壓分別由電位器RP1和RP2調(diào)節(jié)。當(dāng)紙張較厚時(shí)，透射后的光線強(qiáng)度較弱，VL2的導(dǎo)通能力較弱，導(dǎo)通內(nèi)阻較大，使IC1的4腳、7腳電壓變高，當(dāng)兩腳電壓超過5腳的基淮電壓時(shí)，2腳輸出低電平，使晶體管V1導(dǎo)通，發(fā)光二極管VL3點(diǎn)亮，繼電器K1動(dòng)作，使控制紙張較厚的電路工作。控制執(zhí)行電路（紅框）由晶體管VV2和繼電器KK2等組成。交流220V電壓經(jīng)T降壓、VD1～VD4整流、IC2穩(wěn)壓及C1～C3濾波后，產(chǎn)生12V直流電壓，供給紅外檢測電路和控制執(zhí)行電路。總體方案框架圖
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