電子測(cè)量與儀器及課后答案宋悅孝主編-文庫(kù)吧資料
2025-06-29 14:17本頁(yè)面
【正文】 儲(chǔ)器中，需要時(shí)再將存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的內(nèi)容調(diào)出，并通過(guò)D/A變換器，將數(shù)字信號(hào)恢復(fù)為模擬信號(hào)，最后顯示在示波器熒光屏上。：（a）~（f）圖的觸發(fā)情況分別是零電平負(fù)極性觸發(fā)、正電平負(fù)極性觸發(fā)、負(fù)電平負(fù)極性觸發(fā)、負(fù)電平正極性觸發(fā)、正電平正極性觸發(fā)和零電平正極性觸發(fā)。：∵Tmin=10div/2∴fmax=20MHz答：（略）：∵Tmax=10div/25ms/div=25ms∴fmin=答：（略）：（a）如圖所示表明顯示波形不穩(wěn)定，又因?yàn)橹挥蠿通道有故障，可能是觸發(fā)電路的觸發(fā)電平不穩(wěn)定的原因。：由題意知，S=1mV/div，Hpp=，探極衰減比K=10：1，所以Upp=1mV/div=探極輸出電壓：U′===正弦波電壓：U=10=25mV答：（略）：由題意知，S=10mV/div，Dx=1ms/div，探極衰減比K=10：1，所以圖44 （a）（b）LT= (1)Hpp=得到如圖44（a）所示的波形。：據(jù)題意知，掃描正程、掃描逆程分別可以得到3個(gè)周期和1個(gè)周期的被測(cè)信號(hào)波形。：據(jù)題意知，Ts =4Ty=41/fy=4/2kHz=2ms∴Tx=Ts+Tb=2ms+2ms/4=∴fx=400Hz答：（略）圖43 ：據(jù)題意知。：（1）HPP=（a）（b）圖41 得到的波形如圖41（a）所示。（d）原因是掃描不同步，選擇觸發(fā)掃描（或自動(dòng)掃描）調(diào)節(jié)觸發(fā)電平即可。此時(shí)，改變“XY”方式為掃描方式即可。另一原因可能是因?yàn)檩斎氲男盘?hào)很小，而所選的偏轉(zhuǎn)因數(shù)又太大（對(duì)輸入信號(hào)衰減過(guò)大），此時(shí)調(diào)小偏轉(zhuǎn)因數(shù)即可。當(dāng)發(fā)現(xiàn)補(bǔ)償電容不合適時(shí)，利用小螺刀左右調(diào)整補(bǔ)償電容，直至補(bǔ)償正確為止。所以斷續(xù)方式適合顯示低頻信號(hào)。要顯示信號(hào)頻率越高，掃描周期越短，即掃描速度越快，因?yàn)闀r(shí)間段是不變的，這樣顯示出的波形線段越長(zhǎng)，波形顯示的斷續(xù)感增強(qiáng)，不利于觀測(cè)。所以交替方式只適合觀測(cè)高頻信號(hào)。被測(cè)信號(hào)頻率越低，掃描電壓周期越長(zhǎng)，即掃描同一個(gè)信號(hào)的間隔時(shí)間越長(zhǎng)，當(dāng)該時(shí)間超過(guò)視覺(jué)暫留時(shí)間時(shí)，顯示出的波形就會(huì)閃爍。斷續(xù)顯示和交替顯示分別適合測(cè)試高頻和低頻信號(hào)。所以內(nèi)觸發(fā)信號(hào)不能從延遲線后引出。對(duì)正弦波等上升時(shí)間較長(zhǎng)的波形來(lái)說(shuō)，由于該延遲時(shí)間較短而體現(xiàn)不出上述作用來(lái)，所以簡(jiǎn)易示波器一般不加延遲線。（2）采用觸發(fā)掃描時(shí)，只有當(dāng)觸發(fā)源（一般采用內(nèi)觸發(fā)）電平達(dá)到觸發(fā)電平時(shí)，才能產(chǎn)生掃描電壓而顯示出產(chǎn)生掃描電壓之后的被測(cè)信號(hào)部分波形，而脈沖等由低電平達(dá)到觸發(fā)電平必須要經(jīng)歷一定的時(shí)間，這樣勢(shì)必使掃描電壓比被測(cè)信號(hào)滯后而得不到完整的被測(cè)信號(hào)波形。這是因?yàn)椋海?）脈沖等上升時(shí)間短的信號(hào)比較適合采用觸發(fā)掃描方式。單次掃描一般用來(lái)去觀察非周期性信號(hào)，它是在每一次人工操作下完成一次掃描的方式。連續(xù)掃描是通過(guò)改變時(shí)基閘門電路直流輸入電平的大小而在自激狀態(tài)下產(chǎn)生的掃描，該方式不管是否有被測(cè)信號(hào)都保證在屏幕上得到波形或時(shí)基線。：示波器線性掃描方式主要包括觸發(fā)掃描、連續(xù)掃描以及自動(dòng)掃描、單次掃描等方式。（2）當(dāng)示波器采用電平觸發(fā)（即觸發(fā)掃描）且滿足同步條件時(shí)，每一次掃描得到的波形就一致，保證每一次掃描得到的波形能夠在屏幕上重合，從而為得到穩(wěn)定波形提供必要的條件。（四）習(xí)題4答案：示波器得到穩(wěn)定波形的條件即示波器同步條件是掃描電壓周期等于被測(cè)信號(hào)周期的整數(shù)倍（隱含被測(cè)信號(hào)是周期性信號(hào)）。逐次比較式A/D變換器的缺點(diǎn)是抗干擾能力差。逐次比較式A/D變換器的優(yōu)點(diǎn)是變換速度快、精度高。否則，舍棄“1”改為“0”作為當(dāng)前A/D位的數(shù)據(jù)，即“大者棄”。粗積分、精積分的工作時(shí)間取決于取樣時(shí)對(duì)積分電容凈充上電荷的多少，與輸入電壓大小成正比。三次積分式A/D變換器的工作過(guò)程分為準(zhǔn)備、取樣、粗積分和精積分四個(gè)階段。三次積分式A/D變換器的特點(diǎn)是變換速度快、分辨力高、變換誤差小。經(jīng)上述分析得知，為了提高雙積分式A/D變換器的抗干擾能力，A/D變換器的取樣時(shí)間至少要取干擾信號(hào)的1個(gè)周期，并且為了提高A/D變換器的分辨力也應(yīng)使取樣時(shí)間延長(zhǎng)，這樣勢(shì)必使雙積分式A/D變換器的變換速度變慢。雙積分式A/D變換器顯著的優(yōu)點(diǎn)是抗干擾能力強(qiáng)，最大的缺點(diǎn)是變換速度慢。雙積分式A/D變換器是將兩個(gè)電壓（輸入電壓和基準(zhǔn)電壓）的比較變換為取樣時(shí)間（定時(shí)）和比較時(shí)間（不定時(shí)）的比較，而比較時(shí)間的大小與輸入直流電壓的大小成正比，所以雙積分式A/D變換器屬于VT型積分式A/D變換器。當(dāng)小數(shù)點(diǎn)位置在第一位后時(shí)，第2位的利用率低，并且分辨力要比小數(shù)點(diǎn)在第1位前的低，所以小數(shù)點(diǎn)應(yīng)在第1位前。%5V=177。%滿度=177。答：（略）：ΔU=177。滿度誤差相當(dāng)于：固有誤差：177。%Um=177。%8V=177。讀數(shù)誤差為：177。：UP+=6VUP=2VUPP=8VU=≈。峰值電壓表頻帶寬、靈敏度較高，為高頻或超高頻毫伏表。（三）習(xí)題3答案：模擬式交流電壓表按照檢波器類型的不同分為均值電壓表、峰值電壓表和有效值電壓表，分別屬于放大—檢波式、檢波—放大式和放大—檢波式。（2）函數(shù)信號(hào)發(fā)生器能夠提供正弦波、三角波、方波等多種波形，而正弦信號(hào)發(fā)生器只能提供正弦波或已調(diào)波。函數(shù)信號(hào)發(fā)生器的構(gòu)成方式則相應(yīng)地有上述三種形式。：函數(shù)信號(hào)發(fā)生器一般能夠輸出正弦波、三角波、方波等三種基本波形。：信號(hào)發(fā)生器作為主動(dòng)測(cè)試儀器其構(gòu)成應(yīng)該包括振蕩器，而LC振蕩器、RC振蕩器等特性決定了振蕩器的頻率范圍或頻率穩(wěn)定性都比較差。使用時(shí)，如果阻抗不匹配，會(huì)使波形失真變大、功率傳輸效率變小。正弦信號(hào)發(fā)生器為電路或系統(tǒng)檢修提供低頻、高頻等幅正弦信號(hào)或振幅調(diào)制波等已調(diào)波；函數(shù)信號(hào)發(fā)生器為電路或系統(tǒng)檢修提供正弦波、方波、三角波等波形；脈沖信號(hào)發(fā)生器為分析研究電路或系統(tǒng)的瞬態(tài)特性提供矩形脈沖波或雙脈沖波等波形；隨機(jī)信號(hào)發(fā)生器為電路提供模擬噪聲信號(hào)，為分析研究電路或系統(tǒng)的抗噪聲性能等提供模擬噪聲。：—，—，—500，21000=104—104，—，—， —， 58350=104—104：，有效數(shù)字+。%10V=177。：Δx=xA==C=Δx=∵∴。%20V=177。%10V=177。四、教學(xué)時(shí)間分配章 節(jié)課程內(nèi)容課時(shí)數(shù)第一章電子測(cè)量與儀器的基礎(chǔ)知識(shí)4課時(shí)第二章測(cè)量用信號(hào)發(fā)生器6課時(shí)第三章電壓測(cè)量與電壓表8課時(shí)第四章波形測(cè)試與儀器16課時(shí)第五章頻域測(cè)量與儀器6課時(shí)第六章電子元器件測(cè)量與儀器8課時(shí)第七章頻率和時(shí)間測(cè)量及儀器6課時(shí)第八章數(shù)據(jù)域測(cè)量與儀器6課時(shí)第九章智能測(cè)試儀器與系統(tǒng)6課時(shí)注：以上課時(shí)分配僅供參考，教學(xué)中可根據(jù)教學(xué)的安排再做調(diào)整。（三）教學(xué)難點(diǎn)智能儀器、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、個(gè)人儀器與虛擬儀器的區(qū)別，智能儀器的典型處理功能。第9章 智能測(cè)試儀器與系統(tǒng)（一）教學(xué)內(nèi)容智能測(cè)試儀器與系統(tǒng)分類與組成，GPIB標(biāo)準(zhǔn)接口，智能儀器典型處理功能。（三）教學(xué)難點(diǎn)數(shù)據(jù)測(cè)試技術(shù)，邏輯分析儀組成、觸發(fā)方式與顯示方式。第8章 數(shù)據(jù)域測(cè)量與儀器（一）教學(xué)內(nèi)容數(shù)據(jù)與測(cè)量基本概念與特點(diǎn)，數(shù)據(jù)域測(cè)量?jī)x器設(shè)備，數(shù)據(jù)域測(cè)試技術(shù)
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