基于arm的二次直流電源參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)小論文正稿-文庫(kù)吧資料
2025-06-25 13:16本頁(yè)面
【正文】 感器電路，能輸出與檢測(cè)的交流或直流電流成比例的電壓。電流檢測(cè)模塊采用多個(gè)電流傳感器測(cè)量。+:1的隔離后，傳送給AD采集器進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。對(duì)+5V的電壓信號(hào)調(diào)理，需將圖2中的運(yùn)放U1A和U2A去掉并把線性光耦中R8與R9的阻值選取為165K和330K即可實(shí)現(xiàn)電壓+5V電壓衰減。最后將運(yùn)放U5A的輸出信號(hào)送給A/D采集器。圖2 ﹢15V電壓信號(hào)調(diào)理電路原理圖圖2中，運(yùn)算放大器U1A和U2A是反相比例接法，其目的是把待測(cè)信號(hào)衰減到所需要的范圍內(nèi)。電壓調(diào)理模塊作用是將待測(cè)的電壓信號(hào)線性比例的降低到ADC采集電壓信號(hào)范圍內(nèi)。系統(tǒng)外設(shè)豐富，完全滿足本系統(tǒng)的需要。通過(guò)片內(nèi)PLL(Phase Locked Loop)可實(shí)現(xiàn)最大為60MHz的CPU操作頻率，并且片內(nèi)集成2個(gè)8路10位的A/D轉(zhuǎn)換器。在對(duì)二次直流電源負(fù)載穩(wěn)定度、電壓穩(wěn)定度、瞬態(tài)響應(yīng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，ARM微處理器先要接收到上位機(jī)測(cè)試相應(yīng)參數(shù)的測(cè)控命令并且將該命令通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換、電氣隔離模塊傳送給電子負(fù)載，電子負(fù)載進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整操作后，微處理器通過(guò)對(duì)應(yīng)的電壓調(diào)理電路和電氣隔離電路進(jìn)行信號(hào)采集和處理并將處理結(jié)果發(fā)送到上位機(jī)顯示和存儲(chǔ)。其輸入電流和4路輸出電流經(jīng)電流檢測(cè)模塊和電氣隔離模塊隔離后，送給ARM微處理器進(jìn)行采集和處理，處理后的數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)顯示和存儲(chǔ)。圖1為系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。上位機(jī)軟件主要作用是向下位機(jī)發(fā)送測(cè)控命令和接收、顯示并存儲(chǔ)下位機(jī)發(fā)送的數(shù)據(jù)。所以，設(shè)計(jì)本系統(tǒng)以滿足對(duì)二次電源的多項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)綜合測(cè)試的需求。目前對(duì)二次電源的測(cè)試一般采用手動(dòng)操作各種測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)試，手動(dòng)測(cè)試存在很多問(wèn)題：測(cè)試效率太低，測(cè)試工序復(fù)雜，測(cè)試過(guò)程需要測(cè)試人員進(jìn)行大量的手工操作，導(dǎo)致測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)；對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)需要進(jìn)行人工判斷，這需要測(cè)試人員必須具有豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)；測(cè)試項(xiàng)目的多樣性和復(fù)雜性，導(dǎo)致測(cè)試人員難以建立完善的測(cè)試檔案和數(shù)據(jù)庫(kù)，無(wú)法實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)的自動(dòng)管理。如果電源的某項(xiàng)參數(shù)達(dá)不到設(shè)備供電標(biāo)準(zhǔn)，可能導(dǎo)致設(shè)備不能正常工作[1]。 ripple factor；Lab windows CVI 1 引 言隨著航空航天、工業(yè)控制等領(lǐng)域的飛速發(fā)展，對(duì)儀器儀表、測(cè)控系統(tǒng)、通信設(shè)備等關(guān)鍵設(shè)備的工作穩(wěn)定性提出了更高的要求。 Load stability。platform to plete the PC Application program, Using ARM7 processor for signal acquisition, signal processingand Controlling electronic負(fù)載穩(wěn)定度；瞬態(tài)響應(yīng)；紋波系數(shù)；Lab Windows/CVI中圖分類號(hào)：TN06 文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)科分類代碼:Secondary DC power parametric test system design based on ARMZhang Zhiwen Wang Wenju(Xi，an Technological University Electronic and Information Engineering Institution，Xi，an 710021,China)Abstract: In order to improve precision and efficiency of the secondary DC power supply, the secondary DC power parametric test sys
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