光探測(cè)器噪聲ppt課件-文庫(kù)吧資料
2025-05-12 04:00本頁(yè)面
【正文】 為總的平均電流， N0為自由載流 子數(shù)， f為測(cè)量噪聲的頻率。 產(chǎn)生－復(fù)合噪聲 一、產(chǎn)生原因： 半導(dǎo)體中由于載流子 產(chǎn)生 與 復(fù)合 的 隨機(jī)性而引起的平均載流子濃度的起伏所產(chǎn)生的噪聲稱(chēng)為產(chǎn)生 — 復(fù)合噪聲。 三、特點(diǎn)： 散粒噪聲直接起源于電子的粒子性， 因而與 e直接有關(guān)。 這種噪聲存在于所有光電探測(cè)器中。 散粒噪聲 一、產(chǎn)生原因： 探測(cè)器的散粒噪聲是由于探測(cè)器在光 輻射作用或熱激發(fā)下， 光電子或光生載 流子 的隨機(jī)產(chǎn)生所造成的。 熱噪聲屬于白噪聲。 這種噪聲存在于任何半導(dǎo)體和導(dǎo)體中。 尤其在信號(hào) 較弱時(shí) ，光電探測(cè)器的噪聲會(huì)顯著地影響 信號(hào)探測(cè)的準(zhǔn)確性。 在光電轉(zhuǎn)換過(guò)程中，半導(dǎo)體中的 電子從價(jià)帶躍遷到導(dǎo)帶，或者電子逸出 材料表面等過(guò)程，都是一系列獨(dú)立事件， 是一種隨機(jī)的過(guò)程。 噪聲功率譜 N（ f）：
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