【正文】
,按 (Main Index)主要功能選擇鍵 , 進(jìn)入主功能表 ,此時(shí)按下顯示器上OPEN字樣對(duì)應(yīng)之按鍵 SHORT 設(shè)定操作說明 開路測(cè)試操作說明 : MAIN INDEX SHNGLE FREQ MULTFREQ EXIT 按此鍵即進(jìn)行單一頻率之LCRZ 開路測(cè)試動(dòng)作 按此鍵即跳出此測(cè)試選項(xiàng)畫面 按此鍵即進(jìn)行多種頻率之LCRZ 開路測(cè)試動(dòng)作 當(dāng)按下 OPEN鍵顯示如下 設(shè)定操作說明 開路測(cè)試操作說明 : MAIN INDEX OPEN LOAD LIST SWEEP 按此鍵 選擇開路測(cè)試之項(xiàng)目后顯示器即出現(xiàn)下列畫面 SHORT OPEN CIRCUIT TEST LEADS THEN PRESS TRIGGER 設(shè)定操作說明 開路測(cè)試操作說明 : MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT 按鍵(S tart/Tring開始鍵 )進(jìn)行開路測(cè)試 ,此時(shí)開路測(cè)試的測(cè)試值情況如下所示 OPEN MEASUREMENT IN PROGRESS 0 C: Pf D: 16 19 設(shè)定操作說明 開路測(cè)試操作說明 : MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT 當(dāng)開路測(cè)試錯(cuò)誤時(shí)顯示器會(huì)顯示 【 OPEN FAIL 字樣,表示開路測(cè)試動(dòng)作有問題,請(qǐng)檢查測(cè)試線是否有斷或是夾子接觸不良,檢修后再墊行開路測(cè)試,如下圖所示 OPEN MEASUREMENT IN PROGRESS 0 C: Pf D: 16 19 OPEN FAIL Press Any key Continue 設(shè)定操作說明 開路測(cè)試操作說明 : MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT