儀器使用,電感品質(zhì)因數(shù)測(cè)量-文庫(kù)吧資料
2025-05-20 00:01本頁(yè)面
【正文】 Bc3階交調(diào)： 70dBc ? 靈敏度優(yōu)于 90dBm ? 對(duì)數(shù)刻度真實(shí)度 177。 %頻寬 +100HKz ? 頻率顯示分辯率 100KHz(4位半 LED) ? 掃頻寬度 100KHz/格 ~100MHz/格 125擋和 0Hz/格 (0掃描 )精度： 177。 技術(shù)指標(biāo) 頻率 ? 范圍 ~1050MHz ? 中心頻率顯示精度 177。 ? 標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)功能 (反射電橋 )(選件 ) 頻譜分析儀 AT5011+跟蹤信號(hào)源上實(shí)現(xiàn)插入損耗測(cè)量、隔離度測(cè)量，再配合標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)測(cè)試器使用能有效測(cè)量器件的反射損耗和駐波參數(shù)，對(duì)被測(cè)試的產(chǎn)品阻抗匹配起著重要的作用。只將中心頻率設(shè)定為 750MHz，掃頻寬度設(shè)定為 2MHz/格就可以測(cè)試 (2MHz/格時(shí) CRT全屏顯示為 20MHz)。 例如 :需對(duì)被測(cè)產(chǎn)品的 750MHz177。 ? 點(diǎn)頻、掃頻功能 點(diǎn)頻：設(shè)定頻譜分析儀的中心頻率，然后將掃頻寬度致“ 0”Hz時(shí)，信號(hào)輸出為點(diǎn)頻信號(hào)。配合高阻抗探頭AZ530H對(duì)被測(cè)試的產(chǎn)品的內(nèi)在電路進(jìn)行檢修測(cè)試。配合磁場(chǎng)探頭 AZ530M對(duì)被測(cè)試的產(chǎn)品的內(nèi)在電路的干擾源進(jìn)行測(cè)試。配合電場(chǎng)單極探頭 AZ
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