來料檢驗(yàn)規(guī)范-文庫吧資料
2025-05-01 09:56本頁面
【正文】 /對 BOM VFD顯 示 器 1 引腳 引腳間距不對，試裝 PCB 配合不好，另有松動現(xiàn)象或型號不對 A 試裝 /對 BOM 2 劃傷 ，在正前方 30cm 遠(yuǎn)較明顯 A 目檢 . 劃傷面積在正前方 30cm 遠(yuǎn)不明顯 B 目檢 3 絲印 絲印毛邊、模糊、黑點(diǎn) A 目檢 4 損傷 氣嘴破、玻璃體破損 A 目檢 按 鈕 開 關(guān) 1 氧化 元件腳及接觸點(diǎn)有氧化 A 目檢 2 手感 用手按動按鈕，不靈活，也沒響聲 A 手按 3 尺寸 試裝 PCB 板，配合不好或型號不對 A 試裝 /對 BOM 4 測試 A 萬用表 A 萬用表 插 1 破裂 破損面積嚴(yán)重 A 目檢 2 松動 排插上針有松動 A 目檢 座 3 氧化 排針有氧化 A 目檢 4 變形 ，不影響使用 B 目檢 ，排列不齊，已無法使用 A 目檢 5 插接 用插接件接觸試驗(yàn)有松動，配合不好或型號不對 A 相互插接 /對 BOM 深圳市安吉 龍科技有限公司 標(biāo)題： QA 檢驗(yàn)規(guī)范 來料檢驗(yàn) 文件編號： QADWI007 擬制；唐 鋒 版 號： 生效日期： 2021/09/01 頁 碼： 類別 項次 檢驗(yàn)項目 不良敘述 缺陷分類 檢驗(yàn)方式 旋 轉(zhuǎn) 開 關(guān) 1 氧化 引腳有輕微氧化，且是單面，非引腳中間部位，還可上錫 B 目檢 /試驗(yàn) 2 損傷 外觀有損傷，面積較大，影響外觀（在明顯部位） A 目檢 3 旋動 A 手旋 ，另一個方向不能旋 動 A 手旋 4 測試 在旋動時，萬用表測量不能接通 A 萬用表 MIC 座 1 氧化 ,面積較小 ,還可上錫 B 目檢 /試驗(yàn) ,已無法上錫使用 A 目檢 /試驗(yàn) 2 尺寸 引腳尺寸偏離正常尺寸177。 A 目檢 /試驗(yàn) 2 變形 引腳變形嚴(yán)重，有折斷危險。 20%范圍，特殊要求精度的電容與 BOM 單要求不同 A 電容表 /對 BOM IC 1 氧化 ，輕微發(fā)黑，但可上錫 B 目檢 /試驗(yàn) ，不易上錫。 5%、 K177。 5% A 萬用表 ，銀色誤差超出177。 ： 填寫好報告上對應(yīng)的欄目，檢驗(yàn)無缺陷只需在檢驗(yàn)欄填寫 OK 或檢驗(yàn)無不良，有缺陷就在檢驗(yàn)結(jié)果欄填寫缺陷原因。 8. 合格與不合格的判定： . 每個樣品統(tǒng)計出檢驗(yàn)不合格數(shù)量： A 或 B； . 沒有任何缺陷的樣品為 OK； . 根據(jù)樣品檢驗(yàn)結(jié)果，對照抽樣方案判定合格數(shù)量是否達(dá)到要求數(shù)量，若在樣品中不合格品大于或等于抽樣方案對應(yīng)的不合格判定數(shù)，則該批物料為不合格。 3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)： 《中國國家標(biāo)準(zhǔn)》 《中國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》 《國際標(biāo)準(zhǔn)》 4. 檢驗(yàn)方式： 若無特別規(guī)定，檢驗(yàn)采用抽檢方式，依據(jù)《抽樣計劃表》。： QCWI007 擬制：唐 鋒 版 號： 生效日期： 2021/09/01 頁 碼： 1. 目的： 控制上線物料質(zhì)量，規(guī)定物料接收的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，使檢驗(yàn)時有據(jù)可依，確保生產(chǎn)使用的物料都是合格品。 2. 范圍： 本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)適用于原材料、輔料、半成品或成品等的進(jìn)入公司的所有物料。 5. AQL： 6. 檢驗(yàn)內(nèi)容： 電氣性能和外觀檢驗(yàn) . 7. 取樣： 檢驗(yàn)樣品從待檢的批量中隨機(jī) 抽取。 9. 不
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