【正文】 最后，向在百忙中抽出寶貴時(shí)間參與論文評(píng)審和答辯的專家和評(píng)委們，表示由衷地感謝！ 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 28 參考文獻(xiàn) [1] 侯國(guó)章 .測(cè)試與傳感技術(shù) [M ].哈爾濱：哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社， 2021： 122124. [2] 張志良 .單片機(jī)原理與控制技術(shù) [M ].北京：機(jī)械工業(yè)出版社， 2021： 7881. [3] 賈振國(guó) .光敏電阻應(yīng)用于光強(qiáng) 測(cè)量的實(shí) 現(xiàn)［ J］ .電子技術(shù)應(yīng)用， 2021， （ 1）：58 59. [4] 余永權(quán) .單片機(jī)原理及應(yīng)用 [M].北京：電子工業(yè)出版社， 1997： 146169. [5] 曲新貴 .電子元件材料手冊(cè) [M].北京：電子工業(yè)出版社， 1989： 422430. [6] 喻萍，郭文川 .單片機(jī)原理與接口技術(shù) [M].北京：化學(xué)工業(yè)出版社， 2021：195197. [7] 何宏，田志宏 .單片機(jī)原理與接口技術(shù) [M].北京：國(guó)防工業(yè)出版社， 2021：294299. [8] 姜志海，黃玉清等 .單片機(jī)原理及應(yīng)用 [M].北京：電子工業(yè)出版社， 2021： 2742. [9] 黃賢，鄭筱霞，曲 波等 .傳感器實(shí)際應(yīng)用電路設(shè)計(jì) [M].成都：電子科技大學(xué)出版社， 1997： 410. [10] 劉君華 .智能傳感器系統(tǒng) [M] .西安：西安電子科技大學(xué)出版社， 1999： 4446. [11] 李廣第 . 單片機(jī)基礎(chǔ) [M] .北京：北京航空航天大學(xué)出版社， 2021： 4051. [12] 馬云峰，郭文川等 .微機(jī)原理與接口技術(shù) [M]. 北京：高等教育出版社， 2021：5763. 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[16] ， ， Sensor Systems for Integrated System Health Management in Exploration Applications [J].Research Communications， 2021， (11) ： 13651368. 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 29 附錄 電路圖 附錄 PCB 。 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 27 致謝 首先，我要衷心感謝我的指導(dǎo)老師！ 本次設(shè)計(jì)的選題及論文的修改，老師都給予了悉 心指導(dǎo)和幫助，在此，獻(xiàn)上最誠(chéng)摯的敬意。 從這次畢業(yè)設(shè)計(jì)中，讓我更深刻的體會(huì)到理論聯(lián)系實(shí)際的重要性，只有多聽多看多實(shí)踐，才能更好的運(yùn)用所學(xué)知識(shí)。這次的設(shè)計(jì)應(yīng) 該說(shuō)是我們之前三年多的學(xué)習(xí)的一個(gè)匯總報(bào)告，通過(guò)這次的設(shè)計(jì)讓我想到許多之前犯的錯(cuò)誤。 光強(qiáng)報(bào)警 ： 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 24 光弱報(bào)警 ： 正常光強(qiáng) ： 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 25 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 26 第 6 章 結(jié)束語(yǔ) 本文介紹了一種基于 AT89S52 單 片機(jī)的 光強(qiáng)檢測(cè)報(bào)警器 設(shè)計(jì)，采用 光敏電阻分壓 ，對(duì)環(huán)境 光強(qiáng) 信號(hào)進(jìn)行采集，并將采集到的 光強(qiáng) 值轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)送到單片機(jī)進(jìn)行處理，用 LED 對(duì)當(dāng)前溫度信號(hào)值進(jìn)行顯示，并且根據(jù)數(shù)據(jù)處理的結(jié)果，使用單片機(jī)控制 LED 燈報(bào)警和蜂鳴器報(bào)警 。 系統(tǒng)功能測(cè)試 在硬件及軟件調(diào)試成功后，我們將對(duì)其進(jìn)行功能測(cè)試， 觀察是否與設(shè)計(jì)要求相 符。通過(guò)檢測(cè)可發(fā)現(xiàn)程序中的死循環(huán)錯(cuò)誤、機(jī)器碼錯(cuò)誤及轉(zhuǎn)移地址的錯(cuò)誤。 同時(shí)，聯(lián)機(jī)仿真必須借助仿真開發(fā)裝置、示波器、萬(wàn)用表等工具，這些工具是單片機(jī)開發(fā)的最基本工具。 Keil C51 軟件提供豐富的庫(kù)函數(shù) 和功能強(qiáng)大的集成開發(fā)調(diào)試工具，全 Windows 界面。一般，我們使用 Keil C51 uVision2 進(jìn)行仿真調(diào)試。必要時(shí)利用數(shù)字萬(wàn)用表的短路測(cè)試功能，可以縮短排錯(cuò)時(shí)間。排除的方法是首先將實(shí)物連接板認(rèn)真對(duì)照原理圖，看兩者是否一致。 硬件上的故障往往由于設(shè)計(jì)和加工制板過(guò)程中工藝性錯(cuò)誤所造成的。 在顯示器調(diào)試通過(guò)后，鍵盤調(diào)試就比較簡(jiǎn)單，完全可以借助于顯示器，利用程序進(jìn)行調(diào)試。若有高壓，聯(lián)機(jī)仿真器調(diào)試時(shí)，將會(huì)損壞仿真器等，有時(shí)會(huì)使應(yīng)用系統(tǒng)中的集成塊發(fā)熱損 壞。 在通電前，一定要檢查電源電壓的幅值和極性，否則很容易造成集成塊損壞。要排除這種錯(cuò)誤我們可以采取檢查元器件與設(shè)計(jì)要求的型號(hào)、規(guī)格和連接是否一致，在保證安裝無(wú)誤后 ,用替換方法排除錯(cuò)誤。 首先，我們應(yīng)該 排除元器件失效問(wèn)題?？梢娪布恼{(diào)試是基礎(chǔ)，如果硬件調(diào)試不通過(guò)，軟件設(shè)計(jì)則是無(wú)從做起。如圖 47 示： 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 21 圖 47控制執(zhí)行子程序流程圖 = 上限 比較程序 =下限 上限報(bào)警 控制降溫 下限報(bào)警 控制升溫 Y N 延時(shí) 延時(shí) Y N 開 始 返 回 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 22 第 5 章 系統(tǒng)調(diào)試和功能測(cè)試 單片機(jī)的系統(tǒng)調(diào)試主要包括硬件調(diào)試和軟件調(diào)試，這兩者是不能分開的，許多硬件錯(cuò)誤是在軟件調(diào)試中被發(fā)現(xiàn)和糾正的。本系統(tǒng)采用查詢方式。如果 10ms 之后 I/O 口不為低電平，則說(shuō)明是干擾信號(hào)，而不是按鍵被按下。軟件消抖的常用方法是軟件延時(shí)。如果按鍵較多，硬件消抖無(wú)法達(dá)到預(yù)期效果。 按鍵的消抖，通常有軟件，硬件兩種消除方法。抖動(dòng)過(guò)程引起電平信號(hào)的波動(dòng)，有可能令 CPU 誤解為多次按鍵操作，從而引起誤處理 [22]。按鍵掃描程序通過(guò)讀取 I/O 口的電平即可知道對(duì)應(yīng)按鍵的狀態(tài)。測(cè)量所得的 A/D 轉(zhuǎn)換整數(shù)寄存器 除以 100 商存入百位寄存器 余數(shù)存入整數(shù)寄存器 除以 10 商存入十位寄存器 余數(shù)存入個(gè)位寄存器 小數(shù)寄存器 把小數(shù)部分逐次與00H~ 0FH 比較 若相等時(shí)進(jìn)行相應(yīng)置位 保 存 整數(shù)寄存器 返 回 返 回 開始 開始 整數(shù)部分計(jì)算程序 保存數(shù)據(jù) 小數(shù)數(shù)據(jù) 計(jì)算程序 保存數(shù)據(jù) 1 開始 返回 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 20 數(shù)據(jù)放在定義的 ad_data 內(nèi)存單元中，測(cè)量所得的 A/D 數(shù)據(jù)在顯示時(shí)需要經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)換變成十進(jìn)制 BCD 碼。 圖 44 光強(qiáng) 值計(jì)算程序流程圖 圖 45 整數(shù)計(jì)算子程序流程圖 圖 46 小數(shù)計(jì)算子程序流程圖 顯示子函數(shù) 因?yàn)轱@示用到 4 個(gè) LED 數(shù)碼管，考慮到 AT89S52 的 I/O 口不足，所以采用采用動(dòng)態(tài)掃描法實(shí)現(xiàn) 4 位數(shù)碼管的數(shù)值顯示。數(shù)據(jù)處理時(shí)，把數(shù)據(jù)取出來(lái)，放在一個(gè)整型變量中。 數(shù)據(jù)處理程序 設(shè)置分辨率為 8 位轉(zhuǎn)化后得到的數(shù)據(jù) ， 進(jìn)行相應(yīng)的處理，系統(tǒng)根據(jù)數(shù)據(jù)情況進(jìn)行控制處理。這時(shí) 把 OE置為 1。 ADC0809 進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換時(shí)，通過(guò) ALE 為高電平，使輸入有效，然后 ALE 改為低電平，鎖存地址，地址鎖存后將 ST 置高電平，使 ADC0809 內(nèi)部寄存器清零，再 ST 置高電平，芯片開始進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換。 OE＝ 1，輸出轉(zhuǎn)換得到的數(shù)據(jù)； OE＝ 0，輸出數(shù)據(jù)線呈高阻狀態(tài)。當(dāng) EOC 為高電平時(shí)，表明轉(zhuǎn)換結(jié)束；否則，表明正在進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換。當(dāng) ST 上跳沿時(shí)，所有內(nèi)部寄存器清零；下跳沿時(shí)，開始進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換；在轉(zhuǎn)換期間， ST 應(yīng)保持低電平。 光強(qiáng) 限值設(shè)置子程序 光強(qiáng) 采集子程序 執(zhí)行 子程序 顯示子程序 數(shù)據(jù)處理子程序 設(shè)置鍵按下？ N Y 初始化 采集？ N Y 開始 返 回 營(yíng)口職業(yè) 技術(shù)學(xué)院設(shè)計(jì)用紙 18 圖 43 A/D 轉(zhuǎn)換測(cè)量子函數(shù)流程圖 ALE 為