【正文】 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（ C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 8133 重新計算控制限 初次研究，應排除有變差的子組，重新計算控制限。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列 情況的一種或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當 np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標志 。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 過程惡化。 81311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 812 計算控制限 8121 計算過程平均不合格品率 （ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗總數(shù) 8122 計算上下控制限（ USL； LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為 恒定的 樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。 8112 計算每個子組內(nèi)的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 811 收集數(shù)據(jù) 8111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8 1 0 2 6 2 8 D3 * * * * * 8 4 8 2 E2 7 6 9 8 1 5 1 8 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 56 改善 操作者對超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當?shù)拇胧┻M行改善，或通知管理人員。 14 54 找出超過極差控制限的點 15 操作者與每個子組的最大標記點和最小標記點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 10 52 制作極差的控制圖片 11 在一張透明的膠片標上極差的控制限。 4 過程能力的分析 （同 XR） 5 估計過程標準偏差： 6 δ= R / d2 7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 8 能力。 3 過程控制分析（同 XR） 4 31 凡是超出控制限的點，連成鏈或形成某種趨勢的都必須進行特 5 殊原因的分析，采取適當?shù)拇胧?。 8 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。 4 12 只要描一張圖，刻度設置為下列的較大者： 5 a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 6 b 測量值的最大值與最小值之差的 2倍。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。見下表： 注： 在樣本容量低于 6時，沒有標準差的下控制限。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨的數(shù)據(jù)表，計算 出 X 和 s 112 計算每一子組的標準差 s = ∑ (Xi–X )178。 均值和標準差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善 。 b 對于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標準正態(tài)分布表， 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 式中 : UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過程標準偏差 注： Z 值為負值時說明過程均值超過規(guī)范。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 3 9 20.6 3 3 0 5 7 8 42 計算過程能力 過程能力 是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格 界限的距離，用 Z來表示。 4 過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是 否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能 力通過標準偏差來評價。 b 當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應調(diào)整中心限和控制限 。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點離過程均值太近） 均值失控的過程（點離控制限太近） 35 識別并標注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應）。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應對下列情況的 一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點計算錯描錯