【正文】 單位缺點(diǎn)數(shù)管理圖 檢查的試料面積或長(zhǎng)度等不同時(shí)適用 ?Variable : 缺點(diǎn)數(shù)?Sample size : 相同的檢查數(shù) (試料數(shù) )?Subgroups in : 試料群的大小不同時(shí)謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。 不良率管理圖隨著試料的大小不同，限界的幅度也發(fā)生變化Minitab 屬性管理圖 — C 管理圖216。 子組的大小為 1的情況（個(gè)體觀察值）Minitab屬性管理圖 — P 管理圖216。 最一般的管理圖Minitab子集均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差管理圖 — Xbar S 管理圖216。?Data are arranged as: Single column : 變換對(duì)象 Col Subgroup size : 子組的大小?Store transformed data in: Single column : 欲保存的 ColMinitab子集均數(shù) 極差管理圖 — Xbar R 管理圖?選擇包含已測(cè)定 data的列?指定子集的大小?Unstack data時(shí)?輸入已知的平均、標(biāo)準(zhǔn)偏差便可繪出控制限?依指定的子集獨(dú)立繪出控制限。 管理圖的檢驗(yàn)設(shè)定?R, S, MAchart, 計(jì)數(shù)型 管理圖為 Test 1~4 Ksigma 的一個(gè)點(diǎn)（ RUN） K個(gè)時(shí) K個(gè)漸漸上升或下降 (Trend)時(shí) K個(gè)點(diǎn)出現(xiàn)時(shí) (Cycle) 2sigma 以上， K+1個(gè)中 K個(gè)時(shí) (同側(cè) )(Freak突出 )6. 在中心線脫離 1sigma以上， K+1個(gè)中 K個(gè)時(shí) (同側(cè) )(Freak突出 )7. 在中心線 1 sigma內(nèi) K個(gè)時(shí) (無論哪一側(cè) )8. 在中心線 1 sigma 以上 K個(gè)時(shí) (無論哪一側(cè)）MinitabBoxCox 轉(zhuǎn)換216。每個(gè)子組或觀測(cè)值都基于其 “年齡 ”進(jìn)行加權(quán)；較老的值加權(quán)較少，較新的值加權(quán)較多Minitab指數(shù)加權(quán)的移動(dòng)平均值216。Minitab計(jì)算移動(dòng)平均值? EWMA 表示指數(shù)加權(quán)的移動(dòng)平均值。子組 4 的 MA 是子組 2 到 4 的均值的平均值，即 (9 + 7 + 9) / 3 = 。? MA 的其余值遵循一般模式。? 子組 1 2 3 4 5 6 7 8? 平均值 ? MA ? 第一個(gè)子組的 MA 是 ，即第一個(gè)子組平均值。 Minitab什么是時(shí)間加權(quán)控制圖？下表包含 8 個(gè)子組均值。除了移動(dòng)平均值以外， Minitab 的時(shí)間加權(quán)控制圖均通過先前的子組均值或目標(biāo)值加權(quán)。當(dāng)結(jié)果難于獲得或耗時(shí)很長(zhǎng)時(shí)。在檢測(cè)過程水平中的較大偏移時(shí)，它們不如傳統(tǒng)的變量控制圖那么敏感。應(yīng)啟動(dòng)一個(gè)搜索，找出特殊原因變異的可能原因。? 位于 Vmask 以外的標(biāo)繪點(diǎn)。標(biāo)繪點(diǎn)應(yīng)該在零附近隨機(jī)波動(dòng)。如果標(biāo)繪點(diǎn)位于 V 的雙臂之間，則可以假定過程在統(tǒng)計(jì)意義上受控制。可以指定 V 觀測(cè)值位于中心位置的觀測(cè)值。CUSUM 控制圖單側(cè) (LCL,UCL) Minitab一個(gè)由單個(gè)雙側(cè) CUSUM 組成的 CUSUM 控制圖包括下列各項(xiàng)：? 標(biāo)繪點(diǎn)，即 CUSUM， 樣本值與目標(biāo)值之間偏差的累積和 。? 中心線，位于零的位置。? 標(biāo)繪點(diǎn)（三角形），即下限 CUSUM， 目標(biāo)以下的差累積和 。CUSUM 控制圖 Minitab 一個(gè)由兩個(gè)單側(cè) CUSUM 組成的 CUSUM 控制圖包括下列各項(xiàng)：? 標(biāo)繪點(diǎn)（圓點(diǎn)），即上限 CUSUM， 目標(biāo)以上的差累積和 。? 雙側(cè)。上限 CUSUM 檢測(cè)過程水平中向上的偏移，下限 CUSUM 檢測(cè)向下的偏移。 CUSUM 控制圖適合于單個(gè)項(xiàng)目的生產(chǎn)需要一定時(shí)間的過程。換句話說， CUSUM 是 各個(gè)樣本值與目標(biāo)值之差的和 。? 控制限制，默認(rèn)位于中心線上方和下方 3 s（標(biāo)準(zhǔn)差）處，這些限制可提供一種用于評(píng)估過程是否受控制的直觀方法。Minitab? EWMA 控制圖包括下列各項(xiàng)：? EWMA 點(diǎn)，即 指數(shù)加權(quán)的移動(dòng)平均值 。? 使用 EWMA 控制圖可監(jiān)控受控制過程以檢測(cè)偏離目標(biāo)的較小偏移。 每個(gè) EWMA 點(diǎn)都合并了 來自所有之前的子組或觀測(cè)值的信息 ，但是隨著信息變舊，其提供的處理數(shù)據(jù)的權(quán)重會(huì)降低。 MA 控制圖上位于控制限制附近或超出控制限制的幾個(gè)點(diǎn)不具有在傳統(tǒng)控制圖（ Xbar、 R 控制圖）上的顯著性。應(yīng)找出特殊原因變異的可能原因。移動(dòng)平均控制圖 Minitab? 檢查 MA 控制圖，看看哪些數(shù)據(jù)點(diǎn)位于控制上限或下限之外。? 控制限制（紅色）， 位于中心線上方和下方 3 s 處，這些限制可提供一種用于評(píng)估過程是否受控制的直觀方法。由于每個(gè)移動(dòng)平均值都結(jié)合了歷史數(shù)據(jù)，所以移動(dòng)平均值不是獨(dú)立的（它們是相關(guān)的）。? MA 控制圖適合于單個(gè)項(xiàng)目的生產(chǎn)需要一定時(shí)間的過程。U控制圖 Minitab時(shí)間權(quán)重控制圖MAEWMACUSUMMinitab時(shí)間權(quán)重控制圖 — 移動(dòng)平均控制圖? 移動(dòng)平均值 (MA) 控制圖是一個(gè) 平均值 的控制圖，這些平均值從各人工子組計(jì)算得到，而這些人工子組是 根據(jù)連續(xù)觀測(cè)值 創(chuàng)建的。? 未通過檢驗(yàn)的點(diǎn)標(biāo)有紅色星號(hào)和未通過的檢驗(yàn)的編號(hào)。（ 2）當(dāng)樣本大小發(fā)生變化時(shí)，控制限制也將變化。? 中心線（綠色），是每個(gè)測(cè)量單位中瑕疵的平均數(shù)? 控制限制（紅色），位于中心線的上下 3 sigma 處。? 數(shù)據(jù)點(diǎn)未通過檢驗(yàn)時(shí)， Minitab 在會(huì)話窗口中報(bào)告該點(diǎn)，并在 U 控制圖上對(duì)該點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記。? 當(dāng)樣本大小發(fā)生變化時(shí)，請(qǐng)使用 U 控制圖。? 受控過程僅顯示每個(gè)測(cè)量單位中瑕疵數(shù)的隨機(jī)變異。MinitabC 控制圖包括：? 標(biāo)繪點(diǎn)，它們表示 每個(gè)樣本的瑕疵數(shù)? 中心線（綠色），是每個(gè)樣本中瑕疵的平均數(shù)? 控制限制（紅色），位于中心線上下 3 sigma 處。? 注 樣本大小發(fā)生變化時(shí)不應(yīng)使用 C 控制圖 ，因?yàn)榭刂葡拗坪椭行木€都會(huì)隨樣本大小的變化而變化。? 瑕疵是產(chǎn)品或服務(wù)中任何不會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品或服務(wù)不可用（即缺陷）的不一致。 ? 受控過程僅顯示每個(gè)樣本中瑕疵數(shù)的隨機(jī)變異。? 數(shù)據(jù)點(diǎn)未通過檢驗(yàn)時(shí)， Minitab 在 NP 控制圖中以紅色星號(hào)和所未通過的檢驗(yàn)的編號(hào)對(duì)其進(jìn)行標(biāo)記。Minitab? NP 控制圖包括：? 標(biāo)繪點(diǎn)，它們表示 每個(gè)樣本的缺陷數(shù)? 中心線（綠色），是缺陷的平均數(shù)? 控制限制（紅色），位于中心線上下 3 sigma 處。此變異使 NP 控制圖變得難以解釋。? 不受控過程顯示每個(gè)樣本中因存在特殊原因所導(dǎo)致缺陷的數(shù)量的異常變異。MinitabP 控制圖NP 控制圖 ? 使用 NP 控制圖檢查每個(gè)樣本中 缺陷的數(shù)量 并確定過程是否受控。 (2)當(dāng)樣本大小發(fā)生變化時(shí)，控制限制也將變化。 ? 中心線（綠色），是缺陷的平均比率? 控制限制（紅色），位于中心線的上下 3 sigma 處，用于直觀地查看過程何時(shí)不受控。? 未通過檢驗(yàn)的點(diǎn)表明數(shù)據(jù)中存在可能因特殊原因變異而導(dǎo)致的非隨機(jī)模式。Minitab屬性控制圖 P 控制圖? 每個(gè)特殊原因檢驗(yàn)都在 P 控制圖上所繪制的數(shù)據(jù)中檢測(cè)特定模式。? 缺陷的示例包括破裂的燈泡、延期交付、未接來電和熔斷的保險(xiǎn)絲等。 (1)受控過程僅顯示每個(gè)樣本缺陷部分中的隨機(jī)變異。Mi