【正文】 本案例的主要原因?yàn)榫д馲1不良導(dǎo)至CPU死機(jī)而損壞IGBT。:項(xiàng)方法檢查,結(jié)果為晶振X1不良,更換后一切正常。 (3)CPU實(shí)際監(jiān)測到的VCE取樣電壓沒有達(dá)到起控值,CPU不作出抑制動作,結(jié)果VCE電壓繼續(xù)上升,最終出穿IGBT。:項(xiàng)方法檢查,結(jié)果原因?yàn)镽76阻值變大,換入新零件后測試一切正常。換入新零件后再按主板檢測表測試至第10步驟時發(fā)現(xiàn)Q6基極電壓偏低,主板測試不合格對策第(3) (2)G極上的開關(guān)脈沖前沿與Q1上產(chǎn)生的VCE脈沖后沿相不同步而另IGBT瞬間過流而擊穿,:項(xiàng)方法檢查,結(jié)果原因?yàn)镽74開路,換入新零件后測試一切正常。換入新零件后再按主板檢測表測試至第9步驟時發(fā)現(xiàn)V4為0V,主板測試不合格對策第(3) (1)以下是有關(guān)這種故障的案例：電流容量為15A的保險管一般自然燒斷的概率極低,通常是通過了較大的電流才燒,所以發(fā)現(xiàn)燒保險管故障必須在換入新的保險管后對電源負(fù)載作檢查。析燒保險管。故障現(xiàn)象12檢查C1容量是否不足,如果1600W以上機(jī)種C1裝的是1uF,。方法在低電壓使用時,由于電流較高電壓使用時大,而且工作頻率也較低,如果供電線路容量不足,會產(chǎn)生浪涌電壓,假如輸入電源電路濾波不良,則吸收不了所產(chǎn)生的浪涌電壓,會另浪涌電壓監(jiān)測電路動作,產(chǎn)生上述故障。析電磁爐低電壓以最高火力檔工作時,頻繁出現(xiàn)間歇暫停現(xiàn)象。故障現(xiàn)象11如果風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常,則檢查IGBT激勵電路,主要是檢查R18阻值是否變大、8放大倍數(shù)是否過低、D19漏電流是否過大。: 處理此現(xiàn)象為CPU檢測到IGBT超溫的信息,而造成IGBT超溫通常有兩種,一種是散熱系統(tǒng),主要是風(fēng)扇不轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)速低,另一種是送至IGBT析響兩次轉(zhuǎn)入待機(jī)(數(shù)顯型機(jī)種顯示E0)。電磁爐工作一段時間后停止加熱,故障現(xiàn)象10檢查C16是否漏電、R59是否開路、TH有否短路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。方法及一只C16電容作濾波。此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在散熱器的TH傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)析插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出四長四短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E8)。故障現(xiàn)象9檢查D24是否擊穿、TH有否開路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。方法,及一只C16電容作濾波。: 分: : 處理: 分: : 處理此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在微晶玻璃板底的鍋傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)開路信息,其實(shí)CPU是根椐第8腳電壓情況判斷鍋溫度及熱敏電阻開、短路的,而該點(diǎn)電壓是由R5熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D26作電壓鉗位之用(防止由線盤感應(yīng)的電壓損壞CPU)析插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出三長五短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E9)。故障現(xiàn)象6,因?yàn)楫a(chǎn)生本故障說明整流橋DB特性已變,快將損壞,所己必須將R14換回10K電阻并更換整流橋DB。檢查零檢測電路R7R1R1Q1CDD2均正常,根據(jù)原理分析,提供給過零檢測電路的脈動電壓是由DD2和整流橋DB內(nèi)部交流兩輸入端對地的兩個二極管組成橋式整流電路產(chǎn)生,如果DB內(nèi)部的兩個二極管其中一個順向壓降過低,將會造成電源頻率一周期內(nèi)產(chǎn)生的兩個過零電壓其中一個并未達(dá)到0V(電壓比正常稍高),Q11在該過零點(diǎn)時間因基極電壓未能消失而不能截止,集電極在此時仍為低電平,從而造成了電源每一頻率周期CPU檢測的過零信號缺少了一個。方法此現(xiàn)象為CPU檢測到電源波形異常信息,故障在過零檢測電路。析插入電源電磁爐連續(xù)發(fā)出響2秒停2秒的“嘟”聲,指示燈不亮。故障現(xiàn)象5主板測試不合格對策第(7)項(xiàng)方法檢查。方法此現(xiàn)象為CPU檢測到電壓過高信息,如果此時輸入電壓正常,則為VAC檢測電路故障。析插入電源電磁爐發(fā)出兩長四短的“嘟”聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E3)。故障現(xiàn)象4主板測試不合格對策第(7)項(xiàng)方法檢查。方法此現(xiàn)象為CPU檢測到電壓過低信息,如果此時輸入電壓正常,則為VAC檢測電路故障。析開機(jī)電磁爐發(fā)出兩長三短的“嘟”聲((數(shù)顯型機(jī)種顯示E2),響兩次后電磁爐轉(zhuǎn)入待機(jī)。故障現(xiàn)象3故障現(xiàn)象1第(7)、(9)案例檢查。: 處理但不加熱的故障。: 分: 另IC2A比較器因輸入兩端電壓反向(V4V3),輸出OFF,加至振蕩電路的試探電壓因IC2A比較器輸出OFF而為0,振蕩電路也就沒有輸出,:主板檢測表測試到第8步驟時發(fā)現(xiàn)V3為0V,主板測試不合格對策第(8)項(xiàng)方法檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)R78開路。CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。:項(xiàng)方法檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)C31漏電。主板檢測表測試一切正常,CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。:項(xiàng)方法檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)互感器CT次級開路。主板檢測表測試一切正常,G極上的平均電壓偏低,CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。:主板測試不合格對策第(15)項(xiàng)方法檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)C33漏電。測Q1G極無試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。由于C33漏電另通過R6向C33充電的PWM脈寬電壓被拉低,導(dǎo)至沒有試探電壓加至振蕩電路,結(jié)論再測G點(diǎn)也沒有試探電壓,再測Q7基極也沒有試探電壓,測Q1G極無試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。由于Q7開路導(dǎo)至沒有試探電壓加至振蕩電路,結(jié)論再測G點(diǎn)也沒有試探電壓,再測Q7基極試探電壓正常,測Q1G極無試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。造成振蕩電路輸出的試探信號電壓通過D17被拉低,:更換CPU后恢復(fù)正常。 (3)結(jié)果Q1:再測D18正極電壓為0V(啟動時CPU應(yīng)為高電平),結(jié)果發(fā)現(xiàn)CPU第19腳對地短路,更換CPU后恢復(fù)正常。G極沒有試探電壓,再測V8點(diǎn)也沒有試探電壓, (2)由于Q4擊穿,造成+22V電壓升高,另IC2D正輸入端V9電壓升高,導(dǎo)至加到IC2D負(fù)輸入端的試探電壓無法另IC2D比較器翻轉(zhuǎn),結(jié)果Q1結(jié)論測+22V電壓高于24V,主板測試不合格對策第(3)項(xiàng)方法檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)Q4擊穿。三是到達(dá)CPU第6腳的電壓必須足夠,影響該電壓的因素是流過互感器CT的試探工作電流及電流檢測電路。二是互感器CT須流過足夠的試探工作電流,一般可通測試Q1是否正?？珊唵闻卸ㄖ骰芈肥欠裾?在主回路正常及加至Q1G極的試探信號必須足夠,通過測試Q1:CPU先從第13腳輸出試探PWM信號電壓,該信號經(jīng)過PWM脈寬調(diào)控電路轉(zhuǎn)換為控制振蕩脈寬輸出的電壓加至G點(diǎn),振蕩電路輸出的試探信號電壓再加至IGBT推動電路,通過該電路將試探信號電壓轉(zhuǎn)換為足己另IGBT工作的試探信號電壓,另主回路產(chǎn)生試探工作電流,當(dāng)主回路有試探工作電流流過互感器CT初級時,CT次級隨即產(chǎn)生反映試探工作電流大小的電壓,該電壓通過整流濾波后送至CPU第6腳,CPU通過監(jiān)測該電壓,再與VAC電壓、VCE電壓比較,判別是否己放入適合的鍋具。根椐報(bào)警信息,此為CPU判定為加熱鍋具過小(直經(jīng)小于8cm)或無鍋放入或鍋具材質(zhì)不符而不加熱,并作出相應(yīng)報(bào)知。析連續(xù)1分鐘后轉(zhuǎn)入待機(jī)。: 故障案例通過主板1~14步驟測試合格仍不啟動加熱故障現(xiàn)象為每隔3秒發(fā)