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粒度分析的基本概念與知識(shí)(參考版)

2025-06-27 23:48本頁面
  

【正文】 可見水泥中大于30μm顆粒的含量越多,熟料的利用率就越低,水泥的性能就越差。小于3μm的細(xì)顆粒的水化速度很快,有的甚至在攪拌過程中就已經(jīng)完成,所以這些細(xì)顆粒僅對(duì)早期強(qiáng)度有利。在此范圍內(nèi)各粒級(jí)的分布應(yīng)是連續(xù)的,且總的含量不應(yīng)低于65%。水泥顆粒的大小與水化速度和程度有著直接的聯(lián)系,不同粒徑的水泥的水化速度和程度差異很大。所以越遠(yuǎn)離圓心,顆粒之間水平方向的距離就越大,有些顆粒甚至沿著樣品池的兩側(cè)滑向底部,使檢測(cè)區(qū)內(nèi)的顆粒濃度變稀,這就是離心沉降徑向稀釋效應(yīng),離心沉降徑向稀釋效應(yīng)會(huì)使測(cè)試結(jié)果小顆粒部分的含量降低。90. 什么是離心沉降徑向稀釋效應(yīng)? 樣品池中留一個(gè)氣泡是利用它在樣品池中滾動(dòng)來攪拌樣品的。 任意分級(jí)時(shí)第一個(gè)粒徑小于系統(tǒng)測(cè)試的最大粒徑值,這時(shí)應(yīng)重新設(shè)定任意分級(jí)中第一個(gè)粒徑值。這時(shí)減少分級(jí)數(shù)。88. 在結(jié)果報(bào)告單中最后一個(gè)粒級(jí)對(duì)應(yīng)的百分?jǐn)?shù)不是100%怎么辦?1)3)2)這時(shí)應(yīng)采取如下措施:1)出現(xiàn)這種情況的原因有最大粒徑位置選擇不當(dāng)、分級(jí)間隔太小,儀器穩(wěn)定性差、樣品沉降狀態(tài)不穩(wěn)定等因素引起的。例如某樣品關(guān)心2μm以下的含量,那么就應(yīng)將2設(shè)定到粒級(jí)序列當(dāng)中去。 分級(jí)應(yīng)滿足測(cè)試要求。 典型數(shù)值(如10和5的整數(shù)倍數(shù))一般應(yīng)設(shè)定到粒級(jí)當(dāng)中去。 任意分級(jí)時(shí)粒徑粗端間隔應(yīng)大些,細(xì)端應(yīng)間隔小些。 同一個(gè)樣品多次測(cè)量是粒徑分級(jí)應(yīng)盡量相同。 同一規(guī)格的樣品每次測(cè)試時(shí)最大粒徑應(yīng)確定在大致相同的位置。 最大粒徑的位置一般不能確定在第二個(gè)折點(diǎn)后面。 如果測(cè)試曲線第一條水平線段很短,而第二條水平線段較長(通常第二條水平線段的長度超過第一條水平線段長度5倍以上)時(shí),以第二條水平線段結(jié)束點(diǎn)為最大粒徑位置。 在理想狀態(tài)下,從測(cè)試曲線開始到第一條水平線段結(jié)束那一點(diǎn)即為最大粒徑位置。85. 如何確定最大粒徑位置?BT1500是通過測(cè)試曲線的變化來反映最大顆粒的。5)4)3)2)84. 怎樣來確定沉降法的測(cè)試下限?1)如此測(cè)試,直到相鄰兩次濃度值相差無幾為止。 首先,在燒杯中配制濃度大體附合測(cè)試要求的懸浮液,經(jīng)過一段時(shí)間分散后,取適量測(cè)量它的濃度值并記錄下來,再分散一段時(shí)間后取適量測(cè)一下濃度值。83. 怎樣用沉降粒度儀快速檢測(cè)樣品是否分散充分? 甘油起增粘劑的作用。82. 甘油在沉降介質(zhì)中的作用是什么?4)3)2)81. 影響沉降法粒度測(cè)試結(jié)果重復(fù)性的因素有那些?1)而純重力沉降方式和750轉(zhuǎn)離心沉降兩種方式用得較少。 BT1500有5種測(cè)試方式,應(yīng)根據(jù)樣品的粗細(xì)程度來選擇測(cè)試方式。80. 怎樣選擇BT1500的測(cè)試方式?5)4)3)2)79. BT1500有幾種測(cè)試方式?它們的測(cè)試范圍是多少?1) 沉降法是通過測(cè)試顆粒的沉降速度來得到粒度分布的,因此需要在測(cè)試前設(shè)定樣品比重才能正確測(cè)試顆粒的沉降速度,如果樣品的比重不同,就無法設(shè)定比重參數(shù)。 不同比重的混合粉體。 團(tuán)聚類粉體,如磁性粉材料體,因?yàn)檫@類粉體顆粒在測(cè)試過程中會(huì)團(tuán)聚。 樣品比重接近于水的粉體,因?yàn)檫@類粉體難以沉降。也就是說,它的測(cè)試范圍對(duì)不同的樣品會(huì)有所變化。這里所說的測(cè)試范圍是指這種儀器所能達(dá)到的極限值,并不意味著對(duì)所有樣品都能達(dá)到這個(gè)測(cè)試范圍。圖像法測(cè)量顆粒的大小與用直尺測(cè)量宏觀物體尺寸類似,屬于絕對(duì)測(cè)量法。 首先在顯微鏡下拍攝一幅有確定刻度的標(biāo)尺圖像(如圖),然后計(jì)算出兩個(gè)相鄰的刻度之間的像素?cái)?shù)量,進(jìn)而得到每個(gè)像素的尺寸。75. 圖像粒度儀是怎樣標(biāo)定的?4)3)2)74. 百特圖像粒度儀有哪些獨(dú)特技術(shù)?1)12)11)10)9)8)7)6)5)4)3)2)73. 百特激光粒度儀有哪些獨(dú)特技術(shù)?1)但是釹鐵硼粉在空氣中具有自燃特性,空氣溫度稍高或濃度達(dá)到一定程度時(shí)就自燃,常常會(huì)引燃吸塵器管路和濾網(wǎng)而燒毀吸塵器。72. 測(cè)試釹鐵硼粉粒度分布時(shí)要注意什么?如果對(duì)中不準(zhǔn)致使主光束照射到小角度探測(cè)器上,這些探測(cè)器就因飽和而無效了,就無法探測(cè)到大顆粒產(chǎn)生的散射光信號(hào)而導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)果。 自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)在激光粒度儀中的作用是隨時(shí)保證探測(cè)器的中心點(diǎn)與富氏透鏡的焦點(diǎn)重合,從而探測(cè)器有效接收所有角度上的散射光,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。二保證了測(cè)試條件完全一致,是保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。具備這種功能的儀器的所有操作過程都是在電腦控制下自動(dòng)完成。 第五,同一個(gè)廠家的同類產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果不同,這時(shí)只好找廠家解釋和解決。包括操作人員是否充分掌握了儀器的性能和正確的使用方法,取樣是否具有代表性、樣品是否被充分分散、分散劑種類與添加量以及添加方法是否適當(dāng)、所選用的介質(zhì)是否合適等,這些因素將對(duì)測(cè)試結(jié)果有著直接影響,所以面對(duì)一個(gè)有爭(zhēng)議的粒度測(cè)試數(shù)據(jù),在關(guān)注儀器方面原因的同時(shí),還要關(guān)注操作方面的原因。 第三,從儀器之外尋找原因。經(jīng)過雙方測(cè)試合格的樣品應(yīng)作為工作標(biāo)樣各自保留,以便隨時(shí)校驗(yàn)雙方的測(cè)試方法和儀器。這種情況下只要儀器是合格的、穩(wěn)定的、由正規(guī)廠家生產(chǎn)的,測(cè)試條件和樣品制備方法是正確的,那么所得到的結(jié)果都是正確的。我們要在科學(xué)分析的基礎(chǔ)上找出對(duì)策。綜上所述,測(cè)試結(jié)果的不一致性有樣品本身的原因,有儀器的原因,有使用及樣品制備方面的原因。 第四,樣品制備方法不當(dāng)。 第三,使用人員對(duì)儀器的性能沒有充分掌握,使用方法不當(dāng)。 第二,使用不同生產(chǎn)廠家的儀器。 第一,儀器原理不同。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因有以下幾個(gè)方面:一些粉體生產(chǎn)廠家和用戶往往會(huì)根據(jù)各自粒度數(shù)據(jù)來評(píng)判產(chǎn)品質(zhì)量,從而產(chǎn)生種種分歧。因此米氏散射理論更嚴(yán)密精確,弗朗和弗衍射理論是米氏散射理論的近似。 米氏散射理論是描述全角度(360度)的光散射規(guī)律的理論,并且考慮了物質(zhì)本身的光學(xué)特性(折射率),因而這種理論更全面和嚴(yán)密。66. 米氏散射與弗朗和弗衍射有何差別?由于氦氖激光器發(fā)出的光束方向性和單色性好,光束發(fā)散角小,可以連續(xù)工作,所以這種激光器的應(yīng)用領(lǐng)域也很廣泛,是應(yīng)用領(lǐng)域最多的激光器之一,主要用在全息照相的精密測(cè)量、準(zhǔn)直定位上。 在氣體激光器中,最常見的是氦氖激光器。 以前半導(dǎo)體激光器的缺點(diǎn)是激光性能受溫度影響大,光束的發(fā)散角較大(一般在幾度到20度之間),所以在方向性、目前半導(dǎo)體激光器的的性能已經(jīng)達(dá)到很高的水平, 世紀(jì)的信息社會(huì)中將取得更大的進(jìn)展,發(fā)揮更大的作用.65. 與半導(dǎo)體激光器相比HeNe激光器的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)半導(dǎo)體激光器的使用數(shù)量居所有激光器之首,某些重要的應(yīng)用領(lǐng)域過去常用的其他激光器,已逐漸為半導(dǎo)體激光器所取代。 半導(dǎo)體激光器又稱激光二極管(LD),是二十世紀(jì)八十年代半導(dǎo)體物理發(fā)展的最新成果之一。64. 與HeNe激光器相比半導(dǎo)體激光器的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)當(dāng)電源是恒流源時(shí),可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積。測(cè)量時(shí)將顆粒分散到液體中,顆粒就跟著液體一起流動(dòng)。 電阻法(庫爾特)顆粒計(jì)數(shù)器粒度測(cè)試原理是小孔電阻原理,如圖,小孔管浸泡在電解液中,小孔管內(nèi)外各有一個(gè)電極,電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。63. 電阻法(庫爾特)顆粒計(jì)數(shù)器粒度測(cè)試原理 組成圖像的最小的單位是像素,每個(gè)像素有特定的尺寸。62. 圖像粒度儀原理這些不同角度的散射光通過富氏透鏡后匯聚到焦平面上將形成半徑不同明暗交替的光環(huán),不同半徑上光環(huán)都代表著粒度和含量信息。 當(dāng)通過某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束中時(shí),激光將發(fā)生衍射和散射現(xiàn)象,一部分光將與光軸成一定的角度向外擴(kuò)散。如圖下圖所示: 激光粒度儀一般是由激光器、富氏透鏡、光電接收器陣列、信號(hào)轉(zhuǎn)換與傳輸系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。61. 激光粒度測(cè)試原理在實(shí)際測(cè)量過程中,直接測(cè)量顆粒沉降速度是很困難的,因此在沉降法粒度測(cè)試過程中,常常用透過懸浮液的光強(qiáng)的變化率來間接地反映顆粒的沉降速度。60. 沉降法粒度測(cè)試原理——比爾定律其中ω為離心機(jī)角速度,r為顆粒到軸心的距離。 為了加快細(xì)顆粒的沉降速度,縮短測(cè)試時(shí)間,提高測(cè)試精度,許多沉降儀引入了離心沉降手段來加快細(xì)顆粒的沉降速度。比如在相同條件下,兩個(gè)粒徑比為10:1,那么這兩個(gè)顆粒的沉降速度之比為100:1。沉降速度與粒徑的數(shù)量關(guān)系我們可以從下面的
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