畢業(yè)設(shè)計(jì)——基于單片機(jī)的數(shù)字電壓表的設(shè)計(jì)(參考版)
2025-06-23 13:10本頁(yè)面
【正文】 }else{scan()。tongdao(n)。if(j==0){n++。 //測(cè)量轉(zhuǎn)換一次if(i==0)for(。i=BO。P2=0xff。P0=0xff。 //控制復(fù)位}void main(){uint n,i,j。ad_con=s。OE=0。 //等待轉(zhuǎn)換結(jié)束OE=1。_nop_()。_nop_()。START=0。_nop_()。ALE=0。_nop_()。m8。ad_con=s。}}}//*****0809轉(zhuǎn)換子函數(shù)*****//void test(){uchar m。 //delaylms(1)。if(i==2){DISX=0。i4。m500。elseA=0。amp。amp。 //計(jì)算小數(shù)第二位dis[0]=dis[4]/51。dis[4]=dis[4]%51。 //余數(shù)暫存dis[4]=dis[4]*10。dis[2]=ad_data[n]/51。 //通道值加1}}//*****通道選擇函數(shù)*****//void tongdao(uint n){uint m,i。P3=0xff。}P3=scan_con[k]。k++) //4位LED掃描控制{Disdata=dis_7[dis[k]]。h++) //每個(gè)通道顯示時(shí)間控制約為一秒{for(k=0。for(h=0。dis[0]=0)A=1。dis[1]6amp。if(dis[2]=4amp。dis[4]=dis[4]*10。 //計(jì)算小數(shù)第一位dis[1]=dis[4]/51。 //測(cè)得值轉(zhuǎn)換為3位BCD碼，dis[4]=ad_data[n]%51。n8。dis[3]=0x01。}//*****顯示掃描子函數(shù)*****//void scan(){uchar k,n。j120。it。 //定義4個(gè)顯示數(shù)據(jù)單元和1個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元//*****1ms延時(shí)子函數(shù)*****//void delaylms(uint t) //t=1{uint i,j。 //4位列掃描控制字 //11111110//11111101//11111011//11110111uchar data ad_data[8]={0x00,0x00,0x00,0x00,0x00,0x00,0x00,0x00}。uchar code dis_7[11]={0xC0,0xF9,0xA4,0xB0,0x99,0x92,0x82,0xF8,0x80,0x90,0xff}。sbit BO=P3^5。 //轉(zhuǎn)換結(jié)束標(biāo)志位sbit DISX=Disdata^7。 //啟動(dòng)一次轉(zhuǎn)換位sbit OE=P2^5。附錄一 數(shù)字電壓表原理圖附錄二 程序清單include include //延時(shí)函數(shù)用define ad_con P2 //A/D控制口define addata P0 //A/D數(shù)據(jù)記入讀入口define Disdata P1 //顯示數(shù)據(jù)段碼輸出口define uchar unsigned chardefine uint unsigned intsbit ALE=P2^3。此外，更重要的是，鍛煉了實(shí)踐工作的能力，提高工程素養(yǎng)，學(xué)會(huì)將理論與實(shí)踐相結(jié)合，用理論指導(dǎo)實(shí)踐，通過(guò)實(shí)踐來(lái)驗(yàn)證和加深對(duì)理論的理解，使得自己在理論和實(shí)踐上有新的認(rèn)識(shí)和提高，使綜合應(yīng)用能力和分析解決問(wèn)題的能力得到提高。但是隨著量程增大，測(cè)量的精度會(huì)降低。當(dāng)要測(cè)量大于5V的直流電壓時(shí)，可在測(cè)量信號(hào)的輸入口使用分壓電阻，通過(guò)計(jì)算間接得到測(cè)量結(jié)果。因?yàn)樵撾妷罕碓O(shè)計(jì)時(shí)的直接供電電源也同時(shí)作為ADC0809的基準(zhǔn)電壓，所以電壓有可能有偏差。另外， V。如果要獲得更高精度的測(cè)量要求，則應(yīng)采用更高位的A/D轉(zhuǎn)換器件。（二）性能分析由于單片機(jī)為8位處理器，ADC0809輸出數(shù)據(jù)值為255（FFH）,（5/255）。測(cè)量對(duì)比分析的結(jié)果如表51所示。 //控制復(fù)位}五、調(diào)試及性能分析（一）測(cè)量與調(diào)試采用Keil和Proteus軟件進(jìn)行程序編譯及電路仿真調(diào)試，利用Protel軟件進(jìn)行硬件電路板的制作設(shè)計(jì)，通過(guò)STC_ISP軟件將Keil程序編譯時(shí)生成的hex文件燒錄到單片機(jī)內(nèi)，組裝好電路后進(jìn)行硬件和軟件的綜合調(diào)試。ad_con=s。OE=0。 //等待轉(zhuǎn)換結(jié)束OE=1。_nop_()。_nop_()。START=0。_nop_()。ALE=0。_nop_()。m8。ad_con=s。 A/D轉(zhuǎn)換測(cè)量子程序流程圖A/D轉(zhuǎn)換子程序分析如下：void test(){uchar m。 //通道值加1}}2. A/D轉(zhuǎn)換測(cè)量子程序A/D轉(zhuǎn)換測(cè)量子程序用來(lái)控制對(duì)ADC0809的8路模擬輸入電壓的A/D轉(zhuǎn)換，并將對(duì)應(yīng)的數(shù)值移入單片機(jī)70H77H內(nèi)存單元。P3=0xff。}P3=scan_con[k]。k++) //4位LED掃描控制{Disdata=dis_7[dis[k]]。h++) //每個(gè)通道顯示時(shí)間控制約為一秒{for(k=0。for(h=0。dis[0]=0)A=1。dis[1]6amp。if(dis[2]=4amp。dis[4]=dis[4]*10。 //計(jì)算小數(shù)第一位dis[1]=dis[4]/51。 //測(cè)得值轉(zhuǎn)換為3位BCD碼，dis[4]=ad_data[n]%51。n8。dis[3]=0x01。 顯示子程序流程圖顯示掃描子程序分析如下void scan(){uchar k,n。測(cè)量所得的
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