測(cè)試基本知識(shí)培訓(xùn)試題(參考版)
2025-06-22 18:26本頁(yè)面
【正文】 9 / 9。這也就是為什么我們強(qiáng)調(diào)在開(kāi)發(fā)過(guò)程中每一個(gè)作業(yè)都要有書(shū)面報(bào)告的記錄的原因。8．設(shè)計(jì)文檔中只能看到系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)描述，但不能看到系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的分析，為什么？答：設(shè)計(jì)文檔的確只描述系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的方式，沒(méi)有描述出系統(tǒng)為什么如此實(shí)現(xiàn)及確定實(shí)現(xiàn)方式的分析過(guò)程。在SS設(shè)計(jì)文檔中專(zhuān)門(mén)有一章詳細(xì)說(shuō)明系統(tǒng)使用的公用模塊的名稱(chēng)、功能、參數(shù)。并生成相應(yīng)的測(cè)試腳本。6．在IT/ST測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)測(cè)試用例以外的Bug時(shí)應(yīng)如何處理？答：IT/ST測(cè)試用例中有一個(gè)大項(xiàng)目為隨機(jī)測(cè)試。一般的原則是誰(shuí)申請(qǐng)誰(shuí)釋放，在釋放后，將內(nèi)存指針置零。}4．內(nèi)存釋放錯(cuò)誤。\039。 while(0 != isspace((int)*ch)){/*向前查找時(shí)未檢查邊界，可能造成越界*/ ch 。 ch = amp。 size_t tmp = 0。如下例函數(shù)去除字串左邊的空格時(shí)，由于未考慮到空串的情況，因此產(chǎn)生了Bug。 //o2原來(lái)的指針懸浮，無(wú)法回收 ......3．邏輯錯(cuò)誤，產(chǎn)生Bug。 Object* o2 = new Object()。}由于將malloc(strlen((char*)in)+1)誤寫(xiě)為malloc(strlen((char*)in+1))而產(chǎn)生內(nèi)存越界的Bug。 out = (signed char*)malloc(strlen((char*)in + 1))。5．編碼中常見(jiàn)的Bug有哪些？如何避免？答：1．書(shū)寫(xiě)馬虎，產(chǎn)生Bug。4．在PG階段進(jìn)行哪些工作？答：PG階段的工作如下：1．根據(jù)PS文檔編寫(xiě)模塊設(shè)計(jì)書(shū)；2．編寫(xiě)PG文檔編寫(xiě)程序，程序完成后應(yīng)消除所有編譯警告；3．對(duì)代碼按照項(xiàng)目的規(guī)范進(jìn)行檢查并修正不合格的地方；4．根據(jù)PG文檔及程序，編寫(xiě)MT測(cè)試用例；5．進(jìn)行MT測(cè)試。由質(zhì)量部負(fù)責(zé)。作用是確定階段的開(kāi)發(fā)成果。 三、 軟件工程1．軟件開(kāi)發(fā)分為哪幾個(gè)階段？答：中國(guó)的分類(lèi)：可行性分析與計(jì)劃、需求分析、設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)、集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試、運(yùn)行維護(hù)。 20．畫(huà)圖說(shuō)明公司mm21s項(xiàng)目自動(dòng)測(cè)試的方法。5）將打包后的成果物以二進(jìn)制上傳到服務(wù)器上，在新的測(cè)試環(huán)境下，解壓測(cè)試。3）對(duì)成果物進(jìn)行打包。19．在打包前和打包后要做哪些必要的工作？答：1）檢查當(dāng)前要打包的成果物更新時(shí)間。b) 打開(kāi)測(cè)試式樣書(shū)，點(diǎn)擊工具欄－宏－錄制新宏，打開(kāi)工具欄－宏－VB編輯器。18．如何保證式樣書(shū)上的測(cè)試用例能夠正確的生成測(cè)試腳本，如何將式樣書(shū)上的測(cè)試用例生成測(cè)試腳本。
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1