x射線的產(chǎn)生與本質(參考版)
2025-05-10 18:15本頁面
【正文】 。求其晶體結構、標定指數(shù)和計算晶格常數(shù)。 ，和 176。 ， 176。 ， 176。 ， 176。 ? 1用 CukαX射線攝得某物質的 10條衍射峰，其 θ角為：176。 安全措施有：嚴格遵守安全條例 、 配帶筆狀劑量儀 、 避免身體直接暴露在 X射線下 、定期進行身體檢查 。 ? 輻射損傷是過量的 X射線對人體產(chǎn)生有害影響 。 ? 電震的危險在高壓儀器的周圍是經(jīng)常地存在的 ，X射線的陰極端為危險的源泉 。工作原理在以后介紹。 X射線的探測 ?熒光屏法； ?照相法； ?輻射探測器法： X射線光子對氣體和某些固態(tài)物質的電離作用可以用來檢查 X射線的存在與否和測量它和強度。 一、 λ種種 ?λ0 ?λ m ?λ 有效 ?λ k α ?λ k β ?λ k 二、 X射線與物質相互作用 康普頓效應 熱能 透射 X射線衰減后的強度 It 散射 X射線 電子 熒光 X射線 相干的 非相干 的 反沖電子 俄歇電子 光電子 俄歇效應 光電效應 167。 2222222121mcnemcneM???????????小結 ?本章我們重點介紹了 X射線的產(chǎn)生條件、X射線的特性以及 X射線與物質的相互作用，其中介紹了很多名詞，如光電效應、熒光輻射等等。 ? ①查附表 ? μmCu= cm2/g ? μmO= cm2/g ? ② 計算重量百分比 ? Cu 占 64/（ 64+16） = ? O 占 16/（ 64+16） = ? ③ 求和 ? μm CuO=μmi wi = + = cm2/g ? 注意： 對于同一種物質、不同波長的 X射線，其質量吸收系數(shù)的值是不同的。即 μ m =μ mi w i ? Μ mi為各 i元素的質量吸收系數(shù) ? W i為各 i元素的重量百分比 ? 即復雜物質的質量吸收系數(shù)等于各組成元素的質量吸收系數(shù)與該元素在此物質中所占百分比的乘積的和。 ? 4）復雜物質的質量吸收系數(shù) ? 一種物質的質量吸收系數(shù)，只與它的化學組成有關，而與它所處的物理狀態(tài)無關；同時與物質中原子間的結合方式也無關。實驗證明，此平均值相當于（ — ） λ0下所對應的吸收系數(shù)。 ? 對于連續(xù)譜，由于波長從 λ0到 λ∞，波長范圍廣，X射線強度的衰減將變的復雜。 ?對于單質物質，其 μm∝ λ3Z3 吸收限的應用 ?濾波片的選擇 : 使濾波片的吸收限 λ k位于特征 X射線波長 K α和 K β之間，且盡量靠近 K α 。 μ m ==μ l / ρ ?ρ指 1立方厘米物質含有 ρ克，即每克物質引起的 X射線強度的相對衰減量。 ?因為強度 I是指單位時間內(nèi)通過一平方厘米截面的能量（或光子數(shù)目），此能量又穿過 1厘米厚度的物質后，其相對衰減量 μ l =d I/ I ?即 1立方厘米物質引起的 X射線強度的相對衰減量。突變對應的波長為 K吸收限。 ? ? tttxxxdxxxmlleIeIIdxIdIIII???????????????0/0? 衰減規(guī)律 ? 線衰減（吸收）系數(shù) ? 質量吸收系數(shù) 質量衰減系數(shù) μm ?表示單位重量物質對 X射線強度的衰減程度。 俄歇效應 ?原子在入射 X射線光子或電子的作用下失去K層電子，處于 K激發(fā)態(tài)；當 L層 電子填充空位時，產(chǎn)生兩種效應： ? (1) 熒光 X射線 （能級躍遷能量以 X－ ray發(fā)出） ； ? (2) 產(chǎn)生二次電離，使另一個核外電子成為二次電子 —— 俄歇電子 （能級躍遷能量使另一 L電子飛出） 。 光電效應 ?激發(fā)二次特征輻射時，入射 X射線光子的能量擊出 K電子 , 這種電子稱為光電子，這一現(xiàn)象稱為 光電效應 。 ? 2）產(chǎn)生條件 激發(fā)限 λ K 為使被照原子能發(fā)射二次特征輻射，入射 X射線光子的能量必須大于（至少等于）為擊出一個 K層電子所做的功 Wk。 ?不相干散射不能參與衍射，它只會使衍射圖象背底升高，對衍射分析工作不利； 熒光輻射（二次特征輻射） ? 1)熒光輻射的概念 當具有足夠能量的 電子 從被照物質中擊出內(nèi)層電子時，將產(chǎn)生特征 X射線；同理， 當具有足夠能量的 X射線 從被照物質中擊出內(nèi)層電子時，也將產(chǎn)生特征 X射線，這種由 X射線激發(fā)作
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