超聲檢測(cè)設(shè)備與器材(參考版)
2025-05-05 03:34本頁(yè)面
【正文】 ?謝謝大家??！ 。 ? 斜探頭入射點(diǎn) 用 IA試塊 R10反射體測(cè)量。 ? 動(dòng)態(tài)范圍： ? 抵制調(diào)到 “0”， 將直探頭對(duì)準(zhǔn)某一反射體，調(diào)節(jié)衰減器和增益旋鈕（ 數(shù)字機(jī)調(diào)哪個(gè)鍵？ ），使回波高度達(dá)到示波屏滿刻度的 100%， 調(diào)衰減器旋鈕（ 數(shù)字機(jī)調(diào)哪個(gè)鍵？ ），使回波幅度 100%降至剛能辨認(rèn)的最小值時(shí)，該調(diào)節(jié)量即為該儀器的動(dòng)態(tài)范圍。 ? 3） 觀察并記錄 B B B4與水平刻度值 、 、 值 a a a4。 JB/T47302022標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，水平線性誤差不大于 1%。 ? 6） 計(jì)算垂直線性誤差 D ? D=（ |d1|+|d2|） ? D1理想相對(duì)波高和實(shí)測(cè)相對(duì)波高的正偏差 ? D2理想相對(duì)波高和實(shí)測(cè)相對(duì)波高的負(fù)偏差 ? D即為該儀器的垂直線性誤差。 ? 5） 算出每次衰減后的 ? 實(shí)測(cè)相對(duì)波高 %=（ Hi/H0） 100%。作為 “0” dB。 其測(cè)量步驟是： ? 1） 抑制調(diào)至 “0”， 衰減保留至少 30dB的余量； ? 2） 直探頭對(duì)準(zhǔn)某一大平底如對(duì)準(zhǔn) IA標(biāo)準(zhǔn)試塊的底面，并保持恒定壓力。 ? 四、幾種儀器、探頭及其組合性能測(cè)試方法 ? 垂直線性 ? 通常我們采用規(guī)定反射體如大平底產(chǎn)生的回波，用儀器上的衰減器改變屏幕上顯示的回波高度，以測(cè)得的回波高度值與相應(yīng)衰減量對(duì)應(yīng)的理論波高的最大差值作為儀器的垂直線性誤差。 ? 信噪比：信噪比是指示波屏上有用的最小缺陷信號(hào)幅度與無(wú)用的最大噪聲幅度之比。靈敏度余量與儀器和探頭的綜合性能有關(guān)，因此，又稱儀器和探頭的綜合靈敏度。靈敏度余量是指儀器最大輸出時(shí)（增益、發(fā)射強(qiáng)度最大，衰減和抑制為零時(shí)），使規(guī)定反射體回波達(dá)到基準(zhǔn)高，所需衰減的衰減總量。發(fā)現(xiàn)的缺陷越小，靈敏度就越高。影響定位精度和定量精度。影響定位精度。 K值是折射角的正切值，即： K=tgβ=L/H 入射點(diǎn)、折射角或 K值都是特有的斜探頭的指標(biāo)。 由斜楔的角度和超聲波在工件 中的傳播速度決定。注要關(guān)注以下幾項(xiàng)性能指標(biāo)： ? 探頭入射點(diǎn)： 入射點(diǎn)是指斜探頭斜楔中縱波聲軸入射到探頭底面的交點(diǎn)，通常用前沿長(zhǎng)度表示。水平線性影響缺陷位置的準(zhǔn)確度 。動(dòng)態(tài)范圍通常是用滿足上述條件的最大輸入信號(hào)與最小輸入信號(hào)之比的分貝值表示。垂直線性影響缺陷當(dāng)量的評(píng)定結(jié)果。 對(duì)一個(gè)檢測(cè)人員來(lái)說(shuō)，不僅要了解這些性能，還要能對(duì)這些性能指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試，以便定期對(duì)儀器和探頭的性能進(jìn)行測(cè)試和校驗(yàn)，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。 ? 用于調(diào)整檢測(cè)靈敏度。 ? CSKⅢ A標(biāo)準(zhǔn)試塊的用途 ? 1） 用于測(cè)量斜探頭的 K值或折射角 ? 2） 用于制作斜探頭的距離 —波幅曲線。利用 φ50、 φ4 φ40臺(tái)階孔。利用試塊的直角棱邊測(cè)。 7） 調(diào)整橫波檢測(cè)范圍和掃描速度，利用 R50和 R100反射體。 6） 測(cè)量斜探頭和儀器的組合靈敏度余量。 4） 測(cè)量斜探頭的入射點(diǎn)，用 R100反射體。用 25mm或 100mm反射體 3） 測(cè)定直探頭和儀器組合的遠(yuǎn)程分辨力。 ? 二、試塊的結(jié)構(gòu)與作用舉例 ? CSKⅠ A標(biāo)準(zhǔn)試塊： ? CSKⅠ A的結(jié)構(gòu)和尺寸如圖所示 ? CSKⅠ A的作用： 1） 調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度，用 25和 100反射體。 ? 平底孔一般具有點(diǎn)狀面積型反射體的特點(diǎn)，主要用于鍛件、鋼板、焊接接頭、復(fù)合板、堆焊層的超聲檢測(cè)。 ? 短橫孔在近場(chǎng)區(qū)表現(xiàn)為線狀反射體特征，在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)表現(xiàn)為點(diǎn)狀反射體特征?？勺鳛橛幸欢ㄩL(zhǎng)度的裂紋、未焊透、未熔合和條狀缺陷的人工反射體。 ? 人工反射體：為檢測(cè)某一類型的缺陷，人為在試件中加工的具有與檢測(cè)缺陷特征相近的規(guī)則反射體，稱為人工反射體。 ? 模擬試塊：模擬試塊是含有模擬缺陷的試塊，可以是模擬工件中實(shí)際缺陷而制作的樣件，也可以是檢測(cè)中所發(fā)現(xiàn)的含自然缺陷的樣件。 ?對(duì)比試塊主要用于檢測(cè)校準(zhǔn)及評(píng)估缺陷的當(dāng)量尺寸。 ? 對(duì)比試塊：對(duì)比試塊是以特定方法檢測(cè)特定工件時(shí)采用的試塊，含有意義明確的人工反射體。要用平爐鎮(zhèn)靜鋼和電爐軟鋼制作，表面粗糙度一般不低于 ，尺寸公差 177。 ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊的作用是用于儀器和探頭系統(tǒng)性能測(cè)試校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn) ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求是：材質(zhì)均勻、雜質(zhì)少、無(wú)影響使用的缺陷、易加工、不易變形和銹蝕、具有良好的聲學(xué)性能。 ? 一、試塊的分類 超聲檢測(cè)用試塊通常分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊和模擬試塊三大類 ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊：標(biāo)準(zhǔn)試塊是指由權(quán)威機(jī)構(gòu)制定的， 其特性和制作要求有專門標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸和表面狀態(tài) 。 性能穩(wěn)定、不易變質(zhì)，能較長(zhǎng)時(shí)間保存。 來(lái)源廣，價(jià)格便宜。 ?一般要求耦合劑應(yīng)滿足以下要求： 能潤(rùn)濕工件和探頭表面，流動(dòng)性好，粘度和附著力適當(dāng)，不難清洗。因此，在探頭與工件之間施加耦合劑，以排除探頭與工件間的空氣間隙，使超聲波能夠傳入工件，從工件中反射回的超聲波也能返回到探頭，這是施加耦合劑的主要目的。為改善探頭與工件間聲能的傳遞，而加在探頭和檢測(cè)面之間的液體薄層稱為耦合劑。 ? 5T20FG10Z， 5I14SJ10DJ 探頭種類 代號(hào) 探頭種類 代號(hào) 直探頭 Z 水浸聚焦探頭 SJ 斜探頭（用 K值表示） K 表面波探頭 BM 斜探頭（用折射角表示） X 可變角探頭 KB 分隔探頭 FG 第三節(jié) 耦合劑 超聲耦合是指超聲波在檢測(cè)面上的聲強(qiáng)透射率。 ? 如 ,晶片材料為鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片尺寸為 13X13， K值為 2的斜探頭。 ”。
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