智能儀器頻率測試儀設計(參考版)
2025-03-29 01:20本頁面
【正文】 類別型號封裝個數(shù)電阻100RES314510RES3810KRES35排阻SIP9210K電位器W2230KRES35二極管1N4148DIODE23三極管9014TO924901890134IC74HC02DIP14374HC138DIP16174HC573DIP202ULN2803DIP181STC12C5A16S2DIP40174136DIP1417408DIP141741DIP081LM324ADIP142電容RB1230pFRAD1522uF/16VRB12極性電容RB11晶振CY11繼電器JDQT71T711顯示器4LEDSM4205644按鍵KEY43USB連接器J5USB扁頭1電源輸入J41程序下載口CON3 SIP61電源模塊 KEY3KEY31。i++) { display(frequ[i], i)。 for(i=0。 phase=180(12*freq*ph)。i++) { display(frequ[i], i)。 //調(diào)用數(shù)據(jù)處理函數(shù) for(i=0。 //調(diào)接鍵盤掃描程序 if(button==0xfe) //判斷鍵值，如果為0xfe，則進行測試頻率的操作 { freq=test_freqT0()。 int x,y=0。 bb=TL1return(bb)}endifinclude include include void main(){ uchar i。} LOOP2:if(P3_3==1){goto LOOP2。} TR1=1。 TH1=0X00。 TMOD=0X00。}uchar test_pahse(void){ uchar bb。 aa=aa+TL0。 aa=TH0。 delay_1ms(1000)。 ET0=1。 TH0=0X00。 TMOD=0x05。 if(key==ksp[i]) { return(key)。i++) { if(P1==ksp[i]) { delay()。 for(i=0。 }/*鍵盤掃描程序，通過向P1口輸出0Xff，通過判斷P1口的信號是否發(fā)生了改變，如果發(fā)生了改變，考慮到鍵盤的抖動，通過延時后，再次判斷P1口的值，并將P1口的鍵值返回到主程序 */ uchar keypad_scan() { uchar i。 frequ[6]=database/10frequ[0]*1000000frequ[1]*100000frequ[2]*10000frequ[3]*1000frequ[4]*100frequ[5]*10。 frequ[4]=database/1000frequ[0]*10000frequ[1]*1000frequ[2]*100frequ[3]*10。 frequ[2]=database/100000frequ[0]*100frequ[1]*10。 } void jisuan(ulong database) //對所得數(shù)據(jù)信號（頻率或者相位）進行處理{ frequ[0]=database/10000000。 A1=0。 delay1()。 A1=1。 C3=0。 //送入數(shù)據(jù) C3=1。 }}/*顯示函數(shù)，先將段碼通過P0口送出經(jīng)74HC573鎖存，再將位碼通過P0口輸出經(jīng)74HC573，ULN2803輸出位碼*/display(uchar temp,uchar i) { Write=0。j100。i10。 while(t) { t。i++)。 for(i=0。i++)。 for(i=0。uchar frequ[8]。ulong time0。 //7SEGCCuchar address[]={0x01,0x02,0x04,0x08,0x10,0x20,0x40,0x80}。 //中位sbit C3=P2^7。 //寫信號低電平有效sbit A1=P2^5。附錄2：PCB圖附錄3：程序代碼/*頭文件定義*/ifndef __HEAD_H__define __HEAD_H__define uchar unsigned chardefine uint unsi
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