外文翻譯---一種基于ds18b20的溫度探測系統(tǒng)(參考版)
2025-06-07 00:25本頁面
【正文】 這個(gè)系統(tǒng)是適用于瀝 青運(yùn)輸?shù)募夹g(shù)改革一些國內(nèi)大型工程機(jī)械車輛實(shí)現(xiàn)公司和應(yīng)用程序的好成績。 結(jié)論創(chuàng)建以下新思路 1 替代試驗(yàn)多點(diǎn)的時(shí)間差溫度測試系統(tǒng)的分組方法和單總線的方法進(jìn)行了分析，然后交替的測試速度可大大提高了分組方法。包裝發(fā)送溫度數(shù)據(jù)和 DS18B20 的數(shù)字上位機(jī)系統(tǒng)中。兩頭在外的三個(gè)邏輯執(zhí)行按位）。首先，無線模塊設(shè)置為接收狀態(tài)接收收集參數(shù)和啟動(dòng)順序（傳輸內(nèi)容包發(fā)送 。長途線保持執(zhí)行 DS18B20 的編輯任務(wù)。外接電源回歸后， 89C52 首先自我檢查，然后分配給每個(gè)分支的程序模塊。 B. 系統(tǒng)軟件功能和過程 溫度測試系統(tǒng)的軟件部分 DS18B20 的收集和轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，執(zhí)行無線溝通，管理鍵盤等。如果間隔超過為 ，針并沒有收到脈沖信號(hào)，然后 89C52 必須扭轉(zhuǎn)。當(dāng)電源被添加到系統(tǒng)中，回歸信號(hào)傳輸?shù)腗AX813 回歸針，價(jià)值回歸脈沖為 200ms。 DS18B20 與電源，分為 8 組掛在 P1 口（ 口）。作為DS18S20 區(qū)分代碼讀取和編號(hào)，液晶顯示模塊（敖克拉中國集成模塊 OCMJ 金鵬公司）和鍵盤模塊補(bǔ)充說。上位機(jī)采用 PC 機(jī)，主要接收溫度數(shù)據(jù)從下位機(jī)上位機(jī)顯示，存儲(chǔ)和管理數(shù)據(jù)。溫度測試系統(tǒng)軟件采用模塊化設(shè)計(jì)。不可避免 的溫度，減少因?yàn)r青運(yùn)輸車輛的長期工作和運(yùn)輸距離影響的攤鋪質(zhì)量路面，必須采取具體措施，根據(jù)殼的熱釋放。因此，備用的測試分組模式消耗的時(shí)間明顯比單總線模式短得多。寫入或讀取下位跨度是微秒。一位寫作時(shí)間是 60us120us?；貧w時(shí)間序列和時(shí)間序列的寫作和閱讀的一個(gè)位微處理器在數(shù)字 46 中顯示。一名候補(bǔ)測試完成后 DS18B20 溫度數(shù)據(jù)讀取完全由周期性的讀數(shù)為 25 倍。最后的數(shù)據(jù)是轉(zhuǎn)化。轉(zhuǎn)換后，匹配 ROM 命令同時(shí)發(fā)送到每個(gè)電路， 64位序列號(hào)發(fā)送。首先回歸脈沖被發(fā)送到所有 DS18B20的。 “電路原理圖 2所示（ DS18B20的信號(hào)同組的公共汽車上都掛著 P1口的一些公共汽車）。外部供電電源。假設(shè)量 P1 口的總線是和溫度測試系統(tǒng)需要 100 DS18B20 的傳感器，可以平均分配 4 I / O 線。有兩個(gè)電源的替代方法：信號(hào)總線的高級(jí)別借采用電源或 +5V 外部電源直接采用。 0 號(hào)存儲(chǔ)存儲(chǔ)器溫度值，補(bǔ)充和一號(hào)存儲(chǔ)器溫度值的符號(hào)。溫度可在 720ms 的數(shù)字改為每個(gè) DS18B20具有唯一的 64 數(shù)字序號(hào)。 DS18B20 是由 64數(shù)字光盤刻激光，溫度敏感性組成部分，非易失性溫度報(bào)警觸發(fā)器（設(shè)備 TH 和TL）。一套點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)溫度，在此實(shí)現(xiàn)人工環(huán)境實(shí)驗(yàn)室測試，這增加了測試效率。如果溫度測試系統(tǒng)是大型系統(tǒng)由它造成的損失是相當(dāng)多的，然后交替測試系統(tǒng)的運(yùn)行速度明顯降低，從而影響多點(diǎn)溫度測試系統(tǒng)的效率。因?yàn)橥ㄟ^一個(gè) DS18B20 的多點(diǎn)溫度測試系統(tǒng)總線，所有 DS18B20 是掛在一條總線上，然后每個(gè)溫度測試點(diǎn)的值轉(zhuǎn)換輪流讀。 關(guān)鍵詞： DS18B20 的集團(tuán)，溫度測試，輪流測試所花費(fèi)的時(shí)間。如果系統(tǒng)有大量的傳感器， MCU 的時(shí)間用在處理溫度數(shù)據(jù)明顯延長，因此周期替代測試變得更長。 the same content is sent for three times 。 the span of writing or reading the next bit is 1us. As the A/D conversion time is (9 precisions), if it is counted by the shortest way, the total timeconsuming of alternate test is calculated respectively as follows: (1) Single bus 495us+2*(8*60+7)us++495us+100*(64*60+ 63+8*60+7+9*60+8)us= (2) Grouping mode 495us+2*(8*60+7)us++20(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us= As the small proportion of the numeration system conversion and the storage time in the whole period, the unknown crystaloscillator frequency, the numeration system conversion and storage time is not counted. Accordingly, the alternate test time which grouping mode consumes is much shorter than single bus mode obviously. 4. EXAMPLE OF THE DESIGN The asphalt transportation vehicle is the main transportation equipment between the material field and road surface. The unavoidable temperature decreasing because of the asphalt transportation vehicle’s long working and transportation distance influences the paving quality of the road surface。 the writing period of one bit is 60us120us。 附錄Ⅲ A Design of the Temperature Test System Based on Grouping DS18B20 Abstract All the DS18B20 sensors, used for the multipoint test temperature, are connected with MCU on one of IO bus, and temperature data are collected by turns. If the system has a large amount of sensors, the time of MCU used in
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