表面分析技術(shù)培訓(xùn)課件-wenkub.com
2025-03-12 02:52 本頁面
【正文】 原子力顯微鏡可作為納米級的“壓痕器”，用來測量材料的彈性、塑性、硬度等性質(zhì)。 （ 1）將一個(gè)對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸。 ? 利用這樣的方法，科學(xué)家就有可能設(shè)計(jì)和制造具有各種全新結(jié)構(gòu)的新物質(zhì)。 111 (111) STM ? 利用 STM針尖與吸附在材料表面的分子之間的吸引或排斥作用，使吸附分子在材料表面發(fā)生橫向移動(dòng)，具體又可分為“ 牽引 ” 、 “ 滑動(dòng) ” 、 “ 推動(dòng) ” 三種方式。 STM的應(yīng)用 ? STM最重要的用途在于納米技術(shù)上。 2）其實(shí)驗(yàn)可在 多種環(huán)境 中進(jìn)行：如大氣、超高真空或液體（包括在絕緣液體和電解液中）。 X Xray Photoelectron Spectroscopy (XPS) ? XPSKai M. Siegbahn19541981 1981 Kai M. Siegbahn ? ? XXX 基本原理及特點(diǎn) ? Eb ? X ? Ek~EbA XPS ? ? XXX ? E = Enlj K —— 1S L —— 2S 2P1/2 2P3/2M —— 3S 3P1/2 3P3/2 3d3/2 3d5/2 … ? ? Mg Ag XPS Ag3d3/2 Ag 3d5/2 ?K X X ? X ? X X射線光電子能譜儀和樣品制備 XPS X X ?X ?Al/Mg XMg K? X eV Al K? X eV ? ? XPS ?XPS ? ? XPS107Pa ? X ? XPS的主要功能 1. 全掃描和窄掃描 ?1100 0 eV2eV ? 2. 定性分析 ? ? C, OC1S O1S 3. 定量分析 ? ?X ? F1s Sh //xxxiiiISCIS? ? XPS ? ? α α EKA EKP EKA EKP 4. 化學(xué)態(tài)分析 α′ α′ α+ hν EKA EKP + hν EKA + (hν EKP) α′ = EKA + EBP hν EBP α′ α′ 化學(xué)位移 ： 由于原子所處的化學(xué)環(huán)境不同而引起的內(nèi)層電子結(jié)合能的變化，在譜圖上表現(xiàn)為譜峰的位移，這一現(xiàn)象稱為化學(xué)位移。 ? 可獲得元素化學(xué)態(tài)的信息。更適合于表面元素定
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