spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析與管理-xxxx218-wenkub.com
2025-02-18 14:32 本頁面
【正文】 ? 典型的判讀準則選用參考如下 ︰ ?準則 5最為通用； ?準則 6較能探測平均值的變化； ?準則 8最能探測層別的問題； ?準則 7能探測數(shù)據(jù)來源以及展示改善的過程； ?準則 3用于探測過程的漂移 控制圖的利用 ? 當發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定，并尋找到特殊原因后，設(shè)法予以消除，然后剔除這些異常點的數(shù)據(jù)，再利用剩下來的數(shù)據(jù)（若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當數(shù)據(jù)），重新計算管制界限，重新判讀直至穩(wěn)定。 1, ??? ? nxxMR niii 通常定義 控制 圖 (單一觀測值管制圖 , ) Rmx ? MRI ?MRDLCLMRCLMRDUCLdMRxLCLxCLdMRxUCL3422 3 3 ,????????變異管制圖為平均數(shù)管制圖為在此資料型態(tài)下Rmx ? MRI ? 控制 圖 (單一觀測值管制 圖 , ) 組內(nèi)樣本大小固定 ? 假設(shè) m組樣本大小均為 n，若第 i組樣本含有 Di個不良品，則不合格率 為 ? 全部樣本的不合格率 ? 不合格率管制圖 mpmnDp mi imi i ?? ?? ??? 11 ?總樣本總不合格品數(shù)nDp i??npppLCLpCLnpppUCL)()(???????1313P控制 圖 (不良率管制圖 ) ? 不合格品數(shù)管制圖 )1(CL)1(n1ppnpnLppnpnUCLmNpmk k???????? ?nP控制 圖 (不良品數(shù)管制 圖 ) 這里： kN=子集 k中的不良品數(shù)（ k=1,2,3…m ） m=子集數(shù)（組數(shù)） ?????mk kmk kNp11n? 可用來管制 ? 一個檢測單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點的機率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設(shè)有 ? 平均缺點數(shù)必須遠小于所有可能的缺點總數(shù) ? 發(fā)生缺點的機會很大然而特定位置發(fā)生不合格點的機率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點的機會相同 ? 不合格點的發(fā)生為獨立 c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設(shè)下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點 數(shù) 作為平均值的估計： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 適用時機 ? 在實務(wù)應(yīng)用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會不同，無法滿足 c管制圖的假設(shè) ? 此時，使用 u chart單位缺點數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個區(qū)域，每一個區(qū)域范圍恰為一個 標準偏差 ，分別給予 ABC的稱號。對于 CPK 5M1E方面進行原因分析，且制定糾正預(yù)防措施。例如在物理科學(xué)中，做重復(fù)性測量時，測量數(shù)值集合的標準差代表這些測量的精確度。 PPK 有偏移的長期過程性能指數(shù)； K 偏移量 ∑X 樣本數(shù)據(jù)求和 R 極差 = 單組最大值 單組最小值 ∑ R 每組極差求和 標準差 (Standard Deviation)是一組數(shù)值自平均值分散開來的程度的一種測量觀念。 由管制界限的寬度 177。 ? 管制界限受制程的自然允差界限 (natural tolerance limits)的驅(qū)策，通常取制程平均數(shù)上下 3s所做的界限稱為自然允差上、下界限，以 Untl與 Lntl表示 。 常態(tài)分配 3σ 2σ 1σ μ +1σ +2σ +3σ % % % % % 控制圖的理論介紹 第三章 控制圖的種類 ?計量型控制圖 均值 極差圖 均值 標準差圖 中位數(shù) 極差圖 單值 移動極差圖 ?計數(shù)型控制圖 不合格品率控制圖 （ P圖） 不合格品數(shù)控制圖 （ nP圖） 單位缺陷控制圖 （ U圖） 缺陷數(shù)控制圖 （ C圖） Rx?SRmx?~正態(tài)分布 二項分布 泊松分布 計量 型 ， 如產(chǎn)品質(zhì)量特性 計數(shù) 型 ， 如缺點數(shù) 控制圖的 選用 備注：若樣本大小 2n ≦10 ， 可選用 XR管制圖 ? 計量型控制圖的數(shù)據(jù)需為常態(tài)分配； ? 計數(shù) 型控制 圖中 ,不良數(shù)控制圖 （ nP圖） 的每組樣本數(shù) 至少 50,缺點數(shù)管制圖 （ C圖） 的每組樣本平均有 1~5個缺點數(shù) 。是 做好制程控制中非常重要的關(guān)鍵 所在。 為何會產(chǎn)生如此的變動 ?原因是制程受到很多因素的 影響，且 通常很難把握這些 因素。 ? ：估計機器能力 ， 可妥善安排適當機器生產(chǎn)適當零件 。 ? SPC： Statistical Process Control(統(tǒng)計過程控制）是運用統(tǒng)計技術(shù)分析過程中的品質(zhì)特性從而控制過程變異 ? 過程：指的是共同工作以產(chǎn)生輸出的供方、生產(chǎn)者、材料、方法和環(huán)境及輸出顧客之集合 ? 統(tǒng)計：數(shù)量統(tǒng)計方法是一種科學(xué)的方法，它的理論基礎(chǔ)是數(shù)量統(tǒng)計學(xué)；其用途如： 提供表示事物特征的數(shù)據(jù)；
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