spc中控制圖的原理、制作和分析方法-wenkub.com
2025-02-15 21:45 本頁(yè)面
【正文】 故 Cp與Cpk二者的重點(diǎn)不同，需要同時(shí)加以考慮。但由于過(guò)程總是波動(dòng)的，分布中心一有偏移，不合格率就會(huì)增加，因此通常取 Cp＞ 1,當(dāng) Cp＝ 、 T＝ 8б，這樣整個(gè)質(zhì)量指標(biāo)值的分布基本上在上下規(guī)范限內(nèi)，且留有相當(dāng)余地。 二、過(guò)程能力指數(shù) ? 過(guò)程能力指數(shù)（ Process Capability Index)簡(jiǎn)稱 PCI或 Cp，也可稱為工序能力指數(shù)。過(guò)程能力反映了穩(wěn)態(tài)下該過(guò)程本身所表現(xiàn)的最佳性能（分布寬度最?。? 因此在穩(wěn)態(tài)下，過(guò)程的性能是可預(yù)測(cè)的，過(guò)程能力也是可評(píng)價(jià)的。 已經(jīng)給定的質(zhì)量規(guī)范限為 TL=,TU=、利用得到的統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下的 R； X來(lái)計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)： R 2 ＝ ＝ ＝33 TuT L 1 . 8 7 －1 . 8 36 б 6 0 . 0 0 8 = ＝ ＝由于 X＝ ,與容差中心 M＝（ Tu+TL)/2= (+)/2=，有必要計(jì)算偏移過(guò)程能力指數(shù) 計(jì)算有偏移的過(guò)程能力： 由于存在分布中心與容差中心的偏移，故有偏移的過(guò)程能力不足 1. |m μ ｜ |mx|T/2 (TuTl)/2||()/2 = = = =Cpk=(1k)Cp=() =35 步驟 7：延長(zhǎng)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下的 XR圖的控制限，進(jìn)入控制用控制圖的階段，實(shí)現(xiàn)對(duì)過(guò)程的日?？刂啤? 先計(jì)算 R圖的參數(shù)，然后作極差圖。 分析：此質(zhì)量特性是計(jì)量特性值，故可選用正態(tài)分布圖。 CL＋ σ圖九－1UCLCLLCLB區(qū)A區(qū)CL＋ 2 σCL＋ 3 σCL σA區(qū)B區(qū)C區(qū)C區(qū)CL3 σCL2 σCL? 由于在過(guò)程正常的情況下，下述 8種準(zhǔn)則出現(xiàn)的概率都很小，若出現(xiàn)即判斷過(guò)程異常。 九、判異準(zhǔn)則 ? 判異準(zhǔn)則有兩類：①點(diǎn)子出界應(yīng)判異；②界內(nèi)點(diǎn)排列不隨機(jī)判異。分析用控制圖調(diào)整過(guò)程即質(zhì)量不斷改進(jìn)過(guò)程。故日本有句名言：“始于控制圖，終于控制圖”。 七 、 X— R圖的控制限計(jì)算公式 X控制圖計(jì)算公式 UCLx = μ x+3 σ x = x+A 2 RCLx = μ x=xLCLx = μ x －3 σ x = xA 2 R13 八、分析用控制圖和控制用控制圖 分析用控制圖與控制用控制圖的含義 在一道工序開始應(yīng)用控制圖時(shí)，幾乎總不會(huì)恰巧處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（穩(wěn)態(tài)），也即是說(shuō)存在異因。 ? 推行 SPC能保證實(shí)現(xiàn)全過(guò)程預(yù)防。故在統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下產(chǎn)生的不合格品最少，生產(chǎn)最經(jīng)濟(jì)。必須強(qiáng)調(diào)要求現(xiàn)場(chǎng)第一線
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