rlc測(cè)量?jī)x開題報(bào)告-資料下載頁(yè)
【導(dǎo)讀】1課題研究意義和目的························································································1. 2國(guó)內(nèi)外該方向研究現(xiàn)狀及分析··············································································1. 3系統(tǒng)總體方案論證··························································································1. 4系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)·············
【正文】 測(cè)量?jī)x采用RC振蕩電路（如圖2）把待測(cè)元件參數(shù)信號(hào)轉(zhuǎn)換為脈沖頻率信號(hào)，充分利用單片機(jī)能夠精確捕捉采樣脈沖頻率信號(hào)的優(yōu)勢(shì)以及單片機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能，有效節(jié)省資源的同時(shí)還提高了測(cè)量精度，簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)。 電容三點(diǎn)式振蕩電路 振蕩電路采用LC 振蕩電路（如圖3），振蕩的頻率由L 和C 確定。振蕩管采用9014, Rb1和Rb2為基極偏置, Rc為限流電阻, 電容CC 2和電感L 構(gòu)成正反饋選頻網(wǎng)絡(luò), 反饋信號(hào)取自電容C2兩端。該電路也稱為電容3點(diǎn)式振蕩電路。輸入信號(hào)和反饋信號(hào)同相。在測(cè)量過程中, 當(dāng)測(cè)量電感時(shí), 輸入電路自動(dòng)把待測(cè)電感Lx 并聯(lián)到L 的兩端。當(dāng)測(cè)量電容時(shí), 輸入電路自動(dòng)把要測(cè)量的電容Cx 并聯(lián)到C1 的兩端。 各部分測(cè)試電路 （1）電阻測(cè)量電路 電阻的測(cè)量采用“ 脈沖計(jì)數(shù)法”, 由555 電路構(gòu)成的多諧振蕩電路,555 接成多諧振蕩器的形式,其振蕩周期為：得出即（2）電容測(cè)量電路電容的測(cè)量同樣采用“脈沖計(jì)數(shù)法”,由555 電路構(gòu)成的多諧振蕩電路,通過計(jì)算振蕩輸出的頻率來計(jì)算被測(cè)電容的大小。555 接成多諧振蕩器的形式,其振蕩周期為：T=t+t=(ln2)(R+R)C+(ln2)RC設(shè)R=R,得出即 （3）電感測(cè)量電路電感的測(cè)量是采用電容三點(diǎn)式振蕩電路來實(shí)現(xiàn)的。LC 回路中與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件是同性質(zhì)的,另外一個(gè)電抗元件為異性質(zhì)的,而與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件同為電容時(shí)的三點(diǎn)式電路,成為電容三點(diǎn)式電路：得出即5 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) 主程序流程圖 本系統(tǒng)是通過定時(shí)器定時(shí)并在定時(shí)期間對(duì)LRC電路所產(chǎn)生的脈沖進(jìn)行統(tǒng)計(jì),通過內(nèi)部程序計(jì)算出相應(yīng)的值并在LCD上顯示。主程序流程圖如圖4所示。 測(cè)量子程序流程圖測(cè)量頻率擬定為1秒鐘，具體由顯示效果確定。6實(shí)施計(jì)劃第1周 定下方案，收集資料，準(zhǔn)備開題；第2周—第4周 指定實(shí)驗(yàn)方案，系統(tǒng)仿真；第5周—第10周 硬件的焊接調(diào)試，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的測(cè)試分析和系統(tǒng)的改進(jìn)性研究；第11周—第15周 期末驗(yàn)收及論文撰寫；第16周 準(zhǔn)備答辯；7系統(tǒng)擬解決問題 該系統(tǒng)需要解決振蕩電路的起振、干擾和波形處理的問題。有時(shí)BJT的放大倍數(shù)不夠則電路起振較難，不利于測(cè)試，具體BJT的選擇需要靠實(shí)際測(cè)試確定。另外，也要考慮到振蕩頻率不能超過單片機(jī)的計(jì)數(shù)最高頻率，也涉及到了晶振頻率的選擇問題。 另外，系統(tǒng)引入量程切換功能，對(duì)軟件的編寫來說也有一定的難度。同時(shí)系統(tǒng)的智能性也有待研究。8主要參考文獻(xiàn)[1] (第5 版)[M]．高等教育出版社,2006.[2] 華成英,(第4 版)[M].高等教育出版社,2006.[3] 閆玉德, :51 單片機(jī)原理與應(yīng)用:C語(yǔ)言版[M].機(jī)械工業(yè)出版社,2004.[4] 牛百齊. 基于單片機(jī)的電容測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì)[J].儀器儀表用戶,2005,12(4):2930.[5] 劉明亮. 振蕩器的原理和應(yīng)用[M].北京: 高等教育出版社,1983.[6] 劉軍, 李智. 基于單片機(jī)的高精度電容電感測(cè)量?jī)x[J].國(guó)外電子測(cè)量技術(shù),2007,26(6): 4851.[7] A l Dutche r. 使用少量元件的廉價(jià)易用電感測(cè)試儀[ J].電子設(shè)計(jì)技術(shù), 2007(7): 108 111.[8] 陳江華, 楊霓清, 梁村梅. 一種實(shí)用的電容、電感和電阻自動(dòng)測(cè)量?jī)x[ J]. 計(jì)量與測(cè)試技術(shù),2002,29(1):2126.[9] 第6期[10] 王恩貴. 第10期.[11] 李華等．MCS51單片機(jī)實(shí)用接口技術(shù)[M]．北京航空航天大學(xué)出版社．[12] ：人民郵電出版社，2002.[13] 、電容、.[14] 劉新如何正確使用LRC測(cè)試儀測(cè)量電子元件[J].計(jì)量與測(cè)試技術(shù),2006,33(5):24.[15] [M]．西安：西安電子科技大學(xué)出版社，1997．[16] 陳尚松,雷加,[M].北京:電子工業(yè)出版社,2005.[17] [J].現(xiàn)代電子技術(shù),2007,1(11):138140.[18] LCR MeterOperation Manual[Z].Japan:．[19] A HighAccuracy Automated Resistance Bridge for Measuring Quantum Hall Year:1985,Page(s):320322.[20] Automated voltage/current technique for costeffective impedance measurement [J]. amp。 POWER MARCH 1985.
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