【導(dǎo)讀】隨著集成電路工藝的發(fā)展,CMOS電路由于其低成本、低功耗以及速度的不斷提高,在集成電路中獲得越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。CMOS運(yùn)算放大器也因其獨(dú)特的性能優(yōu)勢(shì)常被用。因此,有必要對(duì)用CMOS運(yùn)算放大器進(jìn)行深入的學(xué)習(xí)和研究。本論文主要對(duì)兩級(jí)CMOS運(yùn)算放大器進(jìn)行了前端設(shè)計(jì)及仿真。論文在介紹仿真環(huán)境OrCAD的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及其工作性能的基礎(chǔ)上,對(duì)。仿真結(jié)果分析表明所設(shè)計(jì)的電路符合預(yù)期的設(shè)計(jì)要求和設(shè)計(jì)指標(biāo),也驗(yàn)。證了設(shè)計(jì)的兩級(jí)CMOS運(yùn)算放大器的可靠性和可行性。