【正文】 , 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少 4Hrs, 再將待測(cè)品做 HIPOT 測(cè)試 , 記錄測(cè)試結(jié)果 , 之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀 , 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 . 26. LOW TEMP. STARTING UP TEST / 低溫啟動(dòng)測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) . 的整機(jī)電氣的影響 , 用以考量 . 電氣及零件選用的合理性 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 三 . 測(cè)試條件 : 儲(chǔ)存低溫條件 : 通常為操作溫度 0℃ 條件下降低到 10 177。 2℃ , 儲(chǔ)存時(shí)間至少 4Hrs. 四、 測(cè)試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 依規(guī)格設(shè)定其溫度 ,然后啟動(dòng)溫控室 . (3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少 4Hrs, 然后分別在 115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各 20 次 , 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降 10度 . 27. TEMPERATURE CYCLING TEST / 溫度循環(huán)測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試針對(duì) . 所有組成零件的加速性測(cè)試 , 用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問(wèn)題 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 三 . 測(cè)試條件 : 操作溫度條件 : 通常為低溫度 40 ℃ 、 25℃ 、 33℃ 和高溫度 66 ℃ (濕度 : 5090%), 試驗(yàn)至少 24個(gè)循環(huán) . 四、 測(cè)試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 以無(wú)包裝 ,非操作狀態(tài)下 . (3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?66177。 2 ℃ 保持 1小時(shí) , 33177。 2 ℃ 和濕度 90177。 2%保持 1小時(shí) , 40177。 2 ℃ 保持 1小時(shí) , 25177。 2 ℃ 和濕度 50177。 2%保持 30分鐘 ,為一個(gè)循環(huán) . (4). 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī) , 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形 , 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過(guò)程 , (5). 試驗(yàn)完成后 , 溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出 , 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認(rèn)外觀 , 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 . 28. THERMAL SHOCK TEST / 冷熱沖擊測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試高 , 低溫度沖擊對(duì) . 的影響 ,用來(lái)揭露各組成元件的弱點(diǎn) . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 三 . 測(cè)試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 儲(chǔ)存最高 (70℃ ), 低溫度 (30℃ ), 測(cè)試共 10 個(gè)循環(huán) , 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 2min。 (2). 依客戶所提供的試驗(yàn)條件 . 四、 測(cè)試方法 : (1). 在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫 25 ℃ 向低溫通常為 30 ℃ 轉(zhuǎn)變 ,并低溫烘烤 1Hr. (2). 溫控室由低溫 30 ℃ 向高溫通常為 70 ℃ 轉(zhuǎn)變 ,轉(zhuǎn)變時(shí)間為 2min., 并高溫烘烤 1Hr. (3). 在高溫 70 ℃ 和低溫 30 ℃ 之間循環(huán) 10 個(gè)周期后 , 溫度回到常溫將 . 取出 (至少恢復(fù) 4小時(shí) ). (4). 確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測(cè)試前的差異 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 . (3). 產(chǎn)品為非操作條件 . 29. HI POT TEST / 絕緣耐壓測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試 . 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下 , 是否產(chǎn)生電弧 ARCING, 其 CUT OFF CURRENT 是否滿 足 SPEC. 要求 , 及是否會(huì)對(duì) . 造成損傷 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 三 . 測(cè)試條件 : 依 SPEC. 要求 : 耐壓值 (4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間 (1 minute)和 CUT OFF CURRENT() 值 。 四、 測(cè)試方法 : (1). 依 SPEC. 設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間 TIME, CUT OFF CURRENT 值 . (2). 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接 , 進(jìn)行耐壓測(cè)試 , 觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING, 及漏電流 CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大 . (3). 耐壓測(cè)試后 , 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件 , 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好 . (2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求 . 30. UNIT DROP TEST / 跌落測(cè)試 一、目的 : 了解 . 由一定高度 , 不同面進(jìn)行跌落 DROP, 其結(jié)構(gòu) , 電氣等特性的變化狀況 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 三 . 測(cè)試條件 : 依 SPEC. 要求 : 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面 . 四、 測(cè)試方法 : (1). 所有待測(cè)品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒(méi)任何可見的損壞存在 . (2). 確定六個(gè)面 (小 大 )順序依次進(jìn)行跌落 . (3). 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng) (2) 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落 , 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn) , 記錄正常或異常結(jié)果 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 1000mm+10mm 是為滿足手捂式 ,拔插式 ,可攜帶式需求的設(shè)備測(cè)試 . (2). 跌落條件可參考安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求 . 待測(cè)品 剛硬的水平表面 31. INSULATION RESISTANCE TEST / 絕緣阻抗測(cè)試 一、目的 : 測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 三 . 測(cè)試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 施加 500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高于 10MOhm(常規(guī)定義 ). 四、 測(cè)試方法 : (1). 確認(rèn)好電氣性能后 , 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓 (500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間 (1 Minute). (2). 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接 , 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試 . (3). 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試 . (4). 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于 10MOhm. 五、注意事項(xiàng) : (1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義 . 32. RATED VOLTAGE OUTPUT CURRENT TEST / 額定電壓輸出電流測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試 . 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí) , 其輸出電流值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 三 . 測(cè)試條件 : 四、 測(cè)試方法 : (1). 固定輸入電壓與頻率 ,依條件設(shè)定 CV 模式下的輸出電壓 . (2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值 . (3). 切換輸入電壓與頻率 ,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值 . (4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值 . 五、注意事項(xiàng) : 記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定 . Thank you 謝 謝 ！