【正文】 注： 只有過程受控，才可直接用 δ 的估計值來評價過程能力。 P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分?jǐn)?shù)。 、頻率和數(shù)量 子組容量：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個 不合格品。 分組頻率：根據(jù)實際情況 ,兼大容量和信息反饋快的要求 . 子組數(shù)量：收集的時間足夠長 ,使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 一般為 25組 。 （ P） P=np /n ◆ n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍 。 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。 “ 備注 ” 部分記錄過程的變化和可能影響過程的異 常情況 。 （ P） P=（ n1p1+n2p2+… +nkpk） / (n1+n2+… +nk) ◆ 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗總數(shù) （ USL； LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為 恒定的 樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之變化 。 在實際運用中 ， 當(dāng)各組容量不超過其平均容量 25%時 ， ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計算控制限 USL； LSL。 方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 25%的樣本容量范圍。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P 177。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 3 p ( 1 – p ) / n 過程平均 （ P） 為水平實線 ， 控制限 （ USL； LSL） 為虛線 。 (初始研究時 ， 這些被認(rèn)為是試驗控制限 。 ） ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ： ，找出不穩(wěn)定的証據(jù)（一個受控的 P管制圖中， 落在均值兩側(cè)的點的數(shù)量將幾乎相等）。 ： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）。 過程惡化。 ，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。 ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 （ 7點） ,通常表明存在下列情 況之一或兩者。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 ： 過程性能已改進(jìn) 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格品率降 低的標(biāo)志 . ：明顯的趨勢；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī) 律的關(guān)系等 。 ◆ ，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25子組， 如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法被分層，每個子組包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 線的混合的輸出）。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25子組， 如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列情況的一種 或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同平均性能的過程流的測量 ◆ 當(dāng)有任何變差時，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。并在備 注欄中詳細(xì)記錄。 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點直接表明不符合顧客要求的 不合格品的百分?jǐn)?shù)和比值，這就是對能力的定義 ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 np 圖 。 。 （基本和 p 圖相同） ，樣本容量足夠大使每個子組內(nèi)都有 幾個不良品并在。 。 （ np） np = (np1+np2+… +npk) / k 式中的 np1,np2, … 為 K個子組中每個子組的不合格數(shù) ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 13231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 1324 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 ◆ （缺陷）數(shù)的 c 圖 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以 下兩類檢驗： （如：每條尼龍上的瑕疵， 玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合 格的平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 。 （零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 （ C）。 （ C）： C = (C1+C2+… +Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) U/LSLc= C177。3 C （同 P管制圖） 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 C. ◆ （缺陷）數(shù)的 u圖 u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . ，盡量使它的容量在其平 均值的正負(fù)擔(dān)過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 . （ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 C和 n 都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 1343 計算控制限 ◆ u=(C1+C2+… +Ck) / (n1+n2+… +nk) 式中 : C1， C2及 n1,n2等為 K個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)及樣 本容量 . U/LSLu = u 177。 3 u / n 式中： n 為平均樣本容量。 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負(fù) 25%，按下式重新計算其準(zhǔn)確的控制限： ◆ U/LSLu = u 177。 3 u / n （同 P管制圖） u ◆ 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT