【正文】 波損耗?；夭〒p耗是由于鏈路阻抗不匹配造成的信號(hào)反射。產(chǎn)生的原因：跳線特性阻抗不是 100?；線纜線對(duì)的絞結(jié)被破壞或是有紐絞；連接器不良；線纜和連接器阻抗不恒定；鏈路上線纜和連接器非同一廠家產(chǎn)品；線纜不是 100? 的（例如使用了 120 ? 線纜）等。知道了回波損耗產(chǎn)生的原因是由于阻抗變化引起的信號(hào)反射，就可以利用針對(duì)這類故障的 HDTDR技術(shù)進(jìn)行精確定位了。 光纖鏈路測(cè)試u最新的光纖標(biāo)準(zhǔn) TIA TSB140已于 2023年 2月批準(zhǔn)，它對(duì)光纖定義了兩個(gè)級(jí)別（ Tier 1和 Tier 2）的測(cè)試。 1） Tier 1n 等級(jí) 1測(cè)試光纜的衰減（插入損耗）、長(zhǎng)度以及極性。進(jìn)行等級(jí) 1測(cè)試時(shí)，要使用光纜損耗測(cè)試設(shè)備（ OLTS）如光功率計(jì)測(cè)量每條光纜鏈路的衰減，通過光學(xué)測(cè)量或借助電纜護(hù)套標(biāo)記計(jì)算出光纜長(zhǎng)度，使用 OLTS或可見光源例如故障定位器（ VFL）驗(yàn)證光纜極性。2） Tier 2 n 等級(jí)二測(cè)試包括等級(jí)一的測(cè)試參數(shù)，還包括對(duì)每條光纜鏈路的 OTDR追蹤 ,進(jìn)行故障定位 .n 等級(jí) 2測(cè)試需要使用光時(shí)域反射計(jì) OTDR . 光功率計(jì)測(cè)衰減u 引起光纖鏈路損耗的原因主要有：n 材料原因。光纖純度不夠和材料密度的變化太大。n 光纜的彎曲程度。包括安裝彎曲和產(chǎn)品制造彎曲問題，光纜對(duì)彎曲非常敏感。n 光纜接合以及連接的耦合損耗。這主要由截面不匹配、間隙損耗、軸心不匹配和角度不匹配造成n 不潔或連接質(zhì)量不良。低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接，灰塵阻礙光傳輸，手指的油污影響光傳輸，不潔凈光纜連接器可擴(kuò)散至其它連接器。u 對(duì)已敷設(shè)的光纜，可用插損法來進(jìn)行衰減測(cè)試，即用一個(gè)功率計(jì)和一個(gè)光源來測(cè)量?jī)蓚€(gè)功率的差值。第一個(gè)是從光源注入到光纜的能量，第二個(gè)是從光纜段的另一端的射出的能量。測(cè)量時(shí)為確定光纖的注入功率，必須對(duì)光源和功率計(jì)進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后的結(jié)果可為所有被測(cè)光纜的光功率損耗測(cè)試提供一個(gè)基點(diǎn)，兩個(gè)功率的差值就是每個(gè)光纖鏈路的損耗。 光功率計(jì)測(cè)衰減1光纖衰減測(cè)試準(zhǔn)備工作1）確定要測(cè)試的光纜；2）確定要測(cè)試光纖的類型；3）確定光功率計(jì)和光源與要測(cè)試的光纜類型匹配；4）校準(zhǔn)光功率計(jì)；5）確定光功率計(jì)和光源處于同一波長(zhǎng)。2 測(cè)試設(shè)備 n 包括光功率計(jì)，光源，參照適配器（耦合器），測(cè)試用光纜跳線等。 光功率計(jì)測(cè)衰減3 光功率計(jì)校準(zhǔn)n 校準(zhǔn)光功率計(jì)的目的是確定進(jìn)入光纖段的光功率大小，校準(zhǔn)光功率計(jì)時(shí)，用兩個(gè)測(cè)試用光纜跳線把功率計(jì)和光源連接起來，用參照適配器把測(cè)試用光纜跳線兩端連接起來。4 光纖鏈路的測(cè)試n 測(cè)試光纖鏈路的目的是要了解光信號(hào)在光纖路徑上傳輸衰減，該衰減與光纖鏈路的長(zhǎng)度、傳導(dǎo)特性、連接器的數(shù)目、接頭的多少有關(guān)。（ 1）測(cè)試按下圖所示進(jìn)行連接。（ 2）測(cè)試連接前應(yīng)對(duì)光連接的插頭、插座進(jìn)行清潔處理，防止由于接頭不干凈帶來附加損耗，造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。向主機(jī)輸入測(cè)量損耗標(biāo)準(zhǔn)值。（ 4）操作測(cè)試儀，在所選擇的波長(zhǎng)上分別進(jìn)行兩個(gè)方向的光傳輸衰耗測(cè)試。（ 5）報(bào)告在不同波長(zhǎng)下不同方向的鏈路衰減測(cè)試結(jié)果。 “ 通過 ” 與 “失敗 ” 。（ 6）單模光纖鏈路的測(cè)試同樣可以參考上述過程進(jìn)行，但光功率計(jì)和光源模塊應(yīng)當(dāng)換為單模的。 光功率計(jì)測(cè)衰減1 綜合布線標(biāo)準(zhǔn)對(duì)衰減的要求n ANSI/TIA/EIA GB503122023對(duì)光纖信道的衰減值作了具體要求。光纖鏈路包括光纖、連接器件和熔接點(diǎn)，其中光連接器件可以為工作區(qū) TO、電信間 FD、設(shè)備間 BD、 CD的SC、 ST、 SFF小型光纖連接器件連接器件。光纜可以為水平光纜、建筑物主干光纜和建筑群主干光纜。n 衰減計(jì)算公式216。光纖鏈路損耗 =光纖損耗 +連接器件損耗 +光纖連接點(diǎn)損耗 216。光纖損耗 =光纖損耗系數(shù) (dB／ km) 光纖長(zhǎng)度 (km) 216。連接器件損耗 =連接器件損耗／個(gè) 連接器件個(gè)數(shù) 216。光纖連接點(diǎn)損耗 =光纖連接點(diǎn)損耗／個(gè) 光纖連接點(diǎn)個(gè)數(shù) 光纖鏈路損耗參考值種類工作波長(zhǎng) (nm) 衰減系數(shù) (dB／ km)多模光纖 850 多模光纖 1300 單模室外光纖 1310 單模室外光纖 1550 單模室內(nèi)光纖 1310 單模室內(nèi)光纖 1550 連接器件衰減 光纖連接點(diǎn)衰減 dB2 網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)對(duì)衰減的要求3， 布線標(biāo)準(zhǔn)和網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)的選擇u 在測(cè)試中往往存在用網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試合格，而用布線標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試不合格的情況 u 因此，在光纖通信鏈路測(cè)試中要使用 TIA/、ISO11801 2023等光纖鏈路布線標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，而不僅僅是網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)。 OTDR測(cè)試 u光功率計(jì)只能測(cè)試光功率損耗，如果要確定損耗的位置和損耗的起因，就要采用光時(shí)域反射計(jì)（ OTDR）uOTDR測(cè)試 是通 過發(fā) 射光脈沖到光 纖 內(nèi)，然后在 OTDR端口接收返回的信息來 進(jìn) 行 u當(dāng)光脈沖在光 纖 內(nèi) 傳輸時(shí) ，會(huì)由于光 纖 本身的性 質(zhì) 、 連接器、接合點(diǎn)、彎曲或其它 類 似的事件而 產(chǎn) 生散射、反射。其中一部分的散射和反射就會(huì)返回到 OTDR中 . OTDR測(cè)試 u返回的有用信息由 OTDR的探 測(cè) 器來 測(cè) 量，它 們 就作 為 光纖 內(nèi)不同位置上的 時(shí)間 或曲 線 片斷 u這樣 OTDR將光 纖鏈 路的完好情況和故障狀 態(tài) ，以一定斜率直 線 （曲 線 ）的形式清晰的 顯 示在幾英寸的液晶屏上 u根據(jù)事件表的數(shù)據(jù)，能迅速的 查 找確定故障點(diǎn)的位置和判斷障礙的性 質(zhì) 及 類別 ， 對(duì) 分析光 纖 的主要特性參數(shù)能提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。 OTDR測(cè)試 uOTDR可 測(cè)試 的主要參數(shù)有：⑴ 測(cè)纖長(zhǎng) 和事件點(diǎn)的位置；⑵ 測(cè) 光 纖 的衰減和衰減分布情況；⑶ 測(cè) 光 纖 的接 頭損 耗；⑷ 光 纖 全回 損 的 測(cè) 量。 小結(jié)u正確認(rèn)識(shí)驗(yàn)證測(cè)試和認(rèn)證測(cè)試。u正確理解基本鏈路、永久鏈路和信道的概念及它們的關(guān)系。u了解測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。u熟悉雙絞線和光纖測(cè)試的性能指標(biāo)。u熟悉雙絞線鏈路故障類型u了解光纖 OTDR測(cè)試的方法。u能熟練使用驗(yàn)證測(cè)試儀表和認(rèn)證測(cè)試儀表測(cè)雙絞線鏈路。u會(huì)用 HDTDX和 HDTDR分析 NEXT和 RL故障。u會(huì)用光功率計(jì)等儀表測(cè)光纖衰減。 謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH