【正文】 大學(xué)出版社 表 多芯雙絞線纜線衰減值表 測(cè)試頻率 / M H z 衰減值 0 . 512 5 .6 1 .0 7 .6 4 .0 1 5 .4 8 .0 2 2 .3 10 25 16 32 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 3. 近端串?dāng)_ (NEXT)測(cè)試 NEXT損耗是測(cè)量一條 UTP鏈路中從一對(duì)線到另一對(duì)線的信號(hào)耦合 ， 是 UTP鏈路的一個(gè)關(guān)鍵的性能指標(biāo) 。 串?dāng)_分近端串?dāng)_與遠(yuǎn)端串?dāng)_ (FEXT)，由于線路損耗 FEXT的量值影響較小，因此測(cè)試儀主要是測(cè)量 NEXT。 NEXT并不表示在近端點(diǎn)產(chǎn)生的串?dāng)_值，它只表示在近端點(diǎn)所測(cè)量的串?dāng)_數(shù)值。這個(gè)量值會(huì)隨電纜長(zhǎng)度的變化而變化，同時(shí)發(fā)送端的信號(hào)也會(huì)衰減，對(duì)其他線對(duì)的串?dāng)_值也相對(duì)變小。實(shí)驗(yàn)證明，在 40 m內(nèi)測(cè)量得到的 NEXT值是較為真實(shí)的，如果 40 m外的另一端是信息插座，它會(huì)產(chǎn)生一定程度的串?dāng)_，但測(cè)試儀可能無(wú)法測(cè)量到這一串?dāng)_值。基于這個(gè)原因，對(duì) NEXT的測(cè)量最好在兩端都進(jìn)行?，F(xiàn)在的測(cè)試儀能夠在一端同時(shí)進(jìn)行兩端的 NEXT的測(cè)量。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 在一條典型的 4對(duì) UTP鏈路上測(cè)試 NEXT值時(shí)，需要在每一對(duì)線之間測(cè)試，即 12/3 12/4 12/7 36/4 36/7 45/78。近端串?dāng)_本身對(duì)終接點(diǎn) (跳線架、信息插座 )處的非雙絞金屬介質(zhì)材料敏感，同時(shí)，對(duì)粗劣的安裝也非常敏感，例如，在終接點(diǎn)處的不絞的線長(zhǎng)度最多不能超過(guò) 13 mm(對(duì)五類線而言 )，或25 mm(對(duì)四類線而言 )等。因此，對(duì) NEXT的測(cè)試相當(dāng)重要。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 ? 測(cè)試對(duì)象：五類產(chǎn)品的聯(lián)合測(cè)試 。 ? 測(cè)試條件：五類線及相關(guān)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)從 1～ 100 MHz的測(cè)試 ， 測(cè)試溫度為 20～ 30℃ ；信息點(diǎn)到配線室距離不超過(guò) 90 m。 ? 測(cè)試結(jié)果：將顯示在儀器上 ， 一般是顯示通過(guò)或不通過(guò) ， 顯示的測(cè)試結(jié)果不應(yīng)超過(guò)表 。 (注意 ， 表中值為負(fù)數(shù) 。 ) 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 通常產(chǎn)生過(guò)量 NEXT ? 使用不是絞線的跳線； ? 沒(méi)有按規(guī)定壓接終端； ? 使用老式的 66接線塊； ? 使用非數(shù)據(jù)級(jí)的連接器； ? 使用語(yǔ)音級(jí)的電纜； ? 使用插座對(duì)插座的耦合器。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 對(duì)垂直子系統(tǒng)中的多芯雙絞線的測(cè)試，其滿足的 NEXT指標(biāo)如表 。 表 多芯雙絞線滿足的 NEXT指標(biāo)表 測(cè)試頻率 / M H z N E X T / dB 5 ≥ 28 .5 10 ≥ 24 .0 10 0 ≥ 21 .5 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 測(cè)試錯(cuò)誤的解決方法 1. 近端串?dāng)_未通過(guò) 近端串?dāng)_未通過(guò)的可能原因有： ? 近端連接點(diǎn)有問(wèn)題； ? 遠(yuǎn)端連接點(diǎn)短路； ? 串對(duì)； ? 外部噪聲； ? 鏈路線纜和接插件性能有問(wèn)題或不是同一類產(chǎn)品； ? 線纜的端接質(zhì)量有問(wèn)題。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 2. 衰減指標(biāo)未通過(guò) 衰減指標(biāo)未通過(guò)的可能原因有： ? 長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)； ? 溫度過(guò)高； ? 連接點(diǎn)有問(wèn)題； ? 鏈路線纜和接插件性能有問(wèn)題或不是同一類產(chǎn)品； ? 線纜的端接質(zhì)量有問(wèn)題。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 3. 接線圖未通過(guò) 接線圖未通過(guò)的可能原因有： ? 兩端的接頭斷路 、 短路 、 交叉 、 破裂開(kāi)路； ? 跨接錯(cuò)誤 (某些網(wǎng)絡(luò)需要發(fā)送端和接收端跨接，當(dāng)為這些網(wǎng)絡(luò)構(gòu)筑測(cè)試鏈路時(shí)，由于設(shè)備線路的跨接，測(cè)試接線圖會(huì)出現(xiàn)交叉 )。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 4. 長(zhǎng)度指標(biāo)未通過(guò) 長(zhǎng)度指標(biāo)未通過(guò)的可能原因有： ? ?NVP設(shè)置不正確 (可用已知的好線確定并重新校準(zhǔn) NVP)； ? 實(shí)際長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)； ? 開(kāi)路或短路； ? 設(shè)備連線及跨接線的總長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 5． 測(cè)試儀問(wèn)題 測(cè)試儀出現(xiàn)問(wèn)題的可能原因有： ? 測(cè)試儀不啟動(dòng) (可更換電池或充電 )； ? 測(cè)試儀不能工作或不能進(jìn)行遠(yuǎn)端校準(zhǔn) (應(yīng)確保兩臺(tái)測(cè)試儀都能啟動(dòng) ， 并有足夠的電池或更換測(cè)試線 )； ? 測(cè)試儀設(shè)置為不正確的電纜類型 (應(yīng)重新設(shè)置測(cè)試儀的參數(shù)、類別、阻抗及標(biāo)稱的傳輸速度 )； 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 ? 測(cè)試儀設(shè)置為不正確的鏈路結(jié)構(gòu) (按要求重新設(shè)置為基本鏈路或通路鏈路 )； ? 測(cè)試儀不能儲(chǔ)存自動(dòng)測(cè)試結(jié)果 (確認(rèn)所選的測(cè)試結(jié)果名字是惟一的 ， 或檢查可用內(nèi)存的容量 )； ? 測(cè)試儀不能打印儲(chǔ)存的自動(dòng)測(cè)試結(jié)果 (應(yīng)確定打印機(jī)和測(cè)試儀的接口參數(shù)，應(yīng)設(shè)置為相同，或確認(rèn)測(cè)試結(jié)果已被選為打印輸出 )； 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 大對(duì)數(shù)電纜測(cè)試 大對(duì)數(shù)電纜多用于綜合布線系統(tǒng)的語(yǔ)音主干線 ， 它比 4對(duì)線纜的雙絞線的使用要多得多 。 建議數(shù)據(jù)傳輸主干線不要采用它 。 測(cè)試時(shí) ， 例如 25對(duì)線纜 ， 一般有兩種測(cè)試方法： (1) 用 25對(duì)線測(cè)試儀測(cè)試 。 例如利用 TEXTALL25測(cè)試儀 ，可在無(wú)源電纜上完成測(cè)試任務(wù) 。 TEXTALL25能同時(shí)測(cè) 25對(duì)線的連續(xù)性 、 短路 、 開(kāi)路 、 交叉 、 有故障的終端 、 外來(lái)的電磁干擾和接地中出現(xiàn)的問(wèn)題 ， 是一個(gè)自動(dòng)化的測(cè)試系統(tǒng) 。 (2) 用雙絞線測(cè)試儀分組測(cè)試。大對(duì)數(shù)線的測(cè)試也可以用測(cè)試雙絞線的測(cè)試儀來(lái)分組測(cè)試，每 4對(duì)一組，當(dāng)測(cè)到第 25對(duì)時(shí)，向前錯(cuò)位 3對(duì)線。這種測(cè)試方法是較為常用的。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 光 纜 測(cè) 試 由于光纜系統(tǒng)的實(shí)施過(guò)程中涉及到光纜的鋪設(shè) 、 光纜的彎曲半徑 、 光纖的熔接 、 跳線 ， 更由于設(shè)計(jì)方法及物理布線結(jié)構(gòu)的不同 ， 導(dǎo)致兩網(wǎng)絡(luò)設(shè)備間的光纖路徑上光信號(hào)的傳輸衰減等指標(biāo)發(fā)生變化 。 在光纖傳輸通道的測(cè)試時(shí) ， 主要的測(cè)量參數(shù)如下： (1) 光纖的連續(xù)性。進(jìn)行連續(xù)性測(cè)量時(shí)，通常是把紅色激光、發(fā)光二極管或者其他可見(jiàn)光注入光纖，并在光纖的末端監(jiān)視光的輸出。如果在光纖中有斷裂或其他的不連續(xù)點(diǎn)，光纖輸出端的光功率就會(huì)減少或者根本沒(méi)有光輸出。光通過(guò)光纖傳輸后，功率的衰減大小也能表示出光纖的傳導(dǎo)性能。如果光纖的衰減太大，則系統(tǒng)也不能正常工作。光功率計(jì)和光源是進(jìn)行光纖傳輸特性測(cè)量的一般設(shè)備。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 (2) 光纖的衰減 。 光纖的衰減主要是由光纖本身的固有吸收和散射造成的 。 衰減系數(shù)應(yīng)在許多波長(zhǎng)上進(jìn)行測(cè)量 ， 因此選擇單色儀作為光源 ， 也可以用發(fā)光二極管作為多模光纖的測(cè)試源 。 (3) 光纖的帶寬。光纖的帶寬是光纖傳輸系統(tǒng)中的重要參數(shù)之一，帶寬越寬，信息傳輸速率就越高。在大多數(shù)的多模系統(tǒng)中，都采用發(fā)光二極管作為光源，光源本身也會(huì)影響帶寬。這是因?yàn)檫@些發(fā)光二極管光源的頻譜分布很寬，其中長(zhǎng)波長(zhǎng)的光比短波長(zhǎng)的光傳播速度要快。這種光傳播速度的差別就是色散，它會(huì)導(dǎo)致光脈沖在傳輸后被展寬。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定和設(shè)計(jì)方法 ， 應(yīng)充分保證任意兩段已終接好的光纜中的光纖連同跳線與連接線一起 ， 總的衰減應(yīng)在 10 dB(850 nm)或 9 dB(1300 nm)之內(nèi) 。 ? 測(cè)試條件：熔接后的光纜連同跳線的綜合測(cè)試；被測(cè)光纖規(guī)格為 。 ? 測(cè)試波長(zhǎng)： 1300 nm和 850 nm。 ? 測(cè)試結(jié)果：對(duì)任一端熔接好的光纖數(shù)據(jù)通路 ， 其衰減值限制如下： 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 對(duì)于波長(zhǎng) 1300 nm， 衰減值 ≤4 dB； 對(duì)于波長(zhǎng) 850 nm， 衰減值 ≤ dB。 這樣才能絕對(duì)保證任意兩段光纖連起來(lái)后總的衰減值小于 9 dB(1300 nm)或 10 dB(850 nm)。 在網(wǎng)絡(luò)布線設(shè)計(jì)中，應(yīng)遵循 EIA/TIA568A的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)，使用星型的物理拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，這樣，任意兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備連接時(shí)，其間光信號(hào)的傳輸衰減可絕對(duì)地限制在 FDDI或 FOIRL規(guī)定的范圍之內(nèi)。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 測(cè)試分析報(bào)告 文檔資料是布線工程驗(yàn)收的重要組成部分。完整的文檔包括電纜的標(biāo)號(hào)、信息插座的標(biāo)號(hào)、配線間水平電纜與垂直電纜的跳接關(guān)系、配線架與交換機(jī)端口的對(duì)應(yīng)關(guān)系。有條件時(shí)，應(yīng)建立電子文檔的形式 (參見(jiàn)本章綜合布線測(cè)試指南樣例 )，便于以后的維護(hù)管理。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 測(cè)試綜合布線系統(tǒng)時(shí)，要認(rèn)真詳細(xì)地記錄測(cè)試結(jié)果，故障、參數(shù)等都要一一記錄下來(lái)。測(cè)試完成后，參與測(cè)試的人員應(yīng)在上述記錄上簽字，以便于存檔、維護(hù)和驗(yàn)收。本著質(zhì)量過(guò)硬，信譽(yù)第一的原則，在第三方的驗(yàn)收測(cè)試工作之前，可先期派出工程質(zhì)量監(jiān)督小組進(jìn)行全面的測(cè)試。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 線纜測(cè)試完畢，施工方提供包含如下內(nèi)容的測(cè)試報(bào)告：測(cè)試組人員姓名，測(cè)試儀表型號(hào) (制造廠商、生產(chǎn)系列號(hào)碼 )，生產(chǎn)日期，光源波長(zhǎng) (僅對(duì)多模光纖系統(tǒng) )，光纖光纜的型號(hào)、廠商、終端 (尾端 )地點(diǎn)名、測(cè)試方向、相關(guān)功率測(cè)試得出的網(wǎng)段光衰減值 (Attenuation)、合格值的大小等。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 綜合布線測(cè)試指南 (樣例 ) 測(cè)試負(fù)責(zé)人和工程負(fù)責(zé)人應(yīng)完成本文檔所有下列任務(wù)才能完成此工程的測(cè)試 ， 每完成一項(xiàng)在括號(hào)中打勾 。 1. 工程名稱： 工程負(fù)責(zé)人： 2. 測(cè)試儀： 品牌： 型號(hào)： 主機(jī)序列號(hào)： 遠(yuǎn)端序列號(hào)： 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 3. 測(cè)試人： 持主機(jī)者： 持遠(yuǎn)端者： 排除故障者： 測(cè)試時(shí)間： 年 月 日 月 日 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 4. 文檔準(zhǔn)備： ( ) 配線架標(biāo)簽已貼好 。 ( ) 插座標(biāo)簽已打印好 。 ( ) 配線架端測(cè)試者持的記錄表格已準(zhǔn)備好 。 (表頭： “ 信息點(diǎn)編號(hào) ” 、 “ 測(cè)試結(jié)果 ” 、 “ 存儲(chǔ)名稱 ” 、 “ 故障記錄 ” 。 ) ( ) 插座端測(cè)試者持的“布線系統(tǒng)平面圖”已準(zhǔn)備好。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 5. 測(cè)試儀準(zhǔn)備： ( ) 測(cè)試儀充電完畢 。 ( ) 對(duì)講機(jī)充電完畢 。 ( ) 測(cè)試儀設(shè)置 NVP完畢 。 ( ) 檢查測(cè)試儀設(shè)置：日期 、 時(shí)間 、 公司名稱全部正確 。 ( ) Setup長(zhǎng)度單位 =“米 ” 。 ( ) Setup測(cè)試環(huán)境溫度已設(shè)為當(dāng)時(shí)的溫度 。 ( ) Setup“屏蔽層測(cè)試與否 (Enable/Disable Shield Test )”已設(shè)置好。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 ( ) Setup測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) (五類 Basic Link或 Channel )和電纜類型(UTP或 ScTP)。 ( ) 測(cè)試連線已準(zhǔn)備好 (兩條雙端 RJ45插頭的連線和一條110P4RJ45的連線 )。 ( ) 測(cè)試儀已騰出足夠的存儲(chǔ)空間并且原有測(cè)試記錄都已傳入計(jì)算機(jī)。 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 6. 人員準(zhǔn)備： ( ) 持主機(jī)者清楚如何使用測(cè)試儀主機(jī) 。 ( ) 持主機(jī)者已和工程負(fù)責(zé)人約定好測(cè)試記錄的存儲(chǔ)名稱 (成功的和失敗的記錄都要約定好存儲(chǔ)名 )。 ( ) 持遠(yuǎn)端者清楚如何使用測(cè)試儀遠(yuǎn)端 。 ( ) 持主機(jī)者同意完成下列工作： 第 8章 綜合布線系統(tǒng)的測(cè)試方案 西安電子科技大學(xué)出版社 ? 對(duì)“測(cè)試記錄表”中每一信息點(diǎn)逐一測(cè)試并存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果。 ? 仔細(xì)填寫 “ 測(cè)試記錄表 ” ， 對(duì)于測(cè)試結(jié)果 FAIL的信息點(diǎn)詳細(xì)記錄故障描述 。